[發明專利]待勘測區塊關鍵地質參數的選取方法、裝置、及設備

有效

• 申請號: 202210814605.9
• 申請日: 2022-07-11
• 公開（公告）號: CN115358285B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發明（設計）人: 袁天姝;張金川;于炳松;賈麗娟
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）;北京理工大學
• 主分類號: G06F18/214
• 分類號: G06F18/214;G06F18/2415;G06F18/22;G06Q50/02
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 劉少卿

1.一種待勘測區塊關鍵地質參數的選取方法，其特征在于，包括：

獲取待勘測區塊的所有地質參數的多組樣本數據；其中，所述待勘測區塊儲藏有非常規油氣資源；

將預設的目標對照區塊的每個關鍵參數的多組樣本數據、以及所述待勘測區塊的第一地質參數的多組樣本數據分別輸入至預先構建的判別模型中，得到所述待勘測區塊相對于所述目標對照區塊的相似度概率；其中，所述第一地質參數為與所述目標對照區塊的關鍵地質參數相同的地質參數；

基于所述待勘測區塊與所有所述目標對照區塊的相似度概率，確定與所述待勘測區塊類比概率最大的對照區塊為最相關區塊；

在所述待勘測區塊的所有地質參數中選取與所述最相關區塊相同的關鍵地質參數，作為所述待勘測區塊的關鍵地質參數；

其中，所述預先構建的判別模型為基于貝葉斯準則建立的貝葉斯判別模型，?所述預先構建的判別模型為：

；

其中，，，，

，；

為第g個對照區塊的第j個地質參數的第k個樣本數據，為第g個對照區塊的第k個樣本數據的均值，n_g為所述第g個對照區塊的地質參數的個數，N為所有對照區塊的地質參數的個數，q_g為第g個對照區塊的先驗概率，為所述第g個對照區塊的離差陣，為S的逆矩陣，為所述待勘測區塊中采用的與所述第g個對照區塊相同每個關鍵地質參數的多組樣本數據的轉置矩陣，為的轉置矩陣。

2.如權利要求1所述的選取方法，其特征在于，所述將預設的目標對照區塊的每個關鍵參數的多組樣本數據、以及所述待勘測區塊的第一地質參數的多組樣本數據分別輸入至預先構建的判別模型中，包括：

將已知的多個地質區塊根據地質條件進行分類，得到多個不同類別的對照區塊；

獲取所述目標對照區塊的每個關鍵地質參數的多組樣本數據；其中，所述目標對照區塊為多個不同類別的對照區塊中的任意一個區塊；

將所述目標對照區塊的每個關鍵地質參數的多組樣本數據、以及所述第一地質參數的多組樣本數據分別輸入至預先構建的判別模型中。

3.如權利要求1所述的選取方法，其特征在于，所述基于所述待勘測區塊與所有所述目標對照區塊的相似度概率，確定與所述待勘測區塊類比概率最大的對照區塊為最相關區塊，包括：

將所述待勘測區塊與所有所述目標對照區塊的相似度概率，輸入至預先構建的區塊類比概率模型中，得到所述待勘測區塊與所有所述目標對照區塊的類比概率；

將類比概率最大的對照區塊確定為最相關區塊。

4.如權利要求3所述的選取方法，其特征在于，所述預先構建的區塊類比概率模型p{g/Y}為：

；

其中，q_g=n_g/N，q_j=n_j/N，q_g為第g個對照區塊的先驗概率，為待勘測區塊Y與第g個對照區塊的概率，q_j為第j個對照區塊的先驗概率，n_j為所述第g個對照區塊的地質參數的個數，為待勘測區塊Y與第j個對照區塊的概率，g、j和m均為正整數，m為所有對照區塊的總數。