[發(fā)明專利]一種測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210766153.1
• 申請(qǐng)日: 2022-07-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115061937A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 屈鵬展;崔恒;祁宏升
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 聯(lián)想（北京）有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36;G06F16/36;G06F16/35;G06F40/194;G06F40/205;G06F40/30
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張影

本申請(qǐng)公開(kāi)了一種測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備，包括：確定與目標(biāo)測(cè)試任務(wù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)；獲得與多個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)相匹配的目標(biāo)知識(shí)圖譜，其中，目標(biāo)知識(shí)圖譜中的實(shí)體與初始測(cè)試目標(biāo)相關(guān)；基于目標(biāo)知識(shí)圖譜中各個(gè)實(shí)體之間的距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的相關(guān)度；基于相關(guān)度對(duì)初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行聚類，得到聚類后的測(cè)試目標(biāo)；生成與聚類后的測(cè)試目標(biāo)相匹配的測(cè)試用例，以使得基于測(cè)試用例完成目標(biāo)測(cè)試任務(wù)。本申請(qǐng)實(shí)現(xiàn)了基于知識(shí)圖譜中實(shí)體的距離，自動(dòng)地、有效地縮小了測(cè)試目標(biāo)的范圍，提升了測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及信息處理技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說(shuō)是涉及一種測(cè)試方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

產(chǎn)品上市前需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中通常需要構(gòu)建測(cè)試方案。測(cè)試方案需要考慮多個(gè)優(yōu)化目標(biāo)，例如，測(cè)試用時(shí)短、測(cè)試用料少、測(cè)試儀器利用率、測(cè)試覆蓋率等等。在多目標(biāo)優(yōu)化問(wèn)題中，優(yōu)化的目標(biāo)越多，計(jì)算的時(shí)間越長(zhǎng)，測(cè)試效率也越低，無(wú)法滿足實(shí)際的測(cè)試需求。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┤缦录夹g(shù)方案：

一種測(cè)試方法，包括：

確定與目標(biāo)測(cè)試任務(wù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)；

獲得與所述多個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)相匹配的目標(biāo)知識(shí)圖譜，其中，所述目標(biāo)知識(shí)圖譜中的實(shí)體與所述初始測(cè)試目標(biāo)相關(guān)；

基于所述目標(biāo)知識(shí)圖譜中各個(gè)實(shí)體之間的距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的相關(guān)度；

基于所述相關(guān)度對(duì)所述初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行聚類，得到聚類后的測(cè)試目標(biāo)；

生成與所述聚類后的測(cè)試目標(biāo)相匹配的測(cè)試用例，以使得基于所述測(cè)試用例完成所述目標(biāo)測(cè)試任務(wù)。

可選地，所述目標(biāo)知識(shí)圖譜中的實(shí)體包括初始測(cè)試目標(biāo)，其中，所述基于所述目標(biāo)知識(shí)圖譜中各個(gè)實(shí)體之間的距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的相關(guān)度，包括：

基于所述目標(biāo)知識(shí)圖譜，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的實(shí)體距離；

基于各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的實(shí)體距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的相關(guān)度。

可選地，所述目標(biāo)知識(shí)圖譜中的實(shí)體還包括與所述初始測(cè)試目標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)因素，其中，所述基于所述目標(biāo)知識(shí)圖譜中各個(gè)實(shí)體之間的距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的相關(guān)度，包括：

基于所述目標(biāo)知識(shí)圖譜，確定各個(gè)目標(biāo)因素之間的實(shí)體距離；

基于所述各個(gè)目標(biāo)因素之間的實(shí)體距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的實(shí)體距離；

基于所述各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的實(shí)體距離，確定各個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)之間的相關(guān)度。

可選地，還包括：

獲得所述初始測(cè)試目標(biāo)的語(yǔ)義描述信息；

對(duì)所述語(yǔ)義描述信息進(jìn)行解析，得到解析結(jié)果；

基于所述解析結(jié)果和所述目標(biāo)測(cè)試任務(wù)，確定所述初始測(cè)試目標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)因素。

可選地，所述基于所述相關(guān)度對(duì)所述初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行聚類，得到聚類后的測(cè)試目標(biāo)，至少包括以下一種：

若所述相關(guān)度大于相關(guān)度閾值，將所述相關(guān)度對(duì)應(yīng)的初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行合并，得到聚類后的第一測(cè)試目標(biāo)；

若所述相關(guān)度小于相關(guān)度閾值，將所述相關(guān)度對(duì)應(yīng)的兩個(gè)初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行保留，得到聚類后的第二測(cè)試目標(biāo)和第三測(cè)試目標(biāo)。

可選地，所述基于所述相關(guān)度對(duì)所述初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行聚類，得到聚類后的測(cè)試目標(biāo)，包括：

若所述相關(guān)度大于相關(guān)度閾值，將所述相關(guān)度對(duì)應(yīng)的初始測(cè)試目標(biāo)進(jìn)行合并，得到第一測(cè)試目標(biāo)；