[發(fā)明專利]一種鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210604276.5
• 申請日: 2022-05-31
• 公開（公告）號: CN114980543A
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李寅
• 申請（專利權(quán)）人: 江西合力泰科技有限公司
• 主分類號: H05K3/22
• 分類號: H05K3/22;H05K3/26;G01R31/52;G06F3/044
• 代理公司: 廈門智慧呈睿知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 35222
• 代理人: 鄭晉升

本發(fā)明公開一種鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法，本方法針對功能測試檢測出發(fā)生短路的線路，使用電流發(fā)生器，對發(fā)生短路的線路的任意位置進行電擊，使短路部分熔斷，則修復(fù)了細微短路。本發(fā)明的修復(fù)方法能有效熔斷造成短路的細微粉塵，且不會損傷導(dǎo)電銀路，修復(fù)時無需針對短路位置精準電擊，只需要在發(fā)生短路的兩條線路的任意導(dǎo)通位置進行電擊，優(yōu)選面積較大的金手指部位，均能熔斷粉塵，消除短路不良，修復(fù)省時省力，修復(fù)效率高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及細微線路短路修復(fù)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法。

背景技術(shù)

電容屏導(dǎo)電膜制作結(jié)構(gòu)及工藝有很多種，除面內(nèi)可視區(qū)(VA)與可操作區(qū)(AA)的ITO導(dǎo)電層之外，外圍導(dǎo)電部分一般使用導(dǎo)電銀漿印刷8～12um厚度導(dǎo)電膜，再使用激光器進行鐳雕，將不需要的部分高溫擊穿汽化，形成需要的線寬線距線路。這種工藝對銀漿和環(huán)境要求較高，且因為激光鐳雕設(shè)備和環(huán)境因素，外圍銀漿銀線部分鐳雕之后，線距內(nèi)經(jīng)常存在肉眼不可分辨的細微粉塵，功能測試為短路，該短路具體位置難以通過目視檢出，也不能擦拭以免損壞線路，而需要通過高倍顯微鏡來檢出短路位置的細微粉塵，再進行精準定位鐳雕修復(fù)，此方法耗時耗力，生產(chǎn)效率低。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于鐳雕后的銀漿線路存在細微粉塵導(dǎo)致的短路，通過高倍顯微鏡來檢出短路位置的細微粉塵，再進行精準定位鐳雕修復(fù)，耗時耗力且生產(chǎn)效率低的問題，本發(fā)明提出一種高效修復(fù)細微短路的方法，具體如下。

一種鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法，本方法針對功能測試檢測出發(fā)生短路的線路，使用電流發(fā)生器，對發(fā)生短路的線路的任意位置進行電擊，使短路部分熔斷，則修復(fù)了細微短路(細微粉塵導(dǎo)致的短路)。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，設(shè)置電流發(fā)生器的放電電壓為500～1500V，放電電流≤7mA。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，設(shè)置電流發(fā)生器的放電電壓為1000V，放電電流5mA。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，對發(fā)生短路的線路任意位置進行電擊1～10次，每次電擊的時間≤10毫秒。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，每次電擊后進行功能測試，測試通過則停止電擊，測試不通過則繼續(xù)電擊。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，在電擊時，選擇對發(fā)生短路的線路的金手指位置進行電擊。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，所述電流發(fā)生器的頭部安裝有金屬材質(zhì)的尖端放電頭，在電擊時靠近發(fā)生短路的線路表面至0.5～3mm。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，所修復(fù)的發(fā)生細微短路處的導(dǎo)電銀路的線寬為40～100μm，并且相鄰導(dǎo)電銀路之間的間隙寬度為3～30μm。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，所修復(fù)的發(fā)生細微短路處的導(dǎo)電銀路的線寬為相鄰導(dǎo)電銀路之間的間隙寬度的2倍以上。

作為本發(fā)明的鐳雕后導(dǎo)電銀路細微短路的修復(fù)方法的進一步改進，所述的細微短路為粉塵落在兩條銀路之間，造成這兩條銀路為阻值2MΩ級以上的短路；在電擊修復(fù)該短路之前，還使用萬用表測量確認兩條銀路之間的電阻，若為2MΩ以上，再進行電擊修復(fù)。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的修復(fù)方法能有效熔斷造成短路的細微粉塵(該粉塵一般為銀漿粉塵)，且不會損傷導(dǎo)電銀路，修復(fù)時無需針對短路位置精準電擊，只需要在發(fā)生短路的兩條線路的任意導(dǎo)通位置進行電擊，優(yōu)選面積較大的金手指部位，均能熔斷粉塵，消除短路不良，修復(fù)省時省力，修復(fù)效率高。

附圖說明