[發(fā)明專利]一種磷化銦晶片的表面處理方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210766540.5 | 申請日: | 2022-07-01 |
| 公開(公告)號: | CN115020218A | 公開(公告)日: | 2022-09-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 董晨晨;劉良副;鄭金龍;馬金峰;周鐵軍 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東先導(dǎo)微電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/306 | 分類號: | H01L21/306;H01L21/304;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 楊威 |
| 地址: | 511517 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 磷化 晶片 表面 處理 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種磷化銦晶片的表面處理方法,包括以下步驟:a)將拋光、化蠟后的磷化銦晶片采用混合藥液進行過藥處理,得到處理后晶片;所述混合藥液由氧化劑溶液、酸溶液和水配制而成;b)將步驟a)得到的處理后晶片依次經(jīng)沖水、甩干,得到清洗檢驗前的磷化銦晶片。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供的磷化銦晶片的表面處理方法是出現(xiàn)在磷化銦晶片清洗檢驗前的一個重要工藝,該表面處理方法操作簡便、效率高;處理后的晶片表面粗糙度會更好,產(chǎn)品良率更高;并且所使用的混合藥液中各成分均為常見無機化學(xué)品,成本低;因此本發(fā)明提供的磷化銦晶片的表面處理方法具有廣闊的應(yīng)用前景。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及化合物半導(dǎo)體晶片表面處理技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說,是涉及一種磷化銦晶片的表面處理方法。
背景技術(shù)
磷化銦晶片目前在通信、醫(yī)療、光電等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,有著高效的電子遷移率和電光轉(zhuǎn)化率,適合制作手機芯片,具有優(yōu)異的抗輻射能力,還可用于制造太陽能電池,是一種有著廣泛應(yīng)用前景的半導(dǎo)體材料。
現(xiàn)階段磷化銦晶片所急需解決的問題仍然是在降低生產(chǎn)成本,提高生產(chǎn)效率的情況下,提高晶片的表面質(zhì)量。
隨著半導(dǎo)體工藝技術(shù)的快速發(fā)展,對磷化銦晶片表面的質(zhì)量要求也越來越高,因此必須降低其表面的粗糙度來保證后續(xù)外延的高效進行。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種磷化銦晶片的表面處理方法,可降低晶片的表面粗糙度,并可以提高后續(xù)晶片加工的效率,提升良率。
本發(fā)明提供了一種磷化銦晶片的表面處理方法,包括以下步驟:
a)將拋光、化蠟后的磷化銦晶片采用混合藥液進行過藥處理,得到處理后晶片;所述混合藥液由氧化劑溶液、酸溶液和水配制而成;
b)將步驟a)得到的處理后晶片依次經(jīng)沖水、甩干,得到清洗檢驗前的磷化銦晶片。
優(yōu)選的,步驟a)中所述化蠟的過程具體為:
將拋光后的磷化銦晶片下片后,放入周轉(zhuǎn)卡塞中;配置10L清洗藥液,清洗藥液采用水與無機清洗藥劑按體積比(9~11):1配制,將清洗藥液加熱至80℃~85℃,將磷化銦晶片按順序放入化蠟卡塞,進行化蠟,過藥時間控制在200s~300s,化蠟之后沖水100s~300s,最后將磷化銦晶片甩干,完成化蠟過程。
優(yōu)選的,所述無機清洗藥劑包括以下組分:
四甲基氫氧化銨1wt%~3wt%;
聚乙二醇13wt%~15wt%;
正己烷13wt%~15wt%;
焦磷酸鈉2wt%~5wt%;
余量的超純水。
優(yōu)選的,步驟a)中所述氧化劑溶液為高錳酸鉀溶液、過氧化氫溶液或硝酸鉀溶液;所述氧化劑溶液的濃度為3%~8%。
優(yōu)選的,步驟a)中所述酸溶液為硫酸溶液、硝酸溶液、鹽酸溶液或醋酸溶液;所述酸溶液的濃度為0.28%~0.32%。
優(yōu)選的,步驟a)中所述氧化劑溶液、酸溶液和水的體積比為1:(0.5~1.5):(2~3)。
優(yōu)選的,步驟a)中所述混合藥液的pH值為0.8~1.2。
優(yōu)選的,步驟a)中所述過藥處理的過程具體為:
將拋光、化蠟后的磷化銦晶片按順序放入卡塞中,浸入混合藥液中,控制時間為20min~40min,取出。
優(yōu)選的,步驟b)中所述沖水的時間大于等于60s。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





