[發明專利]基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 202210633099.3
• 申請日: 2022-06-07
• 公開（公告）號: CN114719707B
• 公開（公告）日: 2022-09-13
• 發明（設計）人: 楊洪濤;陳衛寧;張廣棟;程塨;王長青;彭建偉
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所;西北工業大學
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01M11/02
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 王少文

1.一種基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測裝置，其特征在于：包括環形轉臺(1)、標記板(2)、標記筆(3)、平移臺(4)和調整組件(5)；

待檢柱體(01)為空心結構，其上具有至少一條柱面槽線(02)，待檢柱體(01)包括至少一個等徑段，每條柱面槽線(02)位于同一等徑段；

所述標記板(2)設置在平移臺(4)一側的固定底座上；

所述平移臺(4)上表面設置所述環形轉臺(1)和調整組件(5)，調整組件(5)包括位于環形轉臺(1)內的調整臺(51)、設置在調整臺(51)上的中心軸(52)，以及套設在中心軸(52)上的多個環狀滑架(53)，所述中心軸(52)垂直于平移臺(4)的運動方向且平行于標記板(2)的標記面，環形轉臺(1)的旋轉軸與中心軸(52)重合；

待檢柱體(01)的每條柱面槽線(02)內設置一個所述標記筆(3)，每個標記筆(3)包括標記部(31)、連接部(33)，以及位于標記部(31)和連接部(33)之間的彈性部，所述連接部(33)與對應的環狀滑架(53)連接，且伸入設置在中心軸(52)上的滑槽(54)內，滑槽(54)平行于中心軸(52)軸線。

2.根據權利要求1所述的一種基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測裝置，其特征在于：所述連接部(33)與所在柱面槽線(02)的寬度適配，連接部(33)穿過所在柱面槽線(02)與對應的環狀滑架(53)螺紋連接，連接部(33)位于柱面槽線(02)內的部分上設置有潤滑介質。

3.根據權利要求2所述的一種基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測裝置，其特征在于：所述連接部(33)與所在柱面槽線(02)側壁之間的配合間隙小于0.01mm。

4.根據權利要求3所述的一種基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測裝置，其特征在于：所述標記板(2)的標記面的平面度不超過0.01mm。

5.一種基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測方法，其特征在于，采用權利要求1所述的一種投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測裝置，包括如下步驟：

步驟1、在環形轉臺(1)上通過調整組件(5)設置待檢柱體(01)，并使待檢柱體(01)與環形轉臺(1)、中心軸(52)同軸；

步驟2、在待檢柱體(01)的每條柱面槽線(02)內設置一個標記筆(3)，并將標記筆(3)置于所在柱面槽線(02)的起始端，標記筆(3)位于所在柱面槽線(02)的中心線上且標記筆(3)的中軸線垂直于標記板(2)的標記面；調整標記板(2)位置使標記筆(3)的長度能夠滿足使標記部(31)與標記板(2)的標記面接觸；

步驟3、同時啟動平移臺(4)和環形轉臺(1)，平移臺(4)帶動環形轉臺(1)平行于標記板(2)的標記面移動，環形轉臺(1)帶動待檢柱體(01)旋轉，使每條柱面槽線(02)內的標記筆(3)在標記板(2)的標記面標記出所在柱面槽線(02)的軌跡，從而得到待檢柱體(01)柱面槽線(02)的平面軌跡復原圖；

步驟4、將步驟3所得待檢柱體(01)柱面槽線(02)的平面軌跡復原圖導入制圖軟件，與理論柱面槽線(02)的平面軌跡進行疊加比對，得出各條柱面槽線(02)的誤差值。

6.根據權利要求5所述的一種基于投影軌跡復原的柱體柱面槽線精度檢測方法，其特征在于：步驟3中，所述平移臺(4)的移動速度不大于2cm/s，環形轉臺(1)的旋轉速度不大于30°/s。