[發明專利]一種磁場測量方法以及磁場測量系統

有效

• 申請號: 202210828595.4
• 申請日: 2022-07-15
• 公開（公告）號: CN114910834B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 孫少男;尹超;白東海;王超;孫志恒;秦士滕;李中涵
• 申請（專利權）人: 山東邁易特傳動有限公司
• 主分類號: G01R33/07
• 分類號: G01R33/07
• 代理公司: 北京上禾摯誠知識產權代理有限公司 16109
• 代理人: 蘇亮

1.一種磁場測量方法，其特征在于，包括：

將霍爾片與磁場生成裝置固定連接，霍爾片位于磁場生成裝置的均勻磁場區內，且使霍爾片與所述均勻磁場區的均勻磁場的方向垂直，且所述磁場生成裝置固定在三軸位移臺上；

芯片對所述磁場生成裝置的施加電流進行調整，以對均勻磁場的大小的進行調整，并通過所述三軸位移臺對所述磁場生成裝置的位置進行調整，以對所述均勻磁場的方向進行調整，直至所述霍爾片的霍爾電壓為零，根據當前均勻磁場，確定磁源在所述霍爾片所在位置的磁場的磁感應強度。

2.根據權利要求1所述的一種磁場測量方法，其特征在于，還包括：

當磁源為貼合在平面板上的磁力矩器時，且當待測位置位于所述磁力矩器的磁芯的軸線上時，芯片通過拍攝裝置獲取至少含有所述平面板、磁力矩器和霍爾片的圖像，并根據所述圖像的像素確定所述平面板與所述霍爾片是否平行，得到判斷結果，當所述判斷結果為是時，確定所述磁力矩器平行貼合在所述平面板上。

3.根據權利要求2所述的一種磁場測量方法，其特征在于，所述根據所述圖像的像素確定所述平面板與所述霍爾片是否平行，得到判斷結果，包括：

獲取并將所述平面板所在位置的任一列像素作為第一對比列像素，獲取并將所述霍爾片所在位置的任一列像素作為第二對比列像素，計算所述第一對比列像素與所述第二對比列像素中的同行之間的兩個像素之間的間隔像素數量是否均相等，若是，則所述判斷結果為是。

4.根據權利要求2所述的一種磁場測量方法，其特征在于，還包括：

當所述判斷結果為否時，在所述圖像上建立二維坐標系，將所述平面板、所述磁力矩器的磁芯的軸線和霍爾片映射到所述二維坐標系中，計算得到所述平面板的目標調整角度，根據所述目標調整角度對所述平面板進行調整，直至使所述判斷結果為是。

5.根據權利要求1至4任一項所述的一種磁場測量方法，其特征在于，所述磁場生成裝置為亥姆霍茲線圈或螺線管。

6.一種磁場測量系統，其特征在于，包括芯片、磁場生成裝置、三軸位移臺和霍爾片，所述芯片用于：芯片對所述磁場生成裝置的施加電流進行調整，以對均勻磁場的大小的進行調整，并通過所述三軸位移臺對所述磁場生成裝置的位置進行調整，以對所述均勻磁場的方向進行調整，直至所述霍爾片的霍爾電壓為零，根據當前均勻磁場，確定磁源在所述霍爾片所在位置的磁場的磁感應強度，其中，將霍爾片與磁場生成裝置固定連接，霍爾片位于磁場生成裝置的均勻磁場區內，且使霍爾片與所述均勻磁場區的均勻磁場的方向垂直，且所述磁場生成裝置固定在三軸位移臺上。

7.根據權利要求6所述的一種磁場測量系統，其特征在于，所述芯片還用于：

當磁源為貼合在平面板上的磁力矩器時，且當待測位置位于所述磁力矩器的磁芯的軸線上時，通過拍攝裝置獲取至少含有所述平面板、磁力矩器和霍爾片的圖像，并根據所述圖像的像素確定所述平面板與所述霍爾片是否平行，得到判斷結果，當所述判斷結果為是時，確定所述磁力矩器平行貼合在所述平面板上。

8.根據權利要求7所述的一種磁場測量系統，其特征在于，所述根據所述圖像的像素確定所述平面板與所述霍爾片是否平行的過程，包括：

獲取并將所述平面板所在位置的任一列像素作為第一對比列像素，獲取并將所述霍爾片所在位置的任一列像素作為第二對比列像素，計算所述第一對比列像素與所述第二對比列像素中的同行之間的兩個像素之間的間隔像素數量是否均相等，若是，則所述判斷結果為是。

9.根據權利要求7所述的一種磁場測量系統，其特征在于，所述芯片還用于：

當所述判斷結果為否時，在所述圖像上建立二維坐標系，將所述平面板、所述磁力矩器的磁芯的軸線和霍爾片映射到所述二維坐標系中，計算得到所述平面板的目標調整角度，根據所述目標調整角度對所述平面板進行調整，直至使所述判斷結果為是。

10.根據權利要求6至9任一項所述的一種磁場測量系統，其特征在于，所述磁場生成裝置為亥姆霍茲線圈或螺線管。