[發(fā)明專利]一種積分半球裝置及其應(yīng)用在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210867210.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-07-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115077875A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何秀芳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門行者科創(chuàng)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02;G01N21/01;G01N21/25;G01N21/84 |
| 代理公司: | 北京元周律知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11540 | 代理人: | 孫小萬(wàn) |
| 地址: | 361026 福建省廈門市中國(guó)(福建)自由*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 積分 半球 裝置 及其 應(yīng)用 | ||
1.一種積分半球裝置,其特征在于,
所述積分半球裝置包括沿光路方向設(shè)置的積分半球體、激發(fā)光入射模塊、發(fā)射光出射模塊;
所述積分半球體包括外殼、樣品罩、具有半球型腔體的殼體,所述殼體的腔體底部中心處設(shè)有圓孔,所述樣品罩安裝在所述圓孔處,所述外殼安裝在所述殼體的外側(cè);所述殼體上還設(shè)有通孔I-1、通孔II-1、通孔III-1;所述外殼設(shè)有與所述通孔I-1、通孔II-1、通孔III-1位置相對(duì)應(yīng)的通孔I-2、通孔II-2、通孔III-2;所述通孔I-1與通孔I-2連通,所述通孔II-1與所述通孔II-2連通;所述通孔III-1與所述通孔III-2連通;
所述激發(fā)光入射模塊包括進(jìn)光孔和可旋轉(zhuǎn)的第一反射鏡;所述進(jìn)光孔與所述通孔I-2、通孔I-1連通,形成光路I,所述第一反射鏡安裝于所述半球型腔體內(nèi),所述第一反射鏡與所述進(jìn)光孔成45°斜向安裝;
所述發(fā)射光出射模塊包括出光孔I、出光孔II和可伸縮轉(zhuǎn)動(dòng)的第二反射鏡,所述出光孔I與所述通孔II-2、通孔II-1連通,形成光路II,所述光路II與所述光路I垂直,所述出光孔II與所述通孔III-2、通孔III-1連通;所述第二反射鏡安裝于所述半球型腔體內(nèi),位于所述進(jìn)光孔相對(duì)的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的積分半球裝置,其特征在于,
所述激發(fā)光入射模塊還包括第一旋轉(zhuǎn)電機(jī);所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)安裝于所述外殼的頂部、靠近所述進(jìn)光孔側(cè);
所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸伸入所述半球型腔體內(nèi),所述旋轉(zhuǎn)軸的自由端安裝有所述第一反射鏡。
3.根據(jù)權(quán)利要1所述的積分半球裝置,其特征在于,
所述發(fā)射光出射模塊還包括第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)、主動(dòng)齒輪、從動(dòng)齒輪、推拉電機(jī);
所述第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)安裝于所述外殼上;
所述第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上安裝有所述主動(dòng)齒輪,所述主動(dòng)齒輪與所述從動(dòng)齒輪嚙合,所述從動(dòng)齒輪與所述推拉電機(jī)固定連接;
所述第二反射鏡的背面與聚四氟乙烯板貼合固定;
所述推拉電機(jī)的推拉軸伸入所述半球型腔體內(nèi),所述推拉軸的自由端安裝有所述聚四氟乙烯板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的積分半球裝置,其特征在于,
所述通孔I-1、通孔II-1均開(kāi)設(shè)在所述殼體的側(cè)壁上;
所述通孔III-1開(kāi)設(shè)在所述殼體的頂部、所述圓孔的垂直上方處;
優(yōu)選地,所述積分半球裝置還包括用于封閉出光孔I和/或出光孔II的封閉孔塞。
5.一種發(fā)光特性測(cè)量裝置,其特征在于,
所述發(fā)光特性測(cè)量裝置包括所述積分半球裝置、光源和光譜系統(tǒng);
所述光源用于發(fā)射激發(fā)光束通過(guò)所述進(jìn)光孔進(jìn)入所述半球型腔體內(nèi);
所述光譜系統(tǒng)用于接收從所述出光孔I出射的激發(fā)光;
其中,所述積分半球裝置選自權(quán)利要求1~4任一項(xiàng)所述的積分半球裝置。
6.一種發(fā)光材料光譜測(cè)試的方法,其特征在于,
所述方法采用權(quán)利要求5所述的發(fā)光特性測(cè)量裝置;
所述方法包括:
(1)將所述待測(cè)發(fā)光材料試樣置于所述樣品罩中;
(2)通過(guò)所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)旋轉(zhuǎn)所述第一反射鏡,使所述第一反射鏡的反射面正對(duì)所述進(jìn)光孔;
(3)通過(guò)所述推拉電機(jī)將所述第二反射鏡推至所述樣品罩的上方;通過(guò)所述第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸帶動(dòng)所述主動(dòng)齒輪旋轉(zhuǎn),所述從動(dòng)齒輪和所述推拉電機(jī)被所述主動(dòng)齒輪帶動(dòng)旋轉(zhuǎn),使所述第二反射鏡的反射面與所述出光孔I中心線成45°所述反射面朝下;
(4)所述光源發(fā)射激發(fā)光束,所述激發(fā)光束通過(guò)所述進(jìn)光孔進(jìn)入所述半球型腔體內(nèi),經(jīng)所述第一反射鏡反射,透過(guò)所述樣品罩照射所述待測(cè)發(fā)光材料試樣,所述待測(cè)發(fā)光材料試樣受激發(fā)發(fā)射的激發(fā)光被所述第二反射鏡反射,通過(guò)所述出光孔I出射;
(5)所述光譜系統(tǒng)接收從所述出光孔I出射的激發(fā)光,進(jìn)行所述待測(cè)發(fā)光材料試樣的光譜測(cè)試。
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