[發明專利]增材制造裝置的調控方法、系統及存儲介質

在審

• 申請號: 202210778437.2
• 申請日: 2022-07-04
• 公開（公告）號: CN115320105A
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 趙永華;張宇航;王帥;關均銘
• 申請（專利權）人: 南方科技大學
• 主分類號: B29C64/386
• 分類號: B29C64/386;B29C64/393;B33Y50/00;B33Y50/02
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 周翀

1.一種增材制造裝置的調控方法，其特征在于，包括：

對增材制造裝置執行施加電壓操作，得到第一增材電信號；

對所述第一增材電信號執行數據處理操作，得到第二增材電信號；

根據預設的目標增材電信號對所述第二增材電信號執行數據分析操作，得到所述增材制造裝置的對應的狀態信息；

根據所述狀態信息調整所述增材制造裝置對應的增材工藝參數。

2.根據權利要求1所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，所述增材制造裝置包括基板和粉末床，所述粉末床設于所述基板上方，所述第一增材電信號包括熔池電信號和粉末床電信號；所述對增材制造裝置執行施加電壓操作，得到第一增材電信號，包括以下至少一種：

對所述基板執行施加變化的電壓操作，并間隔預設采集時間獲取所述熔池電信號；

對所述粉末床執行施加變化的電壓操作，并間隔預設采集時間獲取所述粉末床電信號。

3.根據權利要求1所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，所述對所述第一增材電信號執行數據處理操作，得到第二增材電信號，包括：

對所述第一增材電信號執行整流操作，得到整流增材電信號；

對所述整流增材電信號執行濾波操作，得到濾波增材電信號；

對所述濾波增材電信號執行放大操作，得到所述第二增材電信號。

4.根據權利要求1所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，所述狀態信息包括頻譜偏移信息和特征信息，所述根據預設的目標增材電信號對所述第二增材電信號執行數據分析操作，得到所述增材制造裝置的對應的狀態信息，包括：

根據所述目標增材電信號對所述第二增材電信號執行頻譜分析操作，得到所述頻譜偏移信息；

根據深度學習算法對所述目標增材電信號和所述第二增材電信號進行數據處理，得到所述特征信息。

5.根據權利要求4所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，根據所述目標增材電信號對所述第二增材電信號執行頻譜分析操作，得到所述頻譜偏移信息，包括：

對所述第二增材電信號執行頻譜變化操作，得到增材電信號頻譜圖；

對所述增材電信號頻譜圖和所述目標增材電信號對應的預設頻譜圖執行比較操作，得到所述頻譜偏移信息。

6.根據權利要求5所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，所述根據深度學習算法對所述目標增材電信號和所述第二增材電信號進行數據處理，得到所述特征信息，包括：

根據所述深度學習算法和所述目標增材電信號，訓練得到目標特征模型；

將所述第二增材電信號和所述增材電信號頻譜圖輸入至所述目標特征模型，得到所述特征信息。

7.根據權利要求4所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，所述根據所述狀態信息調整所述增材制造裝置對應的增材工藝參數，包括：

根據所述頻譜偏移信息判斷所述增材制造裝置的熔池信息，得到判斷結果；

根據所述判斷結果和所述特征信息調整所述增材制造裝置對應的增材工藝參數。

8.根據權利要求7所述的增材制造裝置的調控方法，其特征在于，所述判斷結果包括以下之一：

當所述頻譜偏移信息大于預設頻譜閾值，所述熔池信息為正常；

當所述頻譜偏移信息小于所述預設頻譜閾值，所述熔池信息為異常。

9.一種增材制造裝置的調控系統，其特征在于，包括：

至少一個處理器；

至少一個程序；

所述程序被存儲在所述存儲器中，所述處理器執行至少一個所述程序以實現：

如權利要求1至8任一項所述的增材制造裝置的調控方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行信號，所述計算機可執行信號用于執行：

如權利要求1至8任一項所述的增材制造裝置的調控方法。