[發(fā)明專利]一種微米In與納米Cu@Ag核殼混合材料互連工藝在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210853994.6 | 申請日: | 2022-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN115410934A | 公開(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉威;高陽;溫志成;王春青;張鑫月;易慶鴻;冉興旺 | 申請(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;H01L21/603;H01L21/48;H01L23/488;B82Y30/00 |
| 代理公司: | 哈爾濱龍科專利代理有限公司 23206 | 代理人: | 李智慧 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 微米 in 納米 cu ag 混合 材料 互連 工藝 | ||
本發(fā)明公開了一種微米In與納米Cu@Ag核殼混合材料互連工藝,所述工藝包括如下步驟:步驟一:微米In與納米Cu@Ag核殼混合焊膏的制備;步驟二:基板的處理;步驟三:焊膏的涂覆/印刷;步驟四:熱壓/電磁感應(yīng)燒結(jié)。微米In與納米Cu@Ag核殼能夠相互配合,充分利用空間,降低孔隙率,能夠大幅度地降低原材料的成本,在產(chǎn)業(yè)化大批量生產(chǎn)中發(fā)揮巨大優(yōu)勢。本發(fā)明可實現(xiàn)低溫連接高溫服役,不僅降低了互連溫度和互連條件,還可有效的減少形成接頭中的孔隙和孔洞,可在低溫?zé)o壓條件下將芯片與基板互連,完成半導(dǎo)體器件的連接封裝,能夠較好的應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的制造和微電子封裝、電力電子封裝等領(lǐng)域。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電子封裝微互連技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種用于低溫連接、高溫服役的微米In與納米Cu@Ag核殼混合材料互連工藝。
背景技術(shù)
隨著碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代功率半導(dǎo)體器件的快速發(fā)展,其使用溫度可高達250℃到300℃,傳統(tǒng)的芯片貼裝互連材料很難滿足其高溫工作的條件,急需尋找新的替代材料。而金屬納米材料由于自身的尺寸效應(yīng),金屬納米顆粒的熔點隨著納米顆粒尺寸的減小而降低,從而能夠在遠低于塊體熔點的溫度下燒結(jié)成型。同時,納米材料經(jīng)燒結(jié)后又能在較高溫度下長期穩(wěn)定工作,很好地滿足了“低溫?zé)Y(jié),高溫服役”的需求,是理想的芯片互連材料。納米Ag的燒結(jié)溫度低,服役溫度高,且具有優(yōu)良的導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性、較強的抗腐蝕性和抗氧化性,但其電遷移和化學(xué)遷移現(xiàn)象嚴(yán)重,易導(dǎo)致電路發(fā)生短路失效,這會嚴(yán)重影響產(chǎn)品的可靠性。納米Cu極易氧化,生成的氧化物會提高燒結(jié)的溫度,也會影響焊點的導(dǎo)電導(dǎo)熱性。
為解決以上問題,有研究者制備出納米Cu@Ag核殼結(jié)構(gòu)。內(nèi)核Cu外殼Ag的結(jié)構(gòu)特點能夠充分發(fā)揮兩種材料的優(yōu)勢,可以滿足提高銀抗遷移性、增強銅抗氧化性的要求,但納米核殼材料應(yīng)具有較大的孔隙率及存在孔洞的問題。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有納米Cu@Ag核殼材料存在的上述問題,本發(fā)明提供了一種用于低溫連接、高溫服役的微米In與納米Cu@Ag核殼混合材料互連工藝。本發(fā)明的混合互連工藝降低了接頭的孔隙率與孔洞,在保證互連材料導(dǎo)電性的前提下大大降低了互連溫度和互連條件。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
一種微米In與納米Cu@Ag核殼混合材料互連工藝,包括如下兩種技術(shù)方案:
技術(shù)方案一:
步驟一:微米In與納米Cu@Ag核殼混合焊膏的制備
步驟一一、稱取一定量干燥的微米In顆粒,將其倒入納米Cu@Ag核殼顆粒溶液中,超聲后離心并置于真空干燥箱內(nèi),在-1 MPa真空條件下室溫干燥4 h;
步驟一二、將干燥后的納米Cu@Ag核殼顆粒與微米In顆?;旌戏垠w置于研缽中加入適量的有機分散劑,充分研磨使其混合均勻并研磨至膏狀,得到微米In與納米Cu@Ag核殼混合焊膏,其中:有機分散劑可以是聚乙二醇-400、乙醇、丁醇、乙二醇和丙二醇中的一種或幾種混合物,混合粉體中納米Cu@Ag核殼顆粒與微米In顆粒的質(zhì)量百分比為70~95%:5~30%,混合焊膏中的混合粉體與有機分散劑的質(zhì)量百分比為80~90%:10%~20%;
步驟二:基板的處理
步驟二一、使用丙酮去除基板表面的油污,使用稀鹽酸去除表面氧化物;
步驟二二、干燥后,將清洗干凈的基板進行打磨,進一步去除表面氧化膜;
步驟二三、將處理后的基板置于真空干燥箱中,在-1 MPa真空條件下室溫保存;
步驟三:焊膏的涂覆
步驟三一、將微米In與納米Cu@Ag核殼混合焊膏采用絲網(wǎng)印刷的方式均勻涂覆在步驟四處理后的基板上,其中:微米In與納米Cu@Ag核殼混合焊膏在基板上的涂覆厚度為50~200μm;
步驟三二、將涂覆焊膏的基板置于恒溫干燥箱中,在110~140 ℃的條件下預(yù)熱 5~30 min,除去焊膏中部分殘存的無水乙醇,避免燒結(jié)組織中形成較多的氣孔;
步驟四:熱壓燒結(jié)
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





