[發明專利]一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置及其校準方法

在審

• 申請號: 202210768369.1
• 申請日: 2022-07-01
• 公開（公告）號: CN115290116A
• 公開（公告）日: 2022-11-04
• 發明（設計）人: 劉浩;趙迪;毛斌;韓李疆;楊寧;任苗苗;黃瓊華
• 申請（專利權）人: 劉浩
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 深圳知幫辦專利代理有限公司 44682
• 代理人: 王藝歡

本發明公開了一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置，包括支架、垂直自準直儀、水平自準直儀、校準皿及多面棱體，支架下方設有第一調平機構、垂直自準直儀固定于支架上端，支架對應垂直自準直儀下端設有放置區，校準皿和多面棱體均可放置于放置區，且校準皿內盛放有液體金屬，水平自準直儀固定于支架一側，且水平自準直儀朝向放置區一側設置，垂直自準直儀和水平自準直儀與支架均通過微調機構固定連接，多面棱體下方設有第二調平機構。本發明提供了一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置，通過該校準裝置對其他需要測量水平視準線或鉛垂準線的儀器進行校準，減少儀器在校準時的誤差產生。本發明還提供了一種校準裝置的校準方法。

技術領域

本發明涉及設備校準技術領域，尤其涉及一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置及其校準方法。

背景技術

現有的一些測量海拔高度、建筑鉛垂度、電梯鉛垂度等儀器在長期使用過程中，會有磨損產生，從而會給測量結構帶來誤差的情況，因此，需要通過另外的設備來校準測量上述儀器，減少誤差的產生。

因此，需要通過設有水平視準線和鉛垂準線的裝置，對上述儀器進行校準，而現有的水平視準線與鉛垂準線的測量方法有幾種，例如通過合相氣泡或者雙擺位補償吊鏡對光線進行反射進行測量，但是由于合相氣泡需要依靠人眼調平對準，雙擺位補償鏡的加工誤差，自身存在楔角，同時雙擺位補償鏡在雙向換擺時會出現位置誤差，導致利用這兩種方法實現的水平視準線精度較低，不能夠滿足高精度水平視準線的要求，容易產生誤差，并且在校準過程中，如何確保校準時，所采用的反射面為平整面，同樣也要避免校準時所產生的誤差。

發明內容

本發明的目的在于提供一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置，通過對該校準裝置的水平視準線和鉛垂準線進行校準，使該校準裝置的水平視準線和鉛垂準線符合標準，從而可通過該校準裝置對其他需要測量水平視準線或鉛垂準線的儀器進行校準，減少儀器在校準時的誤差產生。

本發明公開的一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置所采用的技術方案是:

一種水平視準線與鉛垂準線的校準裝置，包括支架、垂直自準直儀、水平自準直儀、校準皿及透明材質的多面棱體，所述支架下方設有第一調平機構、所述垂直自準直儀固定于支架上端，且所述垂直自準直儀朝向下方設置，所述支架對應垂直自準直儀下端設有放置區，所述校準皿和多面棱體均可放置于放置區，且所述校準皿內盛放有液體金屬，所述水平自準直儀固定于支架一側，且所述水平自準直儀朝向放置區一側設置，所述垂直自準直儀和水平自準直儀與支架均通過微調機構固定連接，所述多面棱體下方設有第二調平機構。

作為優選方案，所述支架成C字型結構，所述垂直自準直儀設置于支架上端，所述水平自準直儀設置于支架一側，且所述放置區為支架下端表面，且所述放置區為平整面。

作為優選方案，所述微調機構包括第一阻尼軸、第二阻尼軸及調整環，所述支架對應微調機構開設有安裝孔，所述調整環設置于安裝孔內，且所述調整環兩側通過第一阻尼軸與支架轉動連接，所述水平自準直儀或垂直自準直儀的兩側均通過第二阻尼軸設置于調整環內，所述第二阻尼軸與調整環內壁轉動連接。

作為優選方案，所述第一阻尼轉軸和第二阻尼轉軸成相互垂直設置。

作為優選方案，所述第一調平機構和第二調平結構結構相同，所述第一調平機構包括底板、若干個腳螺旋、螺桿及安裝板，所述螺桿下端與底板轉動連接，所述腳螺旋固定于螺紋表面，所述螺桿另一端與安裝板螺紋連接。

作為優選方案，所述第一調平機構與支架之間設有電子氣泡或長氣泡。

作為優選方案，所述校準皿上端內壁成弧面結構。

作為優選方案，所述校準皿內的液體金屬為鎵銦錫合金或鎵銦合金。

一種上述校準裝置的校準方法，包括以下步驟：

S1，粗調整，先通過支架下方的第一調平機構，將支架進行初步調整，使支架能夠平穩的進行放置；