[發明專利]一種背光間隙測量裝置及方法

在審

• 申請號: 202210865196.5
• 申請日: 2022-07-21
• 公開（公告）號: CN115283277A
• 公開（公告）日: 2022-11-04
• 發明（設計）人: 張瑞華;許福生
• 申請（專利權）人: 江西合力泰科技有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/04;B07C5/36;B07C5/38;G01B21/16
• 代理公司: 寧波甬致專利代理有限公司 33228
• 代理人: 袁波

1.一種背光間隙測量方法，其特征在于，包括步驟：

S1：預設測試位置點以及膜片與膠框間隙的設定值；

S2：輸入控制參數對預設測試位置點內的遮光膠橫向和縱向的多余區域以及多個邊角橫向和縱向方向的多余區域進行預裁剪處理；

S3：將待測量的產品放入載物機臺，并通過固定裝置固定在載物機臺上；

S4：測量結束根據間隙的設定值判斷經裁剪的產品間隙是否滿足要求，將不滿足的產品放入對應收料吸塑或收料倉中；

S5：將預設測試位置點的測量數據輸出上傳至工控機。

2.根據權利要求1所述的背光間隙測量方法，其特征在于，所述步驟S2中預裁剪處理包括：上增光膜與膠框的間隙處理、下增光膜與膠框的間隙處理和擴散膜與膠框的間隙處理。

3.根據權利要求2所述的背光間隙測量方法，其特征在于，所述上增光膜與膠框的間隙處理包括步驟：

S21:根據輸入的控制參數裁剪去掉遮光膠橫向和縱向的多余區域，漏出上增光膜與膠框的間隙；

S22：基于步驟S21對剩余的測試位置中上增光膜與膠框的間隙進行裁剪處理。

4.根據權利要求3所述的背光間隙測量方法，其特征在于，所述下增光膜與膠框的間隙處理包括步驟：

S23:根據輸入的控制參數裁剪去掉上增光膜橫向和縱向的多余區域，漏出下增光膜與膠框的間隙；

S24：基于步驟S23對剩余的測試位置中下增光膜與膠框的間隙進行裁剪處理。

5.根據權利要求4所述的背光間隙測量方法，其特征在于，所述上增光膜與膠框的間隙處理包括步驟：

S25:根據輸入的控制參數裁剪去掉下增光膜橫向和縱向的多余區域，漏出擴散膜與膠框的間隙；

S26：基于步驟S25對剩余的測試位置中擴散膜與膠框的間隙進行裁剪處理。

6.一種背光間隙測量裝置，其特征在于，包括：

設定單元：用于設定預設測試位置點和膜片與膠框間隙的設定值；

裁剪單元：用于輸入控制參數對預設測試位置點內的遮光膠橫向和縱向的多余區域以及多個邊角橫向和縱向方向的多余區域進行預裁剪處理；

產品定位單元：用于將待測量的產品放入載物機臺，并通過固定裝置固定在載物機臺上；

判斷單元：在測量結束后用于根據間隙的設定值判斷經裁剪的產品間隙是否滿足要求，將不滿足的產品放入對應收料吸塑或收料倉中；

數據傳輸單元：用于將預設測試位置點的測量數據輸出上傳至工控機。

7.根據權利要求6所述的背光間隙測量裝置，其特征在于，所述預裁剪處理包括：上增光膜與膠框的間隙處理、下增光膜與膠框的間隙處理和擴散膜與膠框的間隙處理。

8.根據權利要求7所述的背光間隙測量裝置，其特征在于，所述上增光膜與膠框的間隙處理包括：

第一裁剪子單元:用于根據輸入的控制參數裁剪去掉遮光膠橫向和縱向的多余區域，漏出上增光膜與膠框的間隙；

基于第一裁剪子單元的裁剪方式對剩余的測試位置中上增光膜與膠框的間隙進行裁剪處理。

9.根據權利要求8所述的背光間隙測量裝置，其特征在于，所述下增光膜與膠框的間隙處理包括：

第二裁剪子單元:用于根據輸入的控制參數裁剪去掉上增光膜橫向和縱向的多余區域，漏出下增光膜與膠框的間隙；

基于第二裁剪子單元的裁剪方式對剩余的測試位置中下增光膜與膠框的間隙進行裁剪處理。

10.根據權利要求9所述的背光間隙測量裝置，其特征在于，所述上增光膜與膠框的間隙處理包括：

第三裁剪子單元:用于根據輸入的控制參數裁剪去掉下增光膜橫向和縱向的多余區域，漏出擴散膜與膠框的間隙；

基于第三裁剪子單元的裁剪方式對剩余的測試位置中擴散膜與膠框的間隙進行裁剪處理。