[發明專利]溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管在審
| 申請號: | 202210778209.5 | 申請日: | 2022-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN115101598A | 公開(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發明(設計)人: | 李磊;許生根;楊曉鸞;孔凡標;李哲鋒 | 申請(專利權)人: | 江蘇中科君芯科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/861 | 分類號: | H01L29/861;H01L29/40 |
| 代理公司: | 蘇州國誠專利代理有限公司 32293 | 代理人: | 韓鳳 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市新吳區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 溝槽 發射極 載流子 注入 控制 恢復 二極管 | ||
1.一種溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,包括N型襯底以及制備于所述N型襯底背面的陰極電極;其特征是:在所述N型襯底的正面制備溝槽型發射極,所述溝槽型發射極包括N型埋層、位于所述N型埋層上的P型層、位于所述P型層上的發射極金屬層以及若干發射極溝槽,其中,
對任一發射極溝槽,所述發射極溝槽貫穿P型層以及N型埋層,所述發射極溝槽的槽底位于N型埋層的下方,所述發射極溝槽的內壁覆蓋溝槽絕緣氧化層,在覆蓋有溝槽絕緣氧化層的發射極溝槽內填充有發射極導電多晶硅;
所述發射極金屬層與P型層以及發射極溝槽內的發射極導電多晶硅歐姆接觸。
2.根據權利要求1所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:所述N型襯底包括N型漂移層以及鄰接所述N型漂移層的N型緩沖層,N型埋層位于N型漂移層上,發射極溝槽的槽底位于N型漂移層內,N型埋層的摻雜濃度大于N型漂移層的摻雜濃度。
3.根據權利要求2所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:所述陰極電極包括N型陰極接觸區以及與所述N型陰極接觸區歐姆接觸的陰極金屬層,N型陰極接觸區與N型緩沖層鄰接,N型陰極接觸區位于N型緩沖層與陰極金屬層之間。
4.根據權利要求1所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:在所述快恢復二極管的俯視平面上,發射極溝槽呈長條狀,發射極溝槽相互平行。
5.根據權利要求3所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:N型陰極接觸區的摻雜濃度大于N型緩沖層的摻雜濃度。
6.根據權利要求1至5任一項所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:所述發射極金屬通過濺射或蒸發工藝制備在P型層上,所述P型層的厚度為3μm~10μm。
7.根據權利要求1至5任一項所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:所述溝槽絕緣氧化層為二氧化硅層,溝槽絕緣氧化層通過熱氧化方式生長后覆蓋發射極溝槽的內壁。
8.根據權利要求1至5任一項所述溝槽型發射極載流子注入控制快恢復二極管,其特征是:所述發射極導電多晶硅通過LPCVD淀積填充在發射極溝槽內。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于江蘇中科君芯科技有限公司,未經江蘇中科君芯科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210778209.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類





