[發明專利]利用漫反射校正的熒光示蹤劑的非入侵監測方法在審
| 申請號: | 202210697974.4 | 申請日: | 2018-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN115120241A | 公開(公告)日: | 2022-09-30 |
| 發明(設計)人: | 金伯莉·舒爾茨;珍妮弗·凱汀;愛德華·所羅門;卡特·貝克特爾 | 申請(專利權)人: | 麥迪貝肯有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/20 | 分類號: | A61B5/20;A61B5/00;A61B5/1455;G01J1/04;G01J1/44;G01J3/02;G01J3/12;G01J3/28;G01J3/32;G01J3/36;G01J3/51 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 王紅艷 |
| 地址: | 美國密*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 漫反射 校正 熒光 示蹤劑 入侵 監測 方法 | ||
1.一種監測從來自具有時變光學性質的漫反射介質內的熒光劑發射的時變熒光信號的方法,所述方法包括:
設置包括多個測量數據條目的測量數據集,每個測量數據條目包括在施用所述熒光劑之前和之后在一個數據采集時間從患者共同獲得的至少兩個測量值,所述至少兩個測量值選自:
在由來自鄰近所述漫反射介質的第一區域的激發波長光照射所述漫反射介質期間,由未濾波光檢測器在鄰近所述漫反射介質的第二區域處檢測到的DRex信號,其中,所述DRex信號表示由所述未濾波光檢測器從所述第二區域接收的所有光的組合強度;
在由來自所述第一區域的激發波長光照射所述漫反射介質期間,由濾波光檢測器在鄰近所述漫反射介質的第三區域處檢測到的Flr信號,其中,所述Flr信號表示由所述濾波光檢測器從所述第三區域接收的發射波長光的強度;
在由來自所述第一區域的發射波長光照射所述漫反射介質期間,由所述未濾波光檢測器在所述第二區域處檢測到的DRem信號,其中,所述DRem信號表示由所述未濾波光檢測器從所述第二區域接收的所有光的所述組合強度;以及
在由來自所述第一區域的發射波長光照射所述漫反射介質期間由所述濾波光檢測器在所述第三區域處檢測到的DRem,filtered信號;其中,所述DRem,filtered信號表示由所述濾波光檢測器從所述第三區域接收的發射波長光的組合強度;
識別所述測量數據集的后試劑施用部分;以及
將所述測量數據集的所述后試劑施用部分內的每個測量數據條目的每個Flr信號轉換為IF信號,所述IF信號表示僅由來自所述漫反射介質內的所述熒光劑發射的檢測到的熒光強度,其中,轉換包括根據轉換關系組合所述至少兩個測量值,所述轉換關系包括將Flr轉換為IF的數學等式;
其中,所述至少兩個測量值中的至少一個包括所述Flr信號。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述轉換關系由等式(20)組成:
其中,IF表示僅由所述熒光劑發射的熒光強度,并且kex、kem和kem,filtered分別是項DRex、DRem和DRem,filtered的指數;
其中,DRex、DRem和DRem,filtered表示漫反射校正測量信號。
3.根據權利要求2所述的方法,其中,kex、kem和kem,filtered是從先前測量數據集的先前分析中預先確定的。
4.根據權利要求2所述的方法,其中,通過全局誤差映射方法確定kex、kem和kem,filtered,包括:
形成建議的指數值的三個向量,三個向量中的每個向量分別包括kex、kem和kem,filtered的多個建議值;
使用來自所述三個向量的建議值的每個組合,根據所述轉換關系,對所述測量數據的所述后試劑施用部分內的每個測量數據條目的每個Flr信號進行轉換,以形成多個轉換后的數據測量集;
對所述多個轉換后的數據測量集中的每個數據測量集的所述測量數據條目的至少一部分,執行單指數曲線擬合以獲得多個曲線擬合誤差,每個曲線擬合誤差對應于來自所述三個向量的建議的指數值的一個組合;
匯編誤差映射,所述誤差映射包括映射到由兩個或多個正交軸限定的體積的所述多個曲線擬合誤差的至少一部分,每個正交軸包括來自所述三個向量中的一個向量的建議的指數值的范圍;
識別所述誤差映射內的最小曲線擬合誤差;以及
選擇與所述最小曲線擬合誤差相對應的建議的指數值以用于等式(20)。
5.根據權利要求4所述的方法,其中,所述多個曲線擬合誤差中的每個曲線擬合誤差包括所述單指數曲線擬合的歸一化均方根擬合誤差。
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