[發明專利]沖擊試樣缺口采集方法、裝置、存儲介質及設備

在審

• 申請號: 202210587202.5
• 申請日: 2022-05-27
• 公開（公告）號: CN115049593A
• 公開（公告）日: 2022-09-13
• 發明（設計）人: 赫鵬;雷亮;丁國;羅琪;赫利;赫辰陽;赫子琛;金湘慧
• 申請（專利權）人: 深圳思邁科技技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20;G06T7/181;G06T7/60;G06T7/73
• 代理公司: 深圳叁眾知識產權代理事務所(普通合伙) 44434
• 代理人: 鄭晨鳴

1.一種沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

獲取試樣缺口的第一圖像，依次進行灰度化處理、建立平面坐標系及平滑降噪處理，以獲得第二圖像；

基于所述第二圖像，沿所述缺口頂部的第一方向所延伸的邊緣自動捕捉第一線段，沿所述缺口頂部的第二方向所延伸的邊緣自動捕捉第二線段，沿所述缺口內壁兩側的邊緣自動捕捉第三線段和第四線段，沿所述缺口底部的邊緣自動捕捉弧線；

根據所述第一線段、所述第二線段、所述第三線段、所述第四線段以及所述弧線建立所述缺口的尺寸模型；

根據所述尺寸模型，獲取所述缺口的夾角、深度、縱軸角度以及底部的弧線半徑長度。

2.根據權利要求1所述的沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，在獲取所述缺口的所述第一圖像前，采集量尺的比例圖像，根據所述量尺任意一段的量程在所述比例圖像上對應的像素距離與實際量程的比例，以確定當前比例尺。

3.根據權利要求1所述的沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，所述基于所述第二圖像，沿所述缺口頂部的第一方向延伸的邊緣自動捕捉第一線段，沿所述缺口頂部的第二方向延伸的邊緣自動捕捉第二線段，沿所述缺口內壁兩側的邊緣自動捕捉第三線段和第四線段，沿所述缺口底部的邊緣自動捕捉弧線的步驟包括以下步驟：

沿所述缺口頂部的第一方向所延伸的邊緣上任意選取兩個第一基點，根據兩個所述第一基點的位置自動捕捉所述第一線段；

沿所述缺口頂部的第二方向所延伸的邊緣上任意選取兩個第二基點，根據兩個所述第二基點的位置自動捕捉所述第二線段；

沿所述缺口內壁第一側的所在邊緣上任意選取兩個第三基點，根據兩個所述第三基點的位置自動捕捉所述第三線段；

沿所述缺口內壁第二側的所在邊緣上任意選取兩個第四基點，根據兩個所述第四基點的位置自動捕捉所述第四線段；

沿所述缺口底部的所在邊緣上任意選取三個第五基點，根據三個所述第五基點的位置自動捕捉所述弧線。

4.根據權利要求1或3所述的沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，所述第一線段、所述第二線段、所述第三線段、所述第四線段以及所述弧線與對應的邊緣重合。

5.根據權利要求1所述的沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，所述第一線段、所述第二線段、所述第三線段、所述第四線段以及所述弧線的位置通過CANNY算法確定。

6.根據權利要求1所述的沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，所述根據所述尺寸模型，獲取所述缺口的夾角、深度、縱軸角度以及底部的弧線半徑長度的步驟包括以下步驟：

根據所述第三線段和所述第四線段的位置，確定所述第三線段和所述第四線段的中心線以及所述第三線段和所述第四線段之間的夾角角度；

延長所述第一線段和所述中心線，確定所述第一線段與所述中心線的交點為A,所述中心線與所述弧線的交點為B；

根據交點A和交點B，確定所述缺口的深度；

根據所述中心線與所述第二線段之間的夾角，確定所述缺口的縱軸角度；

根據所述弧線上任意三個點的坐標，以確定所述缺口底部的弧線半徑長度。

7.根據權利要求1所述的沖擊試樣缺口采集方法，其特征在于，所述平滑降噪處理通過高斯濾波器進行濾波，以去除輸入圖像中的噪聲。

8.一種計算機裝置，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述處理器執行儲存在所述存儲器中的計算機程序時實施如權利要求1至7中任一項所述的方法。

9.一種計算機可讀存儲介質，其上儲存有程序指令，所述程序指令被處理器執行時實施如權利要求1至7中任一項所述的方法。

10.一種沖擊試樣缺口采集設備，其特征在于，包括：

殼體，設有圖像采集區域；

如權利要求8中所述的計算機裝置，設于所述殼體上；

光源，設于所述圖像采集區域處；

攝像頭，設于所述殼體上，所述攝像頭朝向所述圖像采集區域進行拍攝，所述攝像頭與所述計算機裝置電性連接。