[發明專利]一種精密測試組件的自動打磨設備及自動打磨方法

在審

• 申請號: 202210681331.0
• 申請日: 2022-06-15
• 公開（公告）號: CN115026693A
• 公開（公告）日: 2022-09-09
• 發明（設計）人: 李瑞峰;張強;郭靖
• 申請（專利權）人: 深圳順絡電子股份有限公司
• 主分類號: B24B27/00
• 分類號: B24B27/00;B24B41/00;B24B41/06;B24B27/02;B24B47/12;B24B47/22;B24B1/00
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 江耀鋒

1.一種精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，包括工作臺，設于所述工作臺上的高精度絲桿模組及其驅動部件、打磨部件及其驅動部件，以及固定治具和人機交互裝置；

所述打磨部件包括第一砂輪和/或第二砂輪，所述第一砂輪和/或所述第二砂輪的打磨面按預定的打磨角度和位置設于所述固定治具的兩側；

所述固定治具用于并排固定多個待打磨精密測試組件，能在所述高精度絲桿模組的帶動下做往復運動；

所述人機交互裝置用于打磨參數的設定和/或呈現。

2.如權利要求1所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，所述固定治具還設有校準部。

3.如權利要求2所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，所述校準部是設于所述固定治具頂部的校準斜面，所述校準斜面與所述打磨面平行。

4.如權利要求3所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，所述校準斜面包括第一斜面和第二斜面，所述第一斜面和所述第二斜面分別與所述第一砂輪的打磨面和所述第二砂輪的打磨面平行。

5.如權利要求4所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，還包括校準塊，所述校準塊是具有預設厚度的片狀，且上表面和下表面相互平行，用于置于所述第一砂輪和/或所述第二砂輪的打磨面和所述校準斜面之間，以便進行校準操作。

6.如權利要求1所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，所述第一砂輪和所述第二砂輪是金剛石砂輪。

7.如權利要求1所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，所述固定治具可固定不少于50個待打磨精密測試組件。

8.如權利要求2所述的精密測試組件的自動打磨設備，其特征在于，所述校準部跟所述固定治具是一體結構或分體結構。

9.一種精密測試組件的自動打磨方法，其特征在于，采用如權利要求1-8任一項所述的自動打磨設備，將多個待打磨精密測試組件裝設并固定于所述固定治具中后，驅動所述打磨部件旋轉并驅動所述高精度絲桿模組往復運動，以帶動所述固定治具做往復運動，從而帶動所述多個待打磨精密測試組件的打磨部位依次與所述打磨部件接觸而得以打磨，并且往復多次，直到打磨完畢。

10.如權利要求1所述的精密測試組件的自動打磨方法，其特征在于，還包括校準操作，根據設定的校準周期或根據打磨效果進行校準操作；

所述校準操作通過所述人機交互裝置和/或所述校準塊實現。