[發(fā)明專利]環(huán)規(guī)檢測儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210812259.0
• 申請日: 2022-07-11
• 公開（公告）號: CN115183645A
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 房妤;張玉輝
• 申請（專利權(quán)）人: 房妤;張玉輝
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 李紅

本發(fā)明涉及螺紋檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種環(huán)規(guī)檢測儀，包括千分表，還包括：底座，豎直開設(shè)有一對相互平行的安裝孔；一對滑動軸，每一滑動軸的嵌入端嵌入安裝在對應(yīng)的安裝孔內(nèi)；浮動座，活動套裝在一對滑動軸上，能夠沿每一滑動軸的延伸方向上下移動；量爪，包括固定爪和活動爪，量爪具有收縮狀態(tài)以及展開狀態(tài)，浮動座帶動活動爪沿滑動軸的延伸方向移動能夠調(diào)整量爪在收縮狀態(tài)和展開狀態(tài)之間轉(zhuǎn)換；頂板，安裝在一對滑動軸的裸露端的端頭，千分表可拆卸安裝在頂板上，在量爪處于展開狀態(tài)下，千分表的檢測頭與浮動座抵接。該環(huán)規(guī)檢測儀，解決了環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋檢測過程中因待檢測內(nèi)螺紋直徑不同需要準備多個尺寸的塞規(guī)進行檢測而導致的生產(chǎn)成本高的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及螺紋檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種用于檢測環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋的環(huán)規(guī)檢測儀。

背景技術(shù)

內(nèi)螺紋攻牙加工的過程會發(fā)生異常狀況，在攻牙時產(chǎn)生的料屑有時會依附在螺紋攻牙器上并一同進行高速旋轉(zhuǎn)，依附的料屑破壞螺紋原有的結(jié)構(gòu)，最常見的瑕疵如：螺紋坡的刮痕、螺峰的崩塌與螺谷的裂痕。一般而言，螺紋坡的刮痕為凸起狀瑕疵，會造成內(nèi)、外螺紋無法順利旋入和旋出；而螺峰或螺谷的崩塌或裂痕為凹陷狀瑕疵，是造成內(nèi)、外螺紋旋入后出現(xiàn)無法密合或松動的主因。由于內(nèi)螺紋特殊的結(jié)構(gòu)與空間位置的限制，目前螺紋塞規(guī)除傳統(tǒng)接觸式檢測固有的缺點外，僅能檢測出凸起狀瑕疵，而無法檢測凹陷狀瑕疵。

目前內(nèi)螺紋非接觸式檢測法共有四種：①光反射法，利用發(fā)射器將光束照射在螺紋上，再以接收器收集物件表面的反射光線并將信息轉(zhuǎn)換成量測值，以檢查孔內(nèi)螺紋特征；②漏磁檢測法，由磁場探測加工過的管壁內(nèi)的螺紋，由磁場的變化檢測出缺陷位置；③渦電流檢測法，以渦流電磁感應(yīng)比對孔壁電場的幾何形狀，偵測螺紋缺陷；④工業(yè)用電腦橫向斷層攝影法，通過斷層掃描技術(shù)，取得螺紋物件在不同角度上的斷層掃描圖，以測量螺紋的特征。上述方法中，光反射法每次僅能針對其小部分的螺紋進行檢查，且容易受到物件表面的液體或油漬的影響，降低偵測能力；漏磁檢測法與渦電流檢測法僅能透過磁場或渦電流的變化，粗略地判別缺陷的存在與否、或缺陷的大致分布位置，僅適用于由金屬材質(zhì)鑄造的待測物件；斷層攝影法存在設(shè)備費用高昂的經(jīng)濟性問題，不符合經(jīng)濟效益。而塞規(guī)檢測內(nèi)螺紋需要根據(jù)待檢測零件的內(nèi)螺紋直徑準備相應(yīng)尺寸的塞規(guī)，在螺距相同、導程相同以及牙數(shù)相同的情況下內(nèi)螺紋直徑尺寸眾多，為了檢測不同直徑的環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋需要準備多個塞規(guī)，這樣增加了塞規(guī)的存儲量提高了生產(chǎn)成本，同時也不方便使用。

因此，亟需一種內(nèi)螺紋檢測裝置以解決上述至少一種問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施方式的目的是提供一種環(huán)規(guī)檢測儀以解決目前環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋檢測過程中因同一螺距、導程和牙數(shù)的待檢測內(nèi)螺紋直徑不同需要準備多個尺寸的塞規(guī)進行檢測而造成的生產(chǎn)成本提高的問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種環(huán)規(guī)檢測儀，包括千分表，所述環(huán)規(guī)檢測儀還包括：

底座，豎直開設(shè)有一對相互平行的安裝孔；

一對滑動軸，每一滑動軸具有嵌入端和裸露端，每一滑動軸的嵌入端嵌入安裝在對應(yīng)的安裝孔內(nèi)；

浮動座，活動套裝在所述一對滑動軸上，能夠沿每一滑動軸的延伸方向上下移動；

量爪，用于檢測環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋，所述量爪包括固定爪和活動爪，所述固定爪設(shè)置在所述底座上，所述活動爪設(shè)置在所述浮動座上，所述量爪具有所述活動爪與所述固定爪貼合的收縮狀態(tài)以及所述活動爪遠離所述固定爪給定距離的展開狀態(tài)，所述浮動座帶動所述活動爪沿所述滑動軸的延伸方向移動能夠調(diào)整所述量爪在收縮狀態(tài)和展開狀態(tài)之間轉(zhuǎn)換；

頂板，安裝在所述一對滑動軸的裸露端的端頭，所述千分表可拆卸安裝在所述頂板上，在所述量爪處于展開狀態(tài)下，所述千分表的檢測頭與所述浮動座抵接。

具體地，所述環(huán)規(guī)檢測儀還包括：一對復位彈簧，每一所述滑動軸上套裝一個復位彈簧且設(shè)置在所述底座與所述浮動座之間。

具體地，所述滑動軸為滾珠花鍵軸；