[發明專利]OLED顯示器實際應用環境下的殘影時間評測方法

在審

• 申請號: 202210639769.2
• 申請日: 2022-06-09
• 公開（公告）號: CN115424579A
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 段瑜;楊啟鳴;芶國汝;錢福麗;王永宏;毛智民;秦國輝;王體爐
• 申請（專利權）人: 云南北方奧雷德光電科技股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3208
• 分類號: G09G3/3208
• 代理公司: 昆明祥和知識產權代理有限公司 53114
• 代理人: 張亦凡

OLED顯示器實際應用環境下的殘影時間評測方法，屬于OLED顯示器殘影評測技術領域，具體為一種OLED顯示器在實際應用環境下的殘影時間評測方法。本發明的方法首先基于黑白棋盤格顯示下的殘影出現時間，結合OLED顯示器實際使用模式和外界溫度進行實際應用環境下的器件殘影時間的推算。本發明的方法解決了現有的OLED顯示器殘影出現時間的評估方法中存在的脫離實際應用環境的問題，考慮實際應用環境的影響提出了一套科學合理的殘影出現時間的評估方法。

技術領域

本發明屬于OLED顯示器性能評測技術領域，具體為一種OLED顯示器實際應用環境下的殘影時間評測方法。

背景技術

OLED，即有機發光二極管(Organic Light-Emitting Diode)是近年來發展較快的一種新興顯示技術，是通過有機材料自發光來實現顯示，該顯示技術具有自主發光、低電壓直流驅動、全固化、視角寬、重量輕、節省電能、工藝簡單等一系列特點，被業界公認是繼LCD之后的第三代顯示技術，目前已越來越多地應用在手機、數碼相機等便攜產品中。

OLED顯示器由于自發光的特性，在OLED屏幕長時間顯示靜態畫面和高亮度畫面后，有機材料會因為持續發光而加快老化速度，在顯示屏幕上留下顯示畫面的殘影，從而影響OLED 顯示器的使用，而從顯示器開始使用到出現殘影影像的時間就定義為殘影時間。

依照王俊生等人論文公開的殘影時間常規評測方法，起始時間點為T₁，OLED顯示器開始并持續播放差異色塊圖像；每隔一段時間間隔t時,切換播放純色色塊圖像,用色彩分析儀測試純色色塊的區域亮度；當色塊的一區域和二區域亮度差異達到5％時,時間記為T_n,則認為殘影產生,則殘影時間為T_n～T₁；否則繼續上述過程直至殘影產生，這種常規檢測方法一般要達到上萬小時，這種檢測方法所采用差異色塊圖像亮度差異較小，且差異色塊圖像僅占整個顯示器的較小區域，并未進行顯示器的全屏差異化圖像測試，該測試方法無法表征出顯示器極限測試條件下的殘影數據，此外該檢測方法僅測評了列舉方法下的殘影時間，并未引入影響殘影時間的相關因子。

發明內容

本發明的目的是提出一種接近實際應用環境下的殘影評測方法，用于全面評價接近實際使用環境下的殘影時間。

本發明的一種OLED顯示器實際應用環境下的殘影時間評測方法，其特征在于：用全屏黑白棋盤格顯示的方式，黑白棋盤格顯示的方式構建了差異化圖像亮度差異的極值條件，通過全屏黑白畫面顯示來確認黑白棋盤格條件下的殘影出現時間，結合OLED顯示器實際使用模式以及使用環境溫度進行實際應用環境下的殘影時間的推算，具體為：

①RI_act＝RI_model×f_temp；

②RI_model＝f_model×RI_pattern；

③f_model＝f_diff×f_work；

④f_diff＝[1/(L_diff/L_pattern)^1.7]；

合并以上公式，即得：

RI_act＝RI_model×f_temp＝f_model×RI_pattern×f_temp＝f_diff×f_work×RI_pattern×f_temp＝[1/(L_diff/L_pattern)^1.7]×f_work