[發明專利]回轉窯工藝參數控制方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210700648.4
• 申請日: 2022-06-20
• 公開（公告）號: CN115186996A
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 毛嘉昀;包垚垚;余明釗
• 申請（專利權）人: 阿里云計算有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q10/04;G06Q50/04;F27B7/42
• 代理公司: 北京智信四方知識產權代理有限公司 11519
• 代理人: 呂雁葭

1.一種回轉窯工藝參數控制方法，包括：

獲取回轉窯的狀態參數和能耗參數，所述狀態參數表征所述回轉窯的運行狀態，所述能耗參數用于計算所述回轉窯的能耗；

根據所述狀態參數確定所述回轉窯的窯況綜合指標，所述窯況綜合指標表征所述回轉窯的燒成狀況；

根據所述窯況綜合指標、所述狀態參數、所述能耗參數，確定所述回轉窯的工藝參數設定值。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述根據所述狀態參數確定所述回轉窯的窯況綜合指標，包括：

根據實時獲取的所述狀態參數，使用窯況綜合指標預測模型確定所述回轉窯的窯況綜合指標，其中，所述窯況綜合指標預測模型是使用所述回轉窯的歷史狀態參數和歷史能耗參數訓練得到的。

3.根據權利要求2所述的方法，還包括：

獲取所述回轉窯在指定歷史時間段內的歷史狀態參數和歷史能耗參數；

根據所述回轉窯的歷史狀態參數，確定所述回轉窯在第k時刻的過程狀態表征序列s_k，所述過程狀態表征序列中的元素包括所述歷史狀態參數在第k時刻按照多個時間窗口截取的時序片段，根據所述回轉窯的歷史能耗參數，確定所述回轉窯在歷史第k時刻的懲罰系數r_k；

根據所述回轉窯的歷史狀態參數和歷史能耗參數，確定所述回轉窯在第k時刻+Ts的過程狀態表征序列s_k’，所述過程狀態表征序列中的元素包括所述歷史狀態參數在第k時刻+Ts按照多個時間窗口截取的時序片段，Ts是狀態觀測步長；

使用所述過程狀態表征序列s_k、所述過程狀態表征序列s_k’、所述狀態觀測步長Ts、所述懲罰系數r_k，訓練所述窯況綜合指標預測模型。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述使用所述過程狀態表征序列s_k、所述過程狀態表征序列s_k’、所述狀態觀測步長Ts、所述懲罰系數r_k，訓練所述窯況綜合指標預測模型，包括：

使用所述窯況預測模型，獲取所述過程狀態表征序列s_k的對應預測結果；

使用所述窯況預測模型，獲取所述過程狀態表征序列s_k’的對應預測結果；

使用所述過程狀態表征序列s_k的對應預測結果、所述過程狀態表征序列s_k’的對應預測結果、所述狀態觀測步長Ts、所述懲罰系數r_k構造損失函數；

以最小化所述損失函數為目標，訓練所述窯況綜合指標預測模型。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，所述使用所述窯況預測模型，獲取所述過程狀態表征序列s_k的對應預測結果，包括，針對所述過程狀態表征序列s_k：

對所述過程狀態表征序列s_k中的時序片段進行窗口聚合，得到聚合時序片段，其中，所有聚合時序片段具有相同的長度；

計算所述聚合時序片段的均值和標準差，并對所述聚合時序片段進行零均值和單位標準差處理，得到零均值片段；

對所述零均值片段進行聚類，得到多個類別；

計算所述零均值片段屬于任一類別的概率；

根據所述零均值片段屬于任一類別的概率和相應聚合時序片段的標準差，得到相應聚合時序片段的類別特征；

將所述聚合時序片段的類別特征和所述聚合時序片段的均值輸入所述窯況綜合指標預測模型，得到所述過程狀態表征序列s_k的對應預測結果。