[發(fā)明專利]一種NFC芯片的測試方法、裝置、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備

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• 申請日: 2022-07-19
• 公開（公告）號: CN114942871A
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃金煌
• 申請（專利權(quán)）人: 北京紫光青藤微系統(tǒng)有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;H04W4/80
• 代理公司: 北京康盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11331
• 代理人: 張宇峰

本發(fā)明公開了一種NFC芯片的測試方法、裝置、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備，包括：根據(jù)斷電設(shè)置信息，確定斷電設(shè)置參數(shù)；根據(jù)所述斷電設(shè)置參數(shù)，確定相應(yīng)的控制流程；當(dāng)接收到斷電觸發(fā)指令，執(zhí)行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供電狀態(tài)；在所述控制流程執(zhí)行完成后，確定所述NFC芯片的斷電測試結(jié)果；本發(fā)明通過控制流程實現(xiàn)了對于斷電保護(hù)測試的精確控制，可以精準(zhǔn)的控制斷電的時長、次數(shù)、頻率等關(guān)鍵要素；而且對于斷電的控制時間可以覆蓋NFC芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)擦寫的全部時間范圍，使得對NFC芯片的斷電保護(hù)功能的評估更為準(zhǔn)確高效。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種NFC芯片的測試方法、裝置、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

NFC（Near Field Communication，即近場通信）是一種得到廣泛應(yīng)用的通信技術(shù)。而NFC芯片，是NFC通信技術(shù)中最為核心的硬件結(jié)構(gòu)。NFC芯片的工作環(huán)境中面臨著各種復(fù)雜的外部因素，所以在一些情況下可能會出現(xiàn)突然斷電的情況。并且NFC芯片在工作時需要進(jìn)行高頻的數(shù)據(jù)擦寫。一旦數(shù)據(jù)擦寫過程中發(fā)生斷電，則將面臨較為嚴(yán)重的數(shù)據(jù)風(fēng)險。

因此，NFC芯片需要具有較為可靠的斷電保護(hù)功能，以確保數(shù)據(jù)安全。相應(yīng)的在NFC芯片的設(shè)計和生產(chǎn)過程中，也需要對斷電保護(hù)功能進(jìn)行測試，以確保這一斷電保護(hù)功能的可靠性。

在斷電保護(hù)測試當(dāng)中，需要按照規(guī)律對NFC芯片進(jìn)行斷電，從而判斷其在斷電狀態(tài)下的可靠性和數(shù)據(jù)安全性。而現(xiàn)有的NFC芯片的斷電保護(hù)測試，對于斷電的控制并不精確，通常無法支持連續(xù)的多次斷電，而且對于斷電的控制時間無法覆蓋NFC芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)擦寫的全部時間范圍。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種NFC芯片的測試方法、裝置、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備，以實現(xiàn)更加精確的NFC芯片斷電測試。

第一方面，本發(fā)明提供了一種NFC芯片的測試方法，包括：

根據(jù)斷電設(shè)置信息，確定斷電設(shè)置參數(shù)；

根據(jù)所述斷電設(shè)置參數(shù)，確定相應(yīng)的控制流程；

當(dāng)接收到斷電觸發(fā)指令，執(zhí)行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供電狀態(tài)；

在所述控制流程執(zhí)行完成后，確定所述NFC芯片的斷電測試結(jié)果。

優(yōu)選的，還包括：

當(dāng)接收到所述斷電觸發(fā)指令，向所述NFC芯片發(fā)送任務(wù)執(zhí)行指令，以使所述NFC芯片執(zhí)行相應(yīng)的通信任務(wù)；

并在所述控制流程執(zhí)行完成后，確定所述通信任務(wù)的執(zhí)行結(jié)果。

優(yōu)選的，所述確定所述NFC芯片的斷電測試結(jié)果包括：

根據(jù)所述通信任務(wù)的執(zhí)行結(jié)果，確定所述斷電測試結(jié)果。

優(yōu)選的，所述根據(jù)所述斷電設(shè)置參數(shù)，確定相應(yīng)的控制流程包括：

根據(jù)所述斷電設(shè)置參數(shù)，確定執(zhí)行流程中至少一個依次排列的執(zhí)行操作；并確定各所述執(zhí)行操作對應(yīng)執(zhí)行條件。

優(yōu)選的，所述執(zhí)行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供電狀態(tài)包括：

當(dāng)滿足所述控制流程中任一所述執(zhí)行操作對應(yīng)的執(zhí)行條件，執(zhí)行相應(yīng)的執(zhí)行操作，以控制所述NFC芯片的供電狀態(tài)。

優(yōu)選的，所述控制所述NFC芯片的供電狀態(tài)包括：

控制所述NFC芯片斷電，或控制所述NFC芯片上電。

優(yōu)選的，所述方法應(yīng)用于所述NFC芯片的測試開發(fā)板，所述測試開發(fā)板包括MCU單元。

第二方面，本發(fā)明提供了一種NFC芯片的測試裝置，包括：

斷電設(shè)置參數(shù)確定模塊，用于根據(jù)斷電設(shè)置信息，確定斷電設(shè)置參數(shù)；

控制流程確定模塊，用于根據(jù)所述斷電設(shè)置參數(shù)，確定相應(yīng)的控制流程；

控制流程執(zhí)行模塊，用于在接收到斷電觸發(fā)指令時，執(zhí)行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供電狀態(tài)；