[發(fā)明專利]光學式間隙測定裝置及光學式間隙測定方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210573256.6 | 申請日: | 2022-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN115388795A | 公開(公告)日: | 2022-11-25 |
| 發(fā)明(設計)人: | 衣笠靜一郎;古谷雅 | 申請(專利權)人: | 阿自倍爾株式會社 |
| 主分類號: | G01B11/14 | 分類號: | G01B11/14;G01B11/02;G01S17/08;G01S7/481 |
| 代理公司: | 上海華誠知識產(chǎn)權代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖華 |
| 地址: | 日本東京都千*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 間隙 測定 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供一種能夠準確且簡單地測定測定對象物的間隙寬度的光學式間隙測定裝置及光學式間隙測定方法。用于測定在作為測量對象物的兩根輥(101、102)之間形成的間隙(d)的寬度的光學式間隙測定裝置(100),具備:投光部(10),其朝向包含間隙(d)的測量對象物投射矩形光束;受光部(20),其相對于間隙配置在與投光部(10)相同的一側(cè),接收來自測量對象物的反射光;以及間隙計算部,其基于從受光部(20)輸出的受光數(shù)據(jù)來計算間隙的寬度,間隙計算部基于與相對較小的光量對應的受光數(shù)據(jù)即第一受光數(shù)據(jù)和與相對較大的光量對應的受光數(shù)據(jù)即第二受光數(shù)據(jù)之比,計算間隙(d)的寬度。
技術領域
本發(fā)明涉及一種光學式間隙測定裝置和光學式間隙測定方法。
背景技術
公開有從測定對象物的一側(cè)照射光,從測定對象物的另一側(cè)接收光,來檢測測定對象物的邊緣的邊緣傳感器(例如,參照專利文獻1)。另外,公開有從測定對象物的間隙的一側(cè)照射光,從測定對象物的另一側(cè)接收通過間隙的光,來檢測測定對象物的間隙的寬度的間隙傳感器(例如,參照專利文獻2)。
現(xiàn)有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本專利特開2004-177335號公報
專利文獻2:日本專利特開2018-44771號公報
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
然而,以往的邊緣傳感器在邊緣不是直角時不能精確地檢測邊緣。另外,以往的間隙傳感器例如在間隙的寬度窄的情況下,難以調(diào)整發(fā)光元件和受光元件的光軸,以使光通過該窄的間隙。
本發(fā)明是為了解決上述問題而完成的,其目的之一在于提供一種能夠準確且簡單地測定測定對象物的間隙寬度的光學式間隙測定裝置及光學式間隙測定方法。
解決問題的技術手段
本發(fā)明的一個方式的光學式間隙測定裝置是測定在作為測量對象物的兩個物體之間形成的間隙的寬度的光學式間隙測定裝置,具備:投光部,其朝向包含間隙的測量對象物投射矩形光束;受光部,其相對于間隙配置在與投光部相同的一側(cè),接收來自測量對象物的反射光;間隙計算部,其基于從受光部輸出的受光數(shù)據(jù)計算間隙的寬度,間隙計算部基于與比較小的光量對應的受光數(shù)據(jù)即第一受光數(shù)據(jù)和與比較大的光量對應的受光數(shù)據(jù)即第二受光數(shù)據(jù)的比,計算間隙的寬度。
在上述一個方式中,投光部也可以投射截面中的光強度分布均勻的矩形光束。
在上述一個方式中,也可以以在被矩形光束照射的區(qū)域中至少包括兩個物體各自的一部分和間隙的中心部的方式配置投光部。
在上述一個方式中,也可以是,受光部包括兩個光電二極管,一個光電二極管配置在來自測量對象物的反射光較少的區(qū)域,另一個光電二極管配置在來自測量對象物的反射光較多的區(qū)域,第一受光數(shù)據(jù)和第二受光數(shù)據(jù)分別與由不同的光電二極管檢測到的光量對應。
在上述一個方式中,也可以是,受光部包含圖像傳感器,第一受光數(shù)據(jù)是與由圖像傳感器檢測到的光量中比判別反射光的暗度的閾值小的光量對應的受光數(shù)據(jù),第二受光數(shù)據(jù)是與由圖像傳感器檢測到的光量中比判別反射光的亮度的閾值大的光量對應的受光數(shù)據(jù)。
在上述一個方式中,間隙計算部也可以根據(jù)預先存儲的間隙的寬度和比的對應關系來計算間隙的寬度。
在上述一個方式中,間隙計算部也可以根據(jù)預先存儲的兩個物體的大小、間隙的寬度以及比的對應關系,計算間隙的寬度。
在上述一個方式中,物體也可以是輥。
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