[發明專利]車載天線的測試系統在審
| 申請號: | 202210693196.1 | 申請日: | 2022-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN115097219A | 公開(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發明(設計)人: | 于偉;覃麗 | 申請(專利權)人: | 深圳市通用測試系統有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 曹延鵬 |
| 地址: | 518100 廣東省深圳市寶安區航*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 車載 天線 測試 系統 | ||
本發明提供了一種車載天線的測試系統,該測試系統中,當承載面連接有反射板時,或,當反射板從承載面中伸出時,該車載天線的測試系統可以用于半電波暗室測試;而當承載面不連接反射板時,或,當反射板縮回至承載面中時,該車載天線的測試系統可以用于全電波暗室測試,也就是說,本發明的車載天線的測試系統,既具有全電波暗室測試的功能,也具有半電波暗室測試的功能,并且兩種功能可以通過反射板的拆裝或伸縮的方式進行便利的切換,實現成本低,能適應更多的測試要求,緩解了現有的車載天線的測試系統無法兼顧全電波暗室測試和半電波暗室測試的技術問題。
技術領域
本發明涉及通信的技術領域,尤其是涉及一種車載天線的測試系統。
背景技術
整車天線安裝在整車車體上,例如,汽車天線安裝在汽車整車車體上、坦克天線安裝在坦克整車車體上,在整車情況下,整車天線的性能(例如,方向圖、增益等)更加反映整車天線的真實性能,以下,安裝在整車車體上,處于實際工作環境下的整車天線稱之為“車載天線”。
目前,相關技術對車載天線性能的測試多采用球面測試,球面測試的測試坐標系如圖1所示,有幾種測試系統可以用于車載天線的性能測試,分別是全電波暗室測試系統、半電波暗室測試系統和室外開放場地測試系統。5GAA汽車協會對上述三種測試系統都予以認可。
其中,全電波暗室測試系統包括屏蔽體111、吸波材料112(如圖2所示),屏蔽體111通常由金屬板制作,其作用是屏蔽外界的電磁波,形成一個沒有外部電磁波干擾的測試環境,屏蔽體111的內壁上鋪滿吸波材料112,其作用是吸收入射的電磁波,將電磁波經過屏蔽體111內部的反射降低至設計的要求。全電波暗室測試系統還包括水平放置的轉臺121,轉臺上設有升降機122,升降機122可以將待測整車升起,轉臺121帶動升降機122和待測整車一起轉動。設置升降機122的原因在于,在全電波測試中,測試區域與轉臺121上的吸波材料112之間需要保持一定距離,測試區域才能滿足靜區的條件。測量天線13設置在一個圓弧形軌道上,并可以在圓弧形軌道上滑動,以實現在圓弧形軌跡上的采樣,或者多個測量天線13固定安裝在天線支撐架上,且多個測量天線13呈圓弧形分布,通過電子開關切換各測量天線,以實現同樣的采樣。測試時,轉臺121(含升降機122)帶動待測整車轉動,測量天線13在圓弧形軌道上移動采樣或多個測量天線13在θ角度切換采樣,測量天線13就可以在一個圍繞待測整車的局部的球面上的多個空間位置對車載天線進行測試。全電波暗室測試系統具有如下特點,球面測試的測試坐標系的中心即圓弧形軌跡的圓心位于轉臺121的轉動中心的正上方,距離屏蔽體111底面的高度為H1,圓弧形的半徑是R,轉臺121上鋪設吸波材料112,待測整車位于如圖3所示的測試坐標系中,在坐標系中,測量天線轉動到Z軸正方向時即圖1中示出的測試坐標系中的θ=0°,轉動到X軸正方向時即θ=90°。在全電波暗室測試系統中,因待測整車下面需要鋪設吸波材料112,所以采用升降機122將待測整車頂起,測量天線的轉動范圍可以超過90°,只要將待測整車頂起足夠高,圓弧形軌道延伸到X軸以下,θ角度可以達到120°。
與全電波暗室測試系統相比,半電波暗室測試系統的地面不鋪設吸波材料112,而其它的面鋪設吸波材料112(如圖4所示),半電波暗室測試系統內也設有水平放置的轉臺121,測量天線的設置與全電波暗室測試系統類似,與全電波暗室測試系統不同的是,圓弧形軌跡的圓心位于轉臺121的轉動中心,且位于轉臺121的上表面(或者距離上表面一定的距離),轉臺121上不需要設置升降機122,待測整車放置在轉臺121上,測試時不需要頂起。半電波暗室測試系統具有如下特點,圓弧形軌跡的圓心位于轉臺121中心的正上方,且位于轉臺的上表面,轉臺121上沒有鋪設吸波材料112,待測整車直接放置在轉臺121上,即待測整車也位于如圖3所示的測試坐標系中,待測整車下方和周圍不鋪設吸波材料112,而是根據測試需要,在轉臺121上和待測整車周圍的地面鋪設用于模擬真實地面的材料,以進行電磁波的反射,用于模擬待測整車的真實的使用場景。在半電波暗室測試系統中,測量天線的轉動范圍最大可以達到90°,無法延伸到X軸以下,測量的角度范圍無法超過90°。
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