[發明專利]中冷器清洗系統的控制方法、清洗系統及電子裝置

在審

• 申請號: 202210614683.4
• 申請日: 2022-05-31
• 公開（公告）號: CN114937797A
• 公開（公告）日: 2022-08-23
• 發明（設計）人: 馬秋玉;李金成;韓令海;趙洪輝;盛夏;王宇鵬;郭冬來;鮑金成;潘興龍;浦及;丁天威
• 申請（專利權）人: 中國第一汽車股份有限公司
• 主分類號: H01M8/04992
• 分類號: H01M8/04992;H01M8/0444;H01M8/04029;B08B13/00;B08B3/10
• 代理公司: 北京博浩百睿知識產權代理有限責任公司 11134
• 代理人: 謝湘寧

1.一種中冷器清洗系統的控制方法，其特征在于，所述方法包括：

采集中冷器的入口端的第一離子濃度、所述中冷器的出口端的第二離子濃度；

基于所述第一離子濃度、所述第二離子濃度確定離子析出率；

基于所述離子析出率生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制中冷器清洗系統的控制組件的工作參數，其中，所述工作參數包括如下至少之一：所述控制組件的加熱器的功率、所述控制組件的水泵的轉速、所述控制組件的閥門的開啟時長。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述離子析出率生成第一控制指令，包括：

所述控制組件以第一工作參數運行時，獲取第一開啟時長內的第一離子析出率，其中，所述第一工作參數為所述工作參數的預設初始值，所述第一工作參數用于確定所述控制組件的第一工作狀態；

響應于所述第一離子析出率小于第一閾值，對所述第一工作參數進行調整處理，得到第二工作參數，所述第二工作參數用于確定所述控制組件的第二工作狀態。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，對所述第一工作參數進行調整處理，得到第二工作參數之后，基于所述離子析出率生成第一控制指令，還包括：

所述控制組件以第二工作參數運行時，獲取第二開啟時長內的第二離子析出率，響應于所述第二離子析出率小于第二閾值，對所述第二工作參數重復進行調整處理，直至所述控制組件以調整后的所述第二工作參數運行時的所述離子析出率滿足預設條件。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一離子濃度、所述第二離子濃度確定離子析出率，包括：

計算所述第一離子濃度與所述第二離子濃度的差值為所述離子析出率。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述中冷器的出口端與設置有第一開關閥的排液支路連通，所述排液支路用于將流經所述出口端的清洗液導通至廢水箱中，采集所述中冷器的出口端的第二離子濃度之后，所述方法還包括：

響應于所述第二離子濃度大于預設濃度，生成第二控制指令，所述第二控制指令用于控制所述第一開關閥處于開啟狀態。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述中冷器的出口端與設置有第二開關閥的循環支路連通，所述循環支路用于將所述清洗液導通至與所述控制組件連通的清水箱中，采集所述中冷器的出口端的第二離子濃度之后，所述方法還包括：

響應于所述第二離子濃度小于或等于所述預設濃度，生成第三控制指令，所述第三控制指令用于控制所述第二開關閥處于開啟狀態。

7.一種中冷器清洗系統，其特征在于，包括：

采集單元，用于采集中冷器的入口端的第一離子濃度、所述中冷器的出口端的第二離子濃度；

確定單元，用于基于所述第一離子濃度、所述第二離子濃度確定離子析出率；

生成單元，基于所述離子析出率生成第一控制指令，所述第一控制指令用于控制中冷器清洗系統的控制組件的工作參數，其中，所述工作參數包括如下至少之一：所述控制組件的加熱器的功率、所述控制組件的水泵的轉速、所述控制組件的閥門的開啟時長。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的程序，其中，在所述程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質所在設備執行權利要求1至6中任意一項所述的方法。

9.一種處理器，其特征在于，所述處理器用于運行程序，其中，所述程序被設置為運行時執行所述權利要求1至6任一項中所述的方法。

10.一種電子裝置，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行所述權利要求1至6任一項中所述的方法。