[發明專利]基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統及方法

在審

• 申請號: 202210631045.3
• 申請日: 2022-06-06
• 公開（公告）號: CN115184847A
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 鮑偉偉;李可禮;鄭保紅;陳磊
• 申請（專利權）人: 無錫澤磁科技有限公司
• 主分類號: G01R33/00
• 分類號: G01R33/00;G01R33/12;G06F30/20
• 代理公司: 江蘇無錫蘇匯專利代理事務所(普通合伙) 32593
• 代理人: 沈彬彬

本發明公開了基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統及方法，溫度與檢測信息偏差量分析模塊，所述溫度與檢測信息偏差量分析模塊用于分析產品檢測設備中永磁體的溫度產生變化時，相應的永磁體的磁通密度的變化量，并結合產品檢測設備中磁通密度變化量與產品檢測信息偏差量之間的關系，得到溫度與產品檢測信息偏差量之間的關系。本發明能夠有效預測出產品檢測設備相應時間對應的溫度變化量，結合產品檢測設備中溫度與產品檢測信息偏差量之間的關系，進而能夠精準預測出產品檢測設備在相應時間對應產品檢測信息偏差量，實現對產品檢測信息的校準，確保產品檢測結果的準確性。

技術領域

本發明涉及工業檢測技術領域，具體為基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統及方法。

背景技術

隨著永磁體技術的發展，人們對永磁體的運用越來越廣泛，在工業領域中，人們將永磁體制作成電機或者產品檢測設備，前者提高了生產的效率，后者能夠有效實現對產品質量的快速檢測，實現對產品的品質把控。

當前基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統中，只是單純的運用包含永磁體的檢測設備對生產過程中的產品進行檢測，分析產品的檢測信息，進而判斷出產品是否合格，但是現有技術中沒有考慮到產品檢測設備中永磁體溫度變化對產品檢測結果的影響，因此，現有的基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統存在較大的缺陷。

發明內容

本發明的目的在于提供基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統及方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為了解決上述技術問題，本發明提供如下技術方案：基于互聯網的永磁體檢測信息處理系統，包括：

設備管理模塊，所述設備管理模塊用于對包含永磁體的產品檢測設備進行管理，并對各個產品檢測設備進行編號；

溫度變化因素分析模塊，所述溫度變化因素分析模塊分析產品檢測設備的開啟時長、檢測一個產品持續的時長及檢測產品的頻率這三個方面分別對產品檢測設備中永磁體的溫度的影響，分別得到第一溫度影響函數、第二溫度影響函數及第三溫度影響函數，

并將編號為i的產品檢測設備對應的第一溫度影響函數記為F1i(t)，

將編號為i的產品檢測設備對應的第二溫度影響函數記為F2i(t1)，

將編號為i的產品檢測設備對應的第三溫度影響函數記為F3i(t)，

所述t為編號為i的產品檢測設備開啟的時長，所述t1表示編號為i的產品檢測設備檢測一個產品時持續的時長；

溫度與檢測信息偏差量分析模塊，所述溫度與檢測信息偏差量分析模塊用于分析產品檢測設備中永磁體的溫度產生變化時，相應的永磁體的磁通密度的變化量，并結合產品檢測設備中磁通密度變化量與產品檢測信息偏差量之間的關系，得到溫度與產品檢測信息偏差量之間的關系；

檢測信息偏差量預測模塊，所述檢測信息偏差量預測模塊根據溫度變化因素分析模塊及溫度與檢測信息偏差量分析模塊中的分析結果，實時對產品檢測設備相應的檢測信息偏差量進行預測；

檢測信息校準模塊，所述檢測信息校準模塊根據檢測信息偏差量預測模塊中預測的檢測信息偏差量，對產品檢測設備對產品的檢測信息進行校準，并根據校準后的產品檢測信息判斷產品的質量是否合格。

進一步的，所述溫度變化因素分析模塊包括開啟時長溫度影響模塊、檢測時長溫度影響模塊及檢測頻率溫度影響模塊，

所述開啟時長溫度影響模塊用于獲取產品檢測設備在未檢測產品的狀態下不同開啟時長下，永磁體溫度的變化函數，記為第一溫度影響函數；

所述檢測時長溫度影響模塊用于獲取產品檢測設備檢測一件產品時，從產品檢測的起始時間點至終止時間點對應的檢測時間區間內，不同檢測時長對應的產品檢測設備中永磁體溫度變化函數，記為第二溫度影響函數；