[發明專利]一種擺線齒錐齒輪齒面熱變形修正方法、系統、設備以及存儲介質

在審

• 申請號: 202210851546.2
• 申請日: 2022-07-20
• 公開（公告）號: CN115388839A
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發明（設計）人: 楊化偉;李凌志;謝軍;王茗葦;谷占芳;王天一
• 申請（專利權）人: 中國第一汽車股份有限公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20;F16H55/17
• 代理公司: 哈爾濱市陽光惠遠知識產權代理有限公司 23211
• 代理人: 高原

1.一種擺線齒錐齒輪齒面熱變形修正方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S1，根據齒輪副齒面接觸結果獲取接觸斑點特征參數，并確定接觸斑點在齒面旋轉投影平面內的理論參數；

步驟S2，提取第一次試切齒輪副滾檢接印痕，進行接觸斑點映射處理；

步驟S3，基于第一次試切齒輪副滾檢接觸斑點映射與接觸斑點理論參數之間的誤差，進行第一次齒面反調修正；

步驟S4，第二次齒輪副滾檢以步驟S3第一次齒面反調修正結果進行試切，基于前兩次試切齒輪副滾檢結果確定齒面接觸斑點中心調整系數；

步驟S5，基于步驟S4確定的齒面接觸斑點中心調整系數，進行第二次齒面反調修正，從而確定出第三次齒面接觸斑點中心的反調修正函數；

步驟S6，第三次齒輪副滾檢以步驟S5確定出第三次齒面接觸斑點中心的反調修正函數進行試切后，判斷第三次試切齒輪副滾檢的印痕結果是否與步驟S1接觸斑點的理論參數相匹配，若匹配，則結束齒面反調修正，若不匹配，則重復步驟S5。

2.根據權利要求1所述的一種擺線齒錐齒輪齒面熱變形修正方法，其特征在于，所述的步驟S2中，所述的進行接觸斑點映射處理為：

式中，a為接觸斑寬度，c為接觸斑點中心到大輪的距離，β_m為齒輪副中大輪的中點螺旋角。

3.根據權利要求1所述的一種擺線齒錐齒輪齒面熱變形修正方法，其特征在于，所述的步驟S3中，所述的第一次齒面反調修正為：

c₁＝c+(c-c₁)/2，式中，c₁為計旋轉投影面上實際印痕中心到大端距離，c為接觸斑點中心到輪齒大端的距離；

g₁＝g+(g-g₁)/2，式中，g₁為計旋轉投影面上實際印痕中心到齒頂距離，g為接觸斑點中心到齒頂的距離。

4.根據權利要求1所述的一種擺線齒錐齒輪齒面熱變形修正方法，其特征在于，所述的步驟S4中，所述的確定齒面接觸斑點中心調整系數為：

式中，c₁為計旋轉投影面上實際印痕中心到大端距離，c為接觸斑點中心到輪齒大端的距離，g₁為計旋轉投影面上實際印痕中心到齒頂距離，g為接觸斑點中心到齒頂的距離，c₂、g₂分別為第二次試切齒輪副在旋轉投影面上實際印痕中心到大端和到齒頂的距離，k_c為基于前兩次試切滾檢結果確定的接觸斑點中心到輪齒大端的距離調整系數，k_g為基于前兩次試切滾檢結果確定的接觸斑點中心到齒頂的距離調整系數。

5.根據權利要求1所述的一種擺線齒錐齒輪齒面熱變形修正方法，其特征在于，所述的步驟S5中，所述的第三次齒面接觸斑點中心的反調修正函數為：

c為接觸斑點中心到輪齒大端的距離，g為接觸斑點中心到齒頂的距離，c₂、g₂分別為第二次試切齒輪副在旋轉投影面上實際印痕中心到大端和到齒頂的距離，k_c為基于前兩次試切滾檢結果確定的接觸斑點中心到輪齒大端的距離調整系數，k_g為基于前兩次試切滾檢結果確定的接觸斑點中心到齒頂的距離調整系數，c_n、g_n分別為基于上述修正函數得出的第N次試切齒輪副在旋轉投影面上齒面接觸斑點中心到大端和到齒頂的距離。