[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器及其內(nèi)部檢測(cè)電路的校準(zhǔn)方法、存儲(chǔ)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210725194.6 | 申請(qǐng)日: | 2022-06-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115101110A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沙觀宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G11C16/26 | 分類號(hào): | G11C16/26;G11C29/02;G11C29/12 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138 | 代理人: | 李芳 |
| 地址: | 430000 湖北省武*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ)器 及其 內(nèi)部 檢測(cè) 電路 校準(zhǔn) 方法 存儲(chǔ)系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N存儲(chǔ)器及其內(nèi)部檢測(cè)電路的校準(zhǔn)方法、存儲(chǔ)系統(tǒng),屬于存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域。本申請(qǐng)?zhí)峁┑姆桨钢?,校?zhǔn)電路中的控制電路能夠控制字線驅(qū)動(dòng)電路為充電電路充電或放電,并能夠通過(guò)電阻配置電路在充電電路與接地端之間形成電流通路,以模擬存儲(chǔ)器中字線上的電壓變化過(guò)程。在模擬電壓變化的過(guò)程時(shí),該控制電路還能獲取內(nèi)部檢測(cè)電路對(duì)檢測(cè)節(jié)點(diǎn)的電壓進(jìn)行檢測(cè)得到的檢測(cè)結(jié)果。由于該檢測(cè)結(jié)果可以反映內(nèi)部檢測(cè)電路對(duì)檢測(cè)節(jié)點(diǎn)的電壓的檢測(cè)靈敏度,因此可以基于該檢測(cè)結(jié)果校準(zhǔn)內(nèi)部檢測(cè)電路對(duì)存儲(chǔ)器中的字線進(jìn)行漏電檢測(cè)時(shí)的檢測(cè)參數(shù)。由此,可以有效避免因內(nèi)部檢測(cè)電路自身檢測(cè)靈敏度的差異,導(dǎo)致漏電檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種存儲(chǔ)器及其內(nèi)部檢測(cè)電路的校準(zhǔn)方法、存儲(chǔ)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
存儲(chǔ)器中一般集成有內(nèi)部檢測(cè)電路,該內(nèi)部檢測(cè)電路能夠檢測(cè)存儲(chǔ)器中各字線的漏電流。該漏電流的大小可以用于判斷存儲(chǔ)器是否滿足出廠標(biāo)準(zhǔn)。
在檢測(cè)存儲(chǔ)器中的目標(biāo)字線的漏電流時(shí),內(nèi)部檢測(cè)電路能夠先將該目標(biāo)字線充電至預(yù)設(shè)電壓。之后,內(nèi)部檢測(cè)電路可以將該目標(biāo)字線置為浮置(float)狀態(tài)。在目標(biāo)字線處于浮置狀態(tài)的時(shí)長(zhǎng)達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)后,內(nèi)部檢測(cè)電路可以檢測(cè)該目標(biāo)字線上的電壓,并可以基于檢測(cè)到的電壓確定該目標(biāo)字線的漏電流是否在允許的范圍內(nèi)。
但是,受制造工藝的精度的限制,不同存儲(chǔ)器中的內(nèi)部檢測(cè)電路的檢測(cè)靈敏度會(huì)存在差異。由此,對(duì)于漏電流相同的字線,不同存儲(chǔ)器中的內(nèi)部檢測(cè)電路的漏電檢測(cè)結(jié)果可能會(huì)不同。也即是,內(nèi)部檢測(cè)電路自身檢測(cè)靈敏度的差異會(huì)對(duì)漏電檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性造成影響。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N存儲(chǔ)器及其內(nèi)部檢測(cè)電路的校準(zhǔn)方法、存儲(chǔ)系統(tǒng),可以解決內(nèi)部檢測(cè)電路自身檢測(cè)性能的差異對(duì)漏電檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性造成影響的技術(shù)問(wèn)題。所述技術(shù)方案如下:
第一方面,提供了一種存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器包括:字線驅(qū)動(dòng)電路、內(nèi)部檢測(cè)電路和校準(zhǔn)電路,所述校準(zhǔn)電路包括:電阻配置電路、充電電路和控制電路;
所述電阻配置電路分別與所述校準(zhǔn)電路中的檢測(cè)節(jié)點(diǎn)和接地端連接,所述電阻配置電路用于在所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)和所述接地端之間形成電流通路,所述電流通路的電阻值為目標(biāo)阻值;所述充電電路與所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)連接;
所述控制電路分別與所述字線驅(qū)動(dòng)電路、所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)和所述內(nèi)部檢測(cè)電路連接,所述控制電路用于:控制所述字線驅(qū)動(dòng)電路為所述充電電路充電或放電;將所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)置為浮置狀態(tài),并控制所述內(nèi)部檢測(cè)電路檢測(cè)所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)的電壓;以及獲取所述內(nèi)部檢測(cè)電路輸出的檢測(cè)結(jié)果。
可選地,所述電阻配置電路包括:一個(gè)電阻,或者多個(gè)電阻;所述多個(gè)電阻串聯(lián)或并聯(lián)在所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)和所述接地端之間。
可選地,所述電阻配置電路還包括:與所述多個(gè)電阻中的至少一個(gè)電阻連接的至少一個(gè)第一開(kāi)關(guān);所述控制電路還用于控制所述至少一個(gè)第一開(kāi)關(guān)的通斷狀態(tài),以調(diào)節(jié)用于形成所述電流通路的電阻的數(shù)量,使所述電流通路的電阻值為所述目標(biāo)阻值。
可選地,若所述多個(gè)電阻串聯(lián)在所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)和所述接地端之間,則每個(gè)第一開(kāi)關(guān)的兩端與所述多個(gè)電阻中的至少一個(gè)電阻并聯(lián);
若所述多個(gè)電阻并聯(lián)在所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)和所述接地端之間,則每個(gè)第一開(kāi)關(guān)的一端與一個(gè)電阻的一端連接,每個(gè)第一開(kāi)關(guān)的另一端與所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)或所述接地端連接。
可選地,所述校準(zhǔn)電路還包括:電流檢測(cè)電路;所述電流檢測(cè)電路與所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)連接,所述電流檢測(cè)電路用于向所述檢測(cè)節(jié)點(diǎn)加載所述目標(biāo)電壓,并檢測(cè)所述電流通路中的電流;
所述控制電路還與所述電流檢測(cè)電路連接,所述控制電路用于根據(jù)所述電流檢測(cè)電路檢測(cè)到的電流,調(diào)節(jié)所述電阻配置電路的電阻值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司,未經(jīng)長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210725194.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問(wèn)操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





