[發明專利]一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法和系統

在審

• 申請號: 202210809216.7
• 申請日: 2022-07-11
• 公開（公告）號: CN115343669A
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 夏校朋;秦俊舉;呂樂群;邸曉曉
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01S3/14
• 分類號: G01S3/14;G01S3/12;G01S3/48
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 孫元偉

1.一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、在常規干涉儀陣元1～N的基礎上，選取遠端參考陣元M；

S2、對常規干涉儀陣元1～N和遠端參考陣元M進行校正；

S3、對校正后的數據進行測向應用，利用常規干涉儀陣元1～N進行測向的解模糊操作，得到測向結果；

S4、將常規干涉儀陣元1～N、引入的遠端參考陣元M共N+1個陣元任意兩兩組合，并將若干個組合根據組合內兩個陣元間的基線長度進行排序；

S5、對S4中建立的若干個組合分別進行干涉儀測向，根據S3的測向結果對若干個組合的測向結果進行解模糊，排除無效測向結果；其中，陣元M不滿足解模糊條件，含有陣元M的組合的至少部分測向結果為無效測向結果，即對含有陣元M的組合進行干涉儀測向后得到若干個模糊方位值；

S6、根據測向過程中，相位差的隨機波動在統計上應趨近于均值為0，去除含有陣元M組合的測向結果中的若干個模糊方位值的無效測向結果，得到最終測向結果。

2.根據權利要求1所述的一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，S6中根據測向過程中，相位差的隨機波動在統計上應趨近于均值為0，去除含有陣元M組合的測向結果中的若干個模糊方位值的無效測向結果，包括以下步驟：

S61、統計基線長度最長的組合的所有模糊方位值；

S62、計算除基線長度最長的組合外的其它組合在測向結果為S61中任一模糊方位值時組合內兩陣元的相位差，得到參考相位差；

S63、計算除基線長度最長的組合外的其它任一組合的參考相位差與實際相位差的差值，并求其平均值，將計算結果作為相位差隨機波動值；

S64、對S61中所有模糊方位值重復步驟S62～S63，得到對應的相位差隨機波動值；

S65、選擇絕對值最小的相位差隨機波動值所對應的模糊方位值作為最終的測向結果。

3.根據權利要求2所述的一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，S62中，參考相位差的計算方法如下：

PH_diff_i＝L*sin(theata1)/lamda*2*pi＝L*sin(theata1)/c*f*2*pi

其中，i表示除基線長度最長的組合外的其它組合中第i個組合；PH_diff_i表示第i個組合的參考相位差；L表示常規干涉儀陣元1到陣元N之間的間距；lamda為信號波長；c為光速；f為信號頻率；theata1為入射角。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，S1中所述遠端參考陣元M的選取原則為：遠端參考陣元應與常規干涉儀分別處于安裝平臺可安裝范圍邊緣，兩者相對放置，且遠端參考陣元應處在常規干涉儀陣元構成的水平線上。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，S2中對常規干涉儀陣元1～N進行校正的方法為，利用常規干涉儀陣元1～N的校正表進行數據校正。

6.根據權利要求1至3中任一項所述的一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，S3中利用常規干涉儀陣元1～N進行測向的解模糊操作，得到測向結果包括：

PhN-Ph1＝L*sin(theata1)/lamda*2*pi＝L*sin(theata1)/c*f*2*pi

theata1＝asin[(Ph1-Ph1)/(2*pi)/f*c/L]

其中，PhN和Ph1分別為常規干涉儀陣元N和常規干涉儀陣元1陣元的相位；L表示常規干涉儀陣元1到陣元N之間的間距；lamda為信號波長；c為光速；f為信號頻率；theata1為入射角。

7.根據權利要求1至3中任一項所述的一種采用遠端參考陣元的干涉儀測向方法，其特征在于，S4中將若干個組合根據組合內兩個陣元間的基線長度從短到長進行排序。