[發明專利]一種低成本高隔離度的芯片通信測試系統

在審

• 申請號: 202210622062.0
• 申請日: 2022-06-02
• 公開（公告）號: CN115021832A
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發明（設計）人: 郭寧敏;祖坡;楊成
• 申請（專利權）人: 上海磐啟微電子有限公司
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04B17/29
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 吳軼淳

本發明提供一種低成本高隔離度的芯片通信測試系統，包括：待測芯片，用于發射第一射頻信號；配合測試芯片，用于發射第二射頻信號；調節模塊，包括：一第一鏈路，用于對第一射頻信號進行調節得到調節后第一射頻信號并發射至配合測試芯片進行解調；第二鏈路，用于對第二射頻信號進行調節得到調節后第二射頻信號并發射至待測芯片進行解調；待測芯片根據調節后第二射頻信號處理得到第一衰減量，配合測試芯片根據調節后第一射頻信號處理得到第二衰減量，結合配合測試芯片的第一發射功率和第一接收靈敏度處理得到測試芯片的第二發射功率和第二接收靈敏度。有益效果是本系統設置三個衰減電路和兩個混頻電路，大大提高衰減能力，提高測試效率。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，尤其涉及一種低成本高隔離度的芯片通信測試系統。

背景技術

對未知的射頻芯片進行通信測試是芯片測試中的基本項，主要通過對應的儀器來完成射頻芯片的射頻指標測試，比如通過信號源測試接收靈敏度和通過頻譜儀測試發射功率等指標。

但是這種方案存在早期測試投入大，測試成本高的問題，自動化開發的難度較大，采用屏蔽箱技術隔離的方式對生產極其不便，無法實現集成在同一板子上，需要專門的屏蔽箱隔離，使環境的復雜度變高。

發明內容

針對現有技術中存在的問題，本發明提供一種低成本高隔離度的芯片通信測試系統，包括：

一待測芯片，所述待測芯片設置于一測試板上，用于發射一第一射頻信號；

一配合測試芯片，設置于所述測試板上，用于發射一第二射頻信號；

一調節模塊，設置于所述待測芯片和所述配合測試芯片之間，包括：

一第一鏈路，用于對所述第一射頻信號進行調節得到一調節后第一射頻信號并將所述調節后第一射頻信號發射至所述配合測試芯片進行解調；

一第二鏈路，用于對所述第二射頻信號進行調節得到一調節后第二射頻信號并將所述調節后第二射頻信號發射至所述待測芯片進行解調；

一測試機，分別連接所述調節模塊、所述待測芯片和所述配合測試芯片，用于根據所述調節后第二射頻信號對應的解調結果得到一第一衰減量，并根據所述調節后第一射頻信號對應的解調結果得到一第二衰減量，以及根據所述第一衰減量、所述第二衰減量和預先測量得到的所述配合測試芯片的一第一發射功率以及一第一接收靈敏度處理得到所述待測芯片的一第二發射功率和一第二接收靈敏度。

優選的，所述待測芯片通過一分選機連接所述測試板。

優選的，還包括一第一濾波電路，分別連接所述待測芯片和調節模塊，用于濾除所述第一射頻信號之外的信號。

優選的，還包括一第二濾波電路，分別連接所述配合測試芯片和所述調節模塊，用于濾除所述第二射頻信號之外的信號。

優選的，所述第一鏈路包括：

一第一衰減電路，用于對所述第一射頻信號的功率進行衰減得到一第一衰減信號；

一第一混頻電路，連接所述第一衰減電路，用于對所述第一衰減信號的功率進行變頻得到一第一變頻信號；

一第二衰減電路，連接所述第一混頻電路，用于對所述第一變頻信號進行衰減得到一第二衰減信號；

一第二混頻電路，連接所述第二衰減電路，用于對所述第二衰減信號進行變頻得到一第二變頻信號；

一第三衰減電路，連接所述第二混頻電路，用于對所述第二變頻信號進行衰減得到所述調節后第一射頻信號并將所述調節后第一射頻信號發射至所述配合測試芯片。