[發明專利]一種雙脈沖測試方法、裝置、設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202210762686.2
• 申請日: 2022-06-30
• 公開（公告）號: CN115097278A
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發明（設計）人: 張朝山;張續龍;呂琳;高原;萬萌;高戰軍;常安安
• 申請（專利權）人: 特變電工西安電氣科技有限公司;特變電工新疆新能源股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 范巍

本發明公開了一種雙脈沖測試方法、裝置、設備和存儲介質，包括以下步驟：S1、設置示波器參數；S2、進行IGBT雙脈沖測試，同時由上位機調用示波器波形數據遠程讀取程序讀取示波器的雙脈沖波形數據；S3、對讀取的示波形數據進行處理計算和存儲，存儲原始數據和計算到的數據，并保存相關數據或圖形。可以實現通過上位機遠程對示波器進行設置，遠程數據讀取，數據自動處理計算，波形數據存儲到上位機，存儲的波形數據再恢復等功能。

技術領域

本發明屬于電力電子變換器測試領域，具體涉及IGBT基本特性測試技術領域。

背景技術

隨著電力電子行業的發展，IGBT在越來越多的領域廣泛應用。雙脈沖測試方法是應用于IGBT等功率快速開關元件特性評估的一種典型的測試手段。

我們一般是通過Datasheet來認識IGBT的相關特性。但是Datasheet提供的相關參數信息是基于某個特定外部條件測試得來的，而在實際應用中很多外部參數和Datasheet中涉及到的外部參數有很大的不同。因此需要通過雙脈沖測試方法對特定條件下的IGBT參數進行測試，從而評估是否滿足現有場景的使用。

雙脈沖測試可以對比評估不同品牌IGBT的各項動態參數特性；可以評估開通關斷電阻選取的是否合適；可以評估開通、關斷過程是否有不合理的震蕩；可以評估IGBT關斷電壓尖峰是否過高，關斷電壓是否存在震蕩；可以評估IGBT并聯均流特性；可以評估二極管的反向恢復參數是否在安全裕量范圍內；可以測量系統的雜散電感。

在上述雙脈沖測試中對于各種參數的評估，一般都是通過示波器手動讀取波形和進行參數計算。不僅耗時較長而且還會因為人為因素造成讀取誤差，同時不同操作人員的讀取習慣也會造成數據讀取誤差。

發明內容

本發明的提供了一種雙脈沖測試方法、裝置、設備和存儲介質，提高雙脈沖測試的效率，人為測試誤差大等問題。

為達到上述目的，本發明所述一種雙脈沖測試方法，包括以下步驟：

S1、設置示波器的工作模式；向IGBT發送雙脈沖測試信號，示波器接收并顯示IGBT接收所述雙脈沖測試信號時生成的雙脈沖波形數據；

S2、通過上位機讀取示波器的雙脈沖波形數據；

S3、對讀取的雙脈沖波形數據進行計算和存儲：

S3.1、基于雙脈沖IGBT動態參數計算方法，利用雙脈沖波形數據計算IGBT的雙脈沖參數，雙脈沖參數包括驅動參數、電壓參數、電流參數、二極管參數、開關關斷參數和雜散電感；

S3.2、將雙脈沖參數和雙脈沖波形數據存儲到上位機中。

進一步的，在S1中，在設定的工作模式下，根據測試需求設置示波器各個通道參數和探頭參數。

進一步的，所述S1中，當需要進行連續波形監測的時候，將示波器設置為Run模式。

進一步的，S2.1中，驅動參數包括開通電壓Vge+和關斷電壓Vge-；

所述開通電壓Vge+的計算方法為：使用數據分段截取函數在驅動波形高電壓位置上截取X1個采樣點，X1個采樣點的電壓平均值為開通電壓Vge+；

所述關斷電壓Vge-的計算方法為：使用數據分段截取函數在驅動波形低電壓位置上截取X2個采樣點，X2個采樣點的電壓平均值為關斷電壓Vge-。

進一步的，S2.2中，存儲過程為：先選擇存儲路徑，再選擇存儲類型，其中數據類型選擇為DAT、TXT或CSV格式。

一種雙脈沖測試裝置，包括：

雙脈沖信號發生器，用于向IGBT輸出測試用的雙脈沖信號；