[發(fā)明專利]一種電容觸摸屏響應時間的測試系統(tǒng)以及測試方法

在審

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• 申請日: 2022-05-26
• 公開（公告）號: CN115112969A
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發(fā)明（設計）人: 罕方平;鄧恒元;張耀;張濱
• 申請（專利權）人: 深圳精智達技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G05B19/042
• 代理公司: 深圳騰文知識產(chǎn)權代理有限公司 44680
• 代理人: 冼柏龍

1.一種電容觸摸屏響應時間的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：筆頭接觸模塊、點亮模塊、震動感應模塊、光敏感應模塊、微控制單元MCU模塊以及數(shù)據(jù)處理模塊；

所述筆頭接觸模塊分別與所述震動感應模塊以及所述點亮模塊連接，所述筆頭接觸模塊用于控制筆頭與待測試電容觸摸屏的表面進行接觸，所述震動傳感器用于接收所述筆頭與所述待測試電容觸摸屏的表面發(fā)生接觸時所產(chǎn)生的震動信號，所述點亮模塊用于當檢測到所述筆頭與所述待測試電容觸摸屏的表面發(fā)生接觸時，點亮所述待測試電容觸摸屏；

所述MCU模塊分別與所述震動感應模塊以及所述光敏感應模塊連接，所述震動感應模塊用于當檢測到所述待測試電容觸摸屏發(fā)生震動時，輸出第一電信號；所述光敏感應模塊用于當檢測到所述待測試電容觸摸屏點亮時，輸出第二電信號；所述MCU模塊用于當接收到所述第一電信號時，開始計數(shù)；當接收到所述第二電信號時，停止計數(shù)；

所述數(shù)據(jù)處理模塊與所述MCU模塊連接，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于接收所述MCU模塊在開始計數(shù)時所對應的第一計數(shù)值以及停止計數(shù)時所對應的第二計數(shù)值，并根據(jù)所述第一計數(shù)值與所述第二計數(shù)值的差值計算得到所述待測試電容觸摸屏的響應時間。

2.根據(jù)權利要求1中所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括：電容觸摸屏檢測模塊；

所述電容觸摸屏檢測模塊與所述筆頭接觸模塊連接，所述電容觸摸屏檢測模塊用于當檢測到所述待測試電容觸摸屏到達預設位置時，向所述筆頭接觸模塊發(fā)送啟動指令。

3.根據(jù)權利要求2中所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電容觸摸屏檢測模塊為接近式位置傳感器。

4.根據(jù)權利要求1中所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括：顯示模塊；

所述顯示模塊與所述數(shù)據(jù)處理模塊連接，所述顯示模塊用于顯示所述數(shù)據(jù)處理模塊計算得到的所述待測試電容觸摸屏的響應時間。

5.根據(jù)權利要求1中所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)還包括：報警模塊；

所述報警模塊與所述數(shù)據(jù)處理模塊連接，所述報警模塊用于當檢測到所述待測試電容觸摸屏的響應時間大于預設值時，發(fā)出報警信號。

6.根據(jù)權利要求1中所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理模塊根據(jù)所述MCU模塊的CPU時鐘頻率將所述第一計數(shù)值與所述第二計數(shù)值的差值轉換成所述待測試電容觸摸屏的響應時間。

7.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述光敏感應模塊為光敏電阻。

8.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述光敏感應模塊為光敏二極管。

9.根據(jù)權利要求1至6中任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述震動感應模塊為壓電式加速度傳感器。

10.一種電容觸摸屏響應時間的測試方法，其特征在于，包括：

震動感應模塊獲取震動信號，并根據(jù)所述震動信號生成第一電信號，所述震動信號為筆頭與待測試電容觸摸屏的表面發(fā)生接觸時所產(chǎn)生的震動信號；

當MCU模塊接收到所述震動感應模塊發(fā)送的所述第一電信號時，所述MCU模塊開始進行計數(shù)，并獲取對應的第一計數(shù)值；

光敏感應模塊獲取光敏信號，并根據(jù)所述光敏信號生成第二電信號，所述光敏信號為點亮模塊點亮所述待測試電容觸摸屏時所產(chǎn)生的光敏信號；

當所述MCU模塊接收到所述光敏感應模塊發(fā)送的所述第二電信號時，所述MCU模塊停止進行計數(shù)，并獲取對應的第二計數(shù)值；

數(shù)據(jù)處理模塊接收所述MCU模塊發(fā)送的所述第一計數(shù)值和所述第二計數(shù)值；

所述數(shù)據(jù)處理模塊根據(jù)所述第一計數(shù)值和所述第二計數(shù)值的差值計算得到所述待測試電容觸摸屏的響應時間。