[發明專利]具有誤差檢測的磁位置傳感器系統、方法和設備

在審

• 申請號: 202210565964.5
• 申請日: 2022-05-23
• 公開（公告）號: CN115406335A
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發明（設計）人: G·克洛斯;E·拉海伊;L·通貝茲
• 申請（專利權）人: 邁來芯電子科技有限公司
• 主分類號: G01B7/00
• 分類號: G01B7/00;G01B7/30
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳依心;黃嵩泉

1.一種位置傳感器設備(302；402；502)，所述位置傳感器設備包括：

-第一傳感器(S1)，所述第一傳感器(S1)被配置用于確定(601)第一傳感器位置(X1)處的第一磁場分量(Bx1)和第二磁場分量(By1；Bz1)，所述第一磁場分量(Bx1)被定向在第一方向(X)，所述第二磁場分量被定向在垂直于所述第一方向(X)的第二方向(Y；Z)；以及

-第二傳感器(S2)，所述第二傳感器(S2)被配置用于確定(602)與所述第一傳感器位置(X1)間隔(ΔX)的第二傳感器位置(X2)處的第三磁場分量(Bx2)和第四磁場分量(By2；Bz2)，所述第三磁場分量(Bx2)被定向在所述第一方向(X)，所述第四磁場分量(By2；Bz2)被定向在所述第二方向(Y；Z)；

-處理單元(1030；1130；1230、1232)，所述處理單元(1030；1130；1230、1232)連接到所述第一傳感器(S1)和所述第二傳感器(S2)，

以及被配置用于確定(603)所述第一磁場分量(Bx1)和所述第三磁場分量(Bx2)之間的第一差(ΔBx)，并且用于確定所述第二磁場分量(By1；Bz1)和所述第四磁場分量(By2；Bz2)之間的第二差(ΔBy；ΔBz)，并且用于基于所述第一差(ΔBx)和所述第二差(ΔBy、ΔBz)的比率確定第一角度(θ1)，并且用于輸出所述第一角度(θ1)；

其特征在于，

所述處理單元(1030；1130；1230、1232)進一步被配置用于執行以下操作中的一個：

i)確定(904)所述第一磁場分量和所述第三磁場分量的第一和(∑Bx)，并且確定所述第二磁場分量和所述第四磁場分量的第二和(∑By；∑Bz)，并且輸出所述第一和與所述第二和，以允許外部處理器確定第二角度(θ2)并且比較所述第一角度和所述第二角度(θ1、θ2)以檢測誤差；

ii)確定(804)所述第一磁場分量和所述第三磁場分量的第一和(∑Bx)，并且確定所述第二磁場分量和所述第四磁場分量的第二和(∑By；∑Bz)，并且基于所述第一和(∑Bx)與所述第二和(∑By；∑Bz)的比率確定(805)第二角度(θ2)，并且輸出所述第二角度(θ2)以允許外部處理器比較所述第一角度和所述第二角度(θ1、θ2)以檢測誤差；

iii)確定(704)所述第一磁場分量和所述第三磁場分量的第一和(∑Bx)，并且確定所述第二磁場分量和所述第四磁場分量的第二和(∑By；∑Bz)，并且基于所述第一和(∑Bx)與所述第二和(∑By；∑Bz)的比率確定(705)第二角度(θ2)，并且比較(706)所述第一角度(θ1)和所述第二角度(θ2)，并且基于所述比較的結果輸出診斷信號。

2.根據權利要求1所述的位置傳感器設備(302；402；502)，

其中，所述第一傳感器(S1)包括第一集成磁集中器(IMC1)以及布置在所述第一IMC的相對側上的第一水平霍爾元件和第二水平霍爾元件；以及

其中，所述第二傳感器(S2)包括第二集成磁集中器(IMC2)以及布置在所述第二IMC的相對側上的第三水平霍爾元件和第四水平霍爾元件。

3.根據權利要求2所述的位置傳感器設備(302；402；502)，

其中，所述第一傳感器(S1)進一步包括第五水平霍爾元件和第六水平霍爾元件(H3、H4)，所述第五水平霍爾元件和所述第六水平霍爾元件(H3、H4)與所述第一水平霍爾元件和所述第二水平霍爾元件(H1、H2)間隔90°；以及

其中，所述第二傳感器(S2)進一步包括第七水平霍爾元件和第八水平霍爾元件(H7、H8)，所述第七水平霍爾元件和所述第八水平霍爾元件(H7、H8)與所述第三水平霍爾元件和所述第四水平霍爾元件(H5、H6)間隔90°。

4.根據權利要求1所述的位置傳感器設備(302；402；502)，

其中，所述第一傳感器(S1)包括第一水平霍爾元件(H1)和第一垂直霍爾元件(V2)；以及

其中，所述第二傳感器(S2)包括第二水平霍爾元件(H3)和第二垂直霍爾元件(V4)。