[發(fā)明專利]閃存錯(cuò)誤注入系統(tǒng)、固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備及測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210752432.2
• 申請日: 2022-06-29
• 公開（公告）號(hào): CN114822669B
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫麗華;薛紅軍;陳力
• 申請（專利權(quán)）人: 北京得瑞領(lǐng)新科技有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/12
• 分類號(hào): G11C29/12;G11C29/56
• 代理公司: 北京慧智興達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11615
• 代理人: 李麗穎

1.一種閃存錯(cuò)誤注入系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括設(shè)置在固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備中的錯(cuò)誤注入接口、錯(cuò)誤信息存儲(chǔ)模塊、錯(cuò)誤觸發(fā)模塊和錯(cuò)誤信息管理模塊；

錯(cuò)誤注入接口，當(dāng)對固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備的閃存異常處理模塊進(jìn)行功能測試時(shí)與上位機(jī)連接，用于接收上位機(jī)下發(fā)的與待測試的測試用例匹配的插錯(cuò)信息，所述插錯(cuò)信息包括閃存錯(cuò)誤類型、錯(cuò)誤位置信息、錯(cuò)誤發(fā)生次數(shù)、錯(cuò)誤發(fā)生頻率以及錯(cuò)誤觸發(fā)條件；

錯(cuò)誤信息存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)錯(cuò)誤注入接口接收到的插錯(cuò)信息；

錯(cuò)誤觸發(fā)模塊，用于在固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備根據(jù)上位機(jī)測試請求進(jìn)行閃存操作過程中監(jiān)測閃存的操作狀態(tài)，并在閃存的操作狀態(tài)滿足錯(cuò)誤信息存儲(chǔ)模塊中存儲(chǔ)的插錯(cuò)信息的錯(cuò)誤觸發(fā)條件時(shí)，按照當(dāng)前插錯(cuò)信息的閃存錯(cuò)誤類型、錯(cuò)誤位置信息、錯(cuò)誤發(fā)生次數(shù)和錯(cuò)誤發(fā)生頻率觸發(fā)相應(yīng)的閃存錯(cuò)誤消息，實(shí)現(xiàn)閃存錯(cuò)誤注入；

錯(cuò)誤信息管理模塊，用于為錯(cuò)誤信息存儲(chǔ)模塊分配存儲(chǔ)空間以存儲(chǔ)上位機(jī)下發(fā)的插錯(cuò)信息，并對錯(cuò)誤觸發(fā)模塊已經(jīng)觸發(fā)完成的插錯(cuò)信息進(jìn)行刪除，以回收已經(jīng)觸發(fā)完成的插錯(cuò)信息占用的存儲(chǔ)空間。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，閃存錯(cuò)誤類型包括初始化失敗、讀錯(cuò)誤、寫錯(cuò)誤、擦錯(cuò)誤、設(shè)置特征或者特征獲取失效，平面Plane失效或者晶片Die失效。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述錯(cuò)誤位置信息包括物理地址信息和邏輯地址信息，所述物理地址信息包括芯片選通地址CE、邏輯單元號(hào)Lun、平面Plane、物理塊Block、物理頁P(yáng)age以及扇區(qū)Sector；

所述錯(cuò)誤觸發(fā)模塊，還用于當(dāng)錯(cuò)誤位置信息為邏輯地址信息時(shí)，根據(jù)預(yù)設(shè)的邏輯地址到物理地址的映射關(guān)系解析出所述邏輯地址信息對應(yīng)的物理閃存位置；或所述錯(cuò)誤信息管理模塊，還用于在錯(cuò)誤信息存儲(chǔ)模塊進(jìn)行插錯(cuò)信息存儲(chǔ)之前，根據(jù)預(yù)設(shè)的邏輯地址到物理地址的映射關(guān)系解析出所述邏輯地址信息對應(yīng)的物理閃存位置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述錯(cuò)誤信息管理模塊，用于根據(jù)錯(cuò)誤觸發(fā)條件確定插錯(cuò)信息對應(yīng)的錯(cuò)誤是否在本次上電周期內(nèi)完成觸發(fā)，若是則將該插錯(cuò)信息的存儲(chǔ)空間分配在固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備內(nèi)部的隨機(jī)存取存儲(chǔ)介質(zhì)中，否則，將該插錯(cuò)信息的存儲(chǔ)空間分配在固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備內(nèi)部的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)中。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述錯(cuò)誤信息管理模塊，還用于記錄上位機(jī)下發(fā)的插錯(cuò)信息和已經(jīng)觸發(fā)的插錯(cuò)信息，并提供插錯(cuò)信息查詢功能。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述錯(cuò)誤注入接口采用上述固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備固有的用戶IO接口或預(yù)留的擴(kuò)展接口實(shí)現(xiàn)。

7.一種固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括IO處理模塊、閃存異常處理模塊和如權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的閃存錯(cuò)誤注入系統(tǒng)；

所述IO處理模塊，用于接收上位機(jī)的測試請求，并根據(jù)測試請求進(jìn)行閃存操作，所述測試請求中攜帶有待測試的測試用例；

所述異常處理模塊，用于在接收到錯(cuò)誤觸發(fā)模塊觸發(fā)的閃存錯(cuò)誤消息之后，進(jìn)入閃存異常處理流程，實(shí)現(xiàn)對閃存異常處理模塊的功能測試。

8.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，包括上位機(jī)和如權(quán)利要求7所述的固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備，所述上位機(jī)包括測試用例管理模塊和錯(cuò)誤注入模塊；

所述錯(cuò)誤注入模塊，用于當(dāng)對固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備的閃存異常處理模塊進(jìn)行功能測試時(shí)建立與錯(cuò)誤注入接口的連接，生成或從預(yù)設(shè)的插錯(cuò)信息庫中選取與待測試的測試用例匹配的插錯(cuò)信息，并通過錯(cuò)誤注入接口下發(fā)到固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備；

測試用例管理模塊，用于在完成插錯(cuò)信息下發(fā)操作后，發(fā)送測試請求以啟動(dòng)相應(yīng)測試用例中的測試操作。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機(jī)還包括：

測試模塊，用于在測試用例執(zhí)行過程中，判斷固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備中閃存異常處理模塊的處理行為是否符合預(yù)期操作設(shè)定，如果不符合預(yù)期操作設(shè)定則進(jìn)行報(bào)錯(cuò)，以表明固態(tài)存儲(chǔ)設(shè)備的閃存異常處理模塊功能不正確。