[發明專利]智能芯片測試系統

在審

• 申請號: 202210626876.1
• 申請日: 2022-06-06
• 公開（公告）號: CN115015285A
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 楊介波
• 申請（專利權）人: 楊介波
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了智能芯片測試系統，該系統包括底板、固定架和活動架，所述底板頂端固定設置有固定架，所述底板頂端開設有第一滑槽，所述活動架底端活動設置有滾輪，所述活動架頂端設置有第一運輸機構。本發明待檢測芯片安置在運輸輪之間位置，并且通過搖桿轉動轉盤，從而帶動螺桿轉動，如此使得活動架通過滾輪沿著第一滑槽內部移動，如此調節活動架與固定架之間間隔距離，直到運輸輪將芯片夾持固定，如此方便對不同大小的芯片進行固定檢測，并且運輸時水平位置上芯片位置固定，無需人工再進行芯片的定位工作，提高了檢測效。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，具體為智能芯片測試系統。

背景技術

集成電路又叫芯片，縮寫作IC；或稱微電路（microcircuit）、微芯片（microchip）、晶片/芯片（chip）在電子學中是一種將電路（主要包括半導體設備，也包括被動組件等）小型化的方式，并時常制造在半導體晶圓表面上。

現有的芯片在加工生產后需要對芯片外表面進行檢測，從而確定芯片的質量，而現有的檢測系統在檢測時需要對芯片一側面進行檢測，檢測完成后人工反轉，然后對芯片另一側面進行檢測，如此降低了檢測效率，并且人工反轉檢測也降低了檢測的連續性，而且芯片檢測時需要將芯片移動至一定位置范圍內，從而需要手動對芯片進行一定的定位，也降低了芯片的檢測效率，而且芯片在檢測前還需要進行清潔處理，防止芯片外側污漬影響檢測結果，清潔增加了操作步驟，降低了檢測效率，所以急需要一種系統來解決上述問題。

發明內容

本發明的目的在于提供智能芯片測試系統，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：智能芯片測試系統，包括底板、固定架和活動架，所述底板頂端固定設置有固定架，所述底板頂端開設有第一滑槽，所述活動架底端活動設置有滾輪，所述活動架頂端設置有第一運輸機構，所述固定架頂端設置有第二運輸機構，所述第一運輸機構與第二運輸機構之間設置有調節機構，所述第一運輸機構頂端設置有第一傳動輪，所述第二運輸機構頂端設置有第二傳動輪，所述第一傳動輪與第二傳動輪之間環繞設置有第一傳動帶，所述第一傳動帶為交叉帶，所述第一運輸機構頂端設置有傳動機構，所述第一運輸機構頂端設置有第一齒輪，所述固定架外側設置有檢測機構，所述第一運輸機構與第二運輸機構之間設置有除雜機構。

優選的，所述第一運輸機構包括第三傳動輪、第三傳動帶和運輸輪，所述第一運輸機構頂端活動設置有第三傳動輪，所述第三傳動輪之間環繞設置有第三傳動帶，所述第一齒輪、第一傳動輪和第二傳動輪均與第三傳動輪同軸安裝，所述第一運輸機構內部活動卡接設置有運輸輪，所述運輸輪數量與第三傳動輪數量相同，并且運輸輪與第三傳動輪同軸安裝。

優選的，所述調節機構包括轉盤、搖桿、螺桿、刻度尺、空心塊、空心桿和第一定位桿，所述固定架內部通過螺紋穿插設置有螺桿，所述螺桿一側活動卡接在活動架內部，所述螺桿一側固定設置有轉盤，所述轉盤一側固定設置有搖桿，搖桿通過轉盤轉動螺桿，所述活動架一側固定設置有空心塊，所述固定架一側固定設置有刻度尺，所述刻度尺活動穿過空心塊內部，在使用時將待檢測芯片安置在運輸輪之間位置，并且通過搖桿轉動轉盤，從而帶動螺桿轉動，如此使得活動架通過滾輪沿著第一滑槽內部移動，如此調節活動架與固定架之間間隔距離，直到運輸輪將芯片夾持固定，如此方便對不同大小的芯片進行固定檢測，并且運輸時水平位置上芯片位置固定，無需人工再進行芯片的定位工作，提高了檢測效率。