[發明專利]一種基于多子帶融合處理的電離層空變TEC測量方法在審
| 申請號: | 202210722315.1 | 申請日: | 2022-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN115061137A | 公開(公告)日: | 2022-09-16 |
| 發明(設計)人: | 郭威;高新成;李小平;沈方芳 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G01S13/90 | 分類號: | G01S13/90;G01S13/95 |
| 代理公司: | 西安智大知識產權代理事務所 61215 | 代理人: | 賀建斌 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 多子帶 融合 處理 電離層 tec 測量方法 | ||
1.一種基于多子帶融合處理的電離層空變TEC測量方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一:距離向快速傅里葉變換;
針對全極化SAR獲取的四個極化通道圖像數據SHH、SHV、SVH、SVV,沿每個方位采樣時刻(按行)進行快速傅里葉變換(FFT),得到距離向頻譜數據SHH-F、SHV-F、SVH-F、SVV-F;
步驟二:計算距離向帶寬采樣點數;
根據雷達系統參數,計算距離向帶寬采樣點數Num_Bw;
步驟三:計算距離向頻譜子帶數據帶寬采樣點數;
根據頻譜子帶分割數N,計算頻譜子帶數據所包含帶寬采樣點數Num_sub;
步驟四:沿距離向頻譜分割處理,計算各極化通道頻譜子帶數據矩陣;
結合步驟二及步驟三計算得到的距離向帶寬采樣點數Num_Bw以及頻譜子帶帶寬采樣點數Num_sub,針對四個極化通道的距離向頻譜數據SHH-F、SHV-F、SVH-F、SVV-F,分別利用頻譜分割處理,計算四個極化通道各自對應的N個頻譜子帶數據矩陣;
步驟五:距離向快速逆傅里葉變換;
根據步驟四計算得到的四個極化通道各自對應的N個頻譜子帶數據矩陣,分別沿每個方位采樣時刻(按行)快速逆傅里葉變換(IFFT)處理,獲取四個極化通道各自對應的N個距離向子帶圖像數據;
步驟六:估計各子帶圖像所含法拉第旋轉角;
分別選取每個子帶對應的四個極化通道子帶圖像數據,通過線性組合得到一組正交圓極化波信號Z12和Z21,通過該組正交圓極化波信號共軛相乘取幅角FRtemp,對FRtemp進行平滑處理后得到法拉第旋轉角估計值FR,遍歷第1至第N組子帶圖像得到所有子帶圖像對應的法拉第旋轉角估計值FR1、FR2、…FRN;
步驟七:獲取空變TEC測量結果;
根據雷達系統參數,計算各子帶圖像所對應中心頻率f0,利用法拉第旋轉角與TEC線性對應關系分別計算各子帶圖像所含空變TEC值,采用平均處理獲取最終空變TEC測量結果。
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