[發明專利]玉米抗紋枯病相關基因的KASP分子標記及其應用

在審

• 申請號: 202210577234.7
• 申請日: 2022-05-25
• 公開（公告）號: CN114941039A
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發明（設計）人: 柴文波;王軍;李淑芬;許瀚元;祝慶;李洪濤
• 申請（專利權）人: 連云港市農業科學院
• 主分類號: C12Q1/6895
• 分類號: C12Q1/6895;C12Q1/6858;C12N15/11
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 李曉峰;李德濺

1.用于檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型的物質在如下(1)、(2)或(3)中的應用：

(1)鑒定或輔助鑒定抗紋枯病玉米；

(2)制備用于鑒定或輔助鑒定抗紋枯病玉米的相關產品；

(3)玉米輔助育種或制備用于玉米輔助育種的產品。

2.根據權利要求1所述的應用，其特征在于，所述的與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點位于玉米4號染色體的第180199014位，為SEQ ID No.4的第83位核苷酸，該位點的堿基為A或者C。

3.根據權利要求1或2所述的應用，其特征在于，所述的用于檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型的物質為以下的D1)或D2)：

D1)用于檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型的引物組；

D2)包含D1)中所述引物組的PCR試劑或試劑盒。

4.根據權利要求3所述的應用，其特征在于，所述的用于檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型的引物組包含SEQ ID No.1的第22-39位的單鏈DNA、SEQ ID No.2的第22-39位的單鏈DNA和SEQ ID No.3的單鏈DNA；

或者，包含如SEQ ID No.1所示的Primer X、如SEQ ID No.2所示的Primer Y和如SEQID No.3所示的Primer R。

5.根據權利要求1～4中任意一種所述的應用，其特征在于，檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型，根據待測玉米的基因型選育抗紋枯病玉米品種；基因型為CC的待測玉米為抗紋枯病玉米；基因型為AC或者AA的待測玉米為紋枯病敏感型玉米。

6.用于檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型的引物組，其特征在于：該引物組包含SEQ ID No.1的第22-39位的單鏈DNA、SEQ IDNo.2的第22-39位的單鏈DNA和SEQ ID No.3的單鏈DNA；

或者，包含如SEQ ID No.1所示的Primer X、如SEQ ID No.2所示的Primer Y和如SEQID No.3所示的Primer R；

所述的與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點位于玉米4號染色體的第180199014位，該位點的堿基為A或者C。

7.一種用于檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型的PCR試劑或試劑盒，其特征在于：該PCR試劑或試劑盒包含權利要求2所述的引物組。

8.一種分子標記輔助選育抗紋枯病玉米品種的方法，其特征在于，采用權利要求6所述的引物組或權利要求7所述的PCR試劑或試劑盒檢測與玉米抗紋枯病相關基因FBL緊密連鎖的KASP分子標記位點的多態性或基因型，根據待測玉米的基因型選育抗紋枯病玉米品種；基因型為CC的待測玉米為抗紋枯病玉米；基因型為AC或者AA的待測玉米為紋枯病敏感型玉米。