[發明專利]一種有機薄膜深度方向垂直相分離的新表征方法

在審

• 申請號: 202210666386.4
• 申請日: 2022-06-13
• 公開（公告）號: CN115015141A
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 侯曉清;徐婧謹;師鳴遙;李想
• 申請（專利權）人: 徐婧謹
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/33;G06F30/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種有機薄膜深度方向垂直相分離的新表征方法，其特征在于，該方法基于直流電源、光源、等離子體真空倉、光纖、光譜儀和數據采集終端所構成的系統實現，其包括以下步驟：

1)制作OSCs器件，并將其有機層旋涂于基底上，同時將器件固定于原位；

2)通過直流電源啟動光源，利用紫外-可見分光光度計測試所述有機層的吸收光譜，通過光譜儀實時采集吸收光譜數據；

3)通過定制光纖將所述光源的光路引入電容耦合等離子體發生器中，利用等離子體對所述有機層表面進行選擇性刻蝕，將所述有機層從上表面刻蝕到下表面，并實時采集深度方向每一個亞層的吸收光譜變化，獲取到深度方向組分分布，同時將深度方向亞層吸收光譜按照刻蝕方向從上往下排列，通過特征吸收峰的移動計算深度方向結晶度的演化，獲取到深度方向結晶度變化；

4)利用光學模型和電學模型進行仿真模擬計算，計算出所述有機層內的深度方向能級分布和激子分布，最后模擬出器件的各種光伏參數。

2.根據權利要求1所述的一種有機薄膜深度方向垂直相分離的新表征方法，其特征在于，所述有機層采用共混物薄膜。

3.根據權利要求1所述的一種有機薄膜深度方向垂直相分離的新表征方法，其特征在于，所述深度方向組分分布獲取時，需計算兩個物理量，其分別為每個亞層的厚度和組分比；所述每個亞層的厚度采用最小二乘法來擬合。

4.根據權利要求1所述的一種有機薄膜深度方向垂直相分離的新表征方法，其特征在于，所述步驟3)還包括根據每個亞層的吸收光譜，計算出消光系數k，進而計算出復折射率由于有機材料的折射率n變化范圍很小，此處設為2。