[發明專利]基于互連設計數據之間的一對多的元器件連通性檢測系統有效

申請號：	202210839497.0	申請日：	2022-07-18
公開（公告）號：	CN114997103B	公開（公告）日：	2022-10-25
發明（設計）人：	馬俊毅;樊宏斌	申請（專利權）人：	北京云樞創新軟件技術有限公司;上海合見工業軟件集團有限公司
主分類號：	G06F30/398	分類號：	G06F30/398;G06F30/392;G06F113/18;G06F115/12
代理公司：	北京鍾維聯合知識產權代理有限公司 11579	代理人：	丁慧玲
地址：	100193 北京市海淀區東北旺北***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	基于互連設計數據之間一對元器件連通性檢測系統
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【說明書】：

本發明涉及一種基于互連設計數據之間的一對多的元器件連通性檢測系統，包括設計映射關系庫、存儲有計算機程序的存儲器和處理器，所述設計映射關系庫用于存儲互聯設計數據，所述互聯設計數據包括預先生成的M條設計映射信息，所述設計映射信息包括父節點元器件標識、父節點所在層級標識、子節點元器件標識、子節點所在層級標識。本發明基于所述設計映射關系庫獲取一對多的元器件組合，再基于包圍盒從元器件對應的管腳中選取對應的管腳集合，根據所選取的管腳集合來計算一對多的元器件連通性檢測，大大減小了計算量，提高了一對多的元器件連通性檢測的性能和效率。

技術領域

本發明涉及電子設計技術領域，尤其涉及一種基于互連設計數據之間的一對多的元器件連通性檢測系統。

背景技術

在PCB（ Printed Circuit Board，印刷電路板），Package（封裝），Interposer（封裝載板），IC（integrated circuit，集成電路）等設計（Device）中，通常是由不同的廠商獨立制造的，因此各個設計數據是獨立的，不同設計數據配置的網絡基于不同設計數據之間的元器件連通性檢測系統、管腳命名、管腳號等可能均不相同。設計數據檢測過程中，需要將各個設計數據嵌套在一起進行檢測。隨著電子技術的發展，一個系統中可能涉及上萬個甚至幾十個設計組成多層級互聯，不同類型的設計數據的元器件之間可能適用于不同的檢測標準。CN113919252A公開了一種不同設計數據之間的元器件連通性檢測系統，但是僅能對設計數據中的元器件進行一對一的元器件連通性檢測。但是有些互聯設計數據中，存在一對多的情況，例如PCB板上會設置多個IC，這種情況下如果還采用CN113919252A公開的一對一的元器件的連通性檢測方法，會大大降低系統性能，且無法針對PCB板生成統一的連通性檢測報告，檢測效率低。由此可知，如何提高一對多的元器件連通性檢測的性能和效率成為亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明目的在于，提供一種基于互連設計數據之間的一對多的元器件連通性檢測系統，提高了一對多的元器件連通性檢測的性能和效率。

本發明提供了一種基于互連設計數據之間的一對多的元器件連通性檢測系統，包括設計映射關系庫、存儲有計算機程序的存儲器和處理器，所述設計映射關系庫用于存儲互聯設計數據，所述互聯設計數據包括預先生成的M條設計映射信息，所述設計映射信息包括父節點元器件標識、父節點所在層級標識、子節點元器件標識、子節點所在層級標識；

當所述處理器執行所述計算機程序時，實現以下步驟：

步驟C1、基于所述設計映射關系庫獲取一對多的元器件組合{D₁，D₂，…D_N}, D_n為第n組一對多的元器件組合，D_n=（Aⁿ,B₁ⁿ,B₂ⁿ,…B_f(n)ⁿ）, Aⁿ、B₁ⁿ、B₂ⁿ、…B_f(n)ⁿ為元器件，B₁ⁿ,B₂ⁿ,…B_f(n)ⁿ位于同一層級，Aⁿ位于B₁ⁿ,B₂ⁿ,…B_f(n)ⁿ所在層級的相鄰層級，n的取值范圍為1到N，f(n)為與Aⁿ互聯的位于同一層級的元器件數量;