[發明專利]一種深度學習的圖像防篡改系統及方法在審
| 申請號: | 202210738773.4 | 申請日: | 2022-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN114936986A | 公開(公告)日: | 2022-08-23 |
| 發明(設計)人: | 張學武 | 申請(專利權)人: | 張學武 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T7/00;G06T7/10;G06T7/90;G06V10/764;G06N3/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 422400 湖南省邵陽*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深度 學習 圖像 篡改 系統 方法 | ||
1.一種深度學習的圖像防篡改系統及方法,其特征在于包括以下步驟:
圖像采集過程中,設備不可避免地要引入模式噪聲,這是不同設備的特有屬性,即使兩個型號完全相同的設備,其模式噪聲也會有所不同;
1)模式噪聲估計算法需要事先建立訓練集,將已知相同型號的設備作為一類,利用去噪算法過濾出圖像的“殘余噪聲”作為這一類圖像的參考噪聲;然后對比待檢測圖像的殘余噪聲和訓練集中的各類參考噪聲,從而確定設備的型號;
2)彩色圖像設備成像過程中,通常只采集RGB三色通道中的其中一種顏色信息,然后再利用CFA(color filter array)插值獲取其他兩種顏色;通過此種方法形成的圖像,其RGB三色通道之間往往存在一定的相關性,不同的設備使用的插值算法和模型也不同,CFA插值算法就是利用了這個特性判斷圖像的來源;然后利用SVM對19種不同設備產生的圖像進行分類;
3)設備在進行圖像采集時,光學鏡頭的失真會最終引入到生成的圖像中,給圖像帶來幾何特性的變化,不同的設備帶來的幾何變化不同,光學鏡頭失真算法就是用了設備成像的這種特性進行圖像來源分類,通過提取圖像中的直線失真對圖像的來源進行鑒別,通過對三種設備圖像進行分類。
2.根據權利要求1所述的一種深度學習的圖像防篡改系統及方法,其特征在于步驟1)中:所述圖像采集過程具體步驟為;
1)圖像克隆被動取證由于圖像采集的多樣性,同一張圖像中的噪聲、紋理完全相同的區域幾乎不可能出現,而圖像克隆篡改方法將導致圖像中出現了兩個完全相同的區域,因此該類取證方法的關鍵在于尋找圖像中兩個完全相同的區域;
2)圖像拼接被動取證這種方法針對的是不同圖像的復制-粘貼篡改方法,該方法產生的篡改圖像其統計特性會發生改變,并且邊緣特征也會發生變化,通過濾波器對圖像進行處理,凸顯圖像邊緣特征,從而發現真實區域與篡改區域之間的邊緣差異;
3)重采樣被動取證一般對圖像進行克隆或拼接等篡改操作以后,偽造者會對合成區域進行縮放、旋轉,使其尺寸或者形態更符合視覺感受,對圖像尺寸的縮放即重采樣,通常采用插值算法來增加(上采樣)或減少(下采樣)圖像像素,這就會改變圖像原有的統計特性。
3.根據權利要求1所述的一種深度學習的圖像防篡改系統及方法,其特征在于步驟2)中:所述彩色圖像設備成像過程不同成像設備采取的顏色濾波陣列CFA往往存在差異,通過對比分析CFA插值的相關性判斷圖像真偽,對CFA插值帶來的特殊相關系數進行量化,提出了一種能夠自動在圖像人一部分檢測這種相關系數的方法,從而可以判斷圖像的篡改區域,鑒別圖像的真偽。
4.根據權利要求1所述的一種深度學習的圖像防篡改系統及方法,其特征在于步驟3)的具體方法為:
(1)為了避免提取圖像語義特征,研究者們從傳統圖像取證方法中受到啟發,采用圖像塊級別提取特征的方法[36],在提取特征之前,首先將圖像分割成大小相同的圖像塊,然后再逐一提取圖像塊的篡改特征(如手工設計特征、圖像統計特征等),通過將圖像分割為圖像塊,避免了單一圖像塊中有完整的語義主體,同時對圖像塊的處理也提升了模型的效率,但隨著人們對模型識別精度的要求不斷提升,基于圖像塊的方法定位較為粗糙,倘若將圖像分割為更小的圖像塊,又將會導致計算成本提升,為了解決這個問題,Bappy,等人[37]提出了一種基于像素級別概率映射的方法,建立了圖像塊級別與像素級別的映射關系,作者建立了CNN-LSTM圖像被動取證模型,首先通過卷積操作提取重疊圖像塊的特征,然后采用LSTM網絡捕捉不同圖像塊像素之間上下文依賴關系,計算像素級別的篡改概率映射,最終輸出像素級別的修改區域掩碼(mask);
(2)需要對虛假圖像中的篡改區域進行定位,輸出內容有兩種方式,一種是以boundingbox的方式輸出,另一種是以篡改區域二進制掩碼(mask)的方式輸出,很多基于深度學習的圖像被動取證方法,由于不同篡改手段所具備的特征具有很大差異,大多數模型只能對一種篡改方式進行識別,少數模型可以實現多種篡改方式的識別,本文接下來將按照拼接檢測、復制-粘貼檢測、計算機生成檢測、多種操作檢測四類進行詳述。
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