[發明專利]用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺與驗光方法

在審

• 申請號: 202210665406.6
• 申請日: 2022-06-13
• 公開（公告）號: CN115183991A
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 石拓;張榮偉;傅戈雁;魏超
• 申請（專利權）人: 蘇州大學
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04;C23C24/10;B22F10/28;B22F12/00;B33Y30/00
• 代理公司: 南京行高知識產權代理有限公司 32404
• 代理人: 王培松;王菊花

1.一種用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺，其特征在于，包括：

平行光源裝置，具有光源(11)、圓形光管(12)以及光束調整機構，所述光源(11)被設置用于朝向圓形光管(12)方向發射光束；圓形光管(12)用于對射入的光束進行準直，輸出平行光束(17)；所述光束調整機構被設置用于調節輸出的平行光束(17)的俯仰角度和/或傾斜角度；

環形聚焦鏡組，位于平行光源裝置的下方位置，被設置用于對入射的平行光束(17)進行聚焦，獲得環形聚焦光束(26)出射；

光電檢測裝置，包括一用于成像的光電轉換傳感器(50)，位于環形聚焦鏡組的下方位置，所述由環形聚焦鏡組聚焦出射的環形聚焦光束(26)投影至該光電檢測裝置的表面形成環形聚焦光斑，并通過該光電檢測裝置對環形聚焦光斑成像，獲得光斑圖像；

離焦調節裝置，位于環形聚焦鏡組下方位置，所述離焦調節裝置具有一用以支承光電檢測裝置的離焦平臺(31)，光電檢測裝置位于離焦平臺(31)的中心位置。

2.根據權利要求1所述的用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺，其特征在于，所述環形聚焦鏡組包括圓錐鏡(21)、聚焦環鏡鏡組(22)、鏡組支架(23)、移動底座(24)及平臺底托(25)，所述圓錐鏡(21)位于環形聚焦鏡組的中央位置，用于接收平行光束(17)入射；所述聚焦環鏡鏡組(22)與圓錐鏡(21)相對并同軸設置安裝于鏡組支架(23)之上；所述圓錐鏡(21)、聚焦環鏡鏡組(22)、鏡組支架(23)三者同軸安裝并放置于移動底座(24)的上方；所述移動底座(24)固定在平臺底托(25)之上。

3.根據權利要求2所述的用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺，其特征在于，所述移動底座(24)包括固定滑塊(241)、滑塊微調旋鈕(242)以及滑塊槽盤(243)；

所述滑塊槽盤(243)位于鏡組支架(23)下方，用于支承所述鏡組支架(23)；

所述滑塊槽盤(243)的上表面沿著周向均勻地設置多個直線型槽，沿著周向布置的每個固定滑塊(242)嵌入滑塊槽盤(243)對應的直線型槽內，并可沿槽口方向直線運動，實現對不同直徑的鏡組支架(23)的容納放置；

所述滑塊微調旋鈕(242)與固定滑塊(241)一一對應設置，用于在徑向調節支承在滑塊槽盤(243)內的鏡組支架(23)的位置。

4.根據權利要求3所述的用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺，其特征在于，所述滑塊槽盤(243)包括一中心圓孔以及在中心圓孔外周均勻設置的所述直線型槽，鏡組支架(23)支承在中心圓孔內；

所述滑塊微調旋鈕(242)與對應的固定滑塊(241)之間螺紋連接，并且滑塊微調旋鈕(242)穿過固定滑塊(241)，抵接至鏡組支架(23)的外周，通過旋轉滑塊微調旋鈕(242)以在徑向微調環形聚焦鏡組的位置，使其與平行光源裝置對中，與平行光源裝置形成共光軸分布。

5.根據權利要求1所述的用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺，其特征在于，所述離焦調節裝置還包括底板(36)、設置于底板(36)上表面與離焦平臺(31)之間的離焦高度調節機構以及微調旋鈕(32)，所述離焦高度調節機構包括由兩個支架(34)通過中間鉸接形成的剪刀結構，剪刀結構的兩個下臂位于底板(36)上表面設置的滑槽內，剪刀結構的兩個上臂位置設置一絲桿，絲桿的末端設置所述微調旋鈕(32)，通過旋轉微調旋鈕(32)使得絲桿旋轉以帶動剪刀結構的兩個下臂在底板(36)上表面設置的滑槽內滑動，實現對離焦平臺(31)的高度調節，以調節離焦高度。

6.根據權利要求1～5中任意一項所述的用于檢驗光內送粉熔覆噴頭內部環形聚焦鏡組的驗光平臺，其特征在于，所述平行光源裝置中，圓形光管(12)位于光源(11)的出射方向；

所述圓形光管(12)包括過渡段(12A)和準直鏡筒(12B)；所述光源(11)連接至所述過渡段(12A)，并朝向過渡段(12A)所限定的圓柱形中空內腔發射光束；

所述準直鏡筒(12B)固定于過渡段(12A)的下方，用于對穿過過渡段(12A)的光束進行準直。