[發(fā)明專利]阻性器件及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210563432.8 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114899313A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-08-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李少青;周維亞;王艷春;解思深 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院物理研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L45/00 | 分類號(hào): | H01L45/00;G16C10/00;G16C60/00 |
| 代理公司: | 北京智匯東方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 王曉雪 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 性器 及其 制備 方法 | ||
1.一種阻性器件的制造方法,包括:
基于張量的多維模型預(yù)測(cè)所述阻性器件的阻變材料的相變所引起的相變過(guò)程的電阻值;以及
根據(jù)預(yù)測(cè)結(jié)果制造所述阻性器件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造方法,其中,
基于張量的多維模型預(yù)測(cè)所述阻性器件的阻變材料的相變所引起的相變過(guò)程的電阻值的步驟包括:
建立N×M×P的三階張量Tstate,并將所述阻變材料的各處物相狀態(tài)一一映射到所述三階張量Tstate,其中,N、M、
調(diào)控所述阻變材料各處的物相狀態(tài),且在每次調(diào)控時(shí)迭代所述三階張量Tstate,得到N×M×P個(gè)更新的三階張量Tstate;
基于預(yù)設(shè)的映射關(guān)系針對(duì)各個(gè)所述三階張量Tstate的張量元重新賦值,從而將各個(gè)所述三階張量Tstate一一映射到N×M×P個(gè)N×M×P的三階張量TR,使N×M×P個(gè)所述三階張量TR記錄所述阻變材料各處的相變過(guò)程的電阻值;以及
根據(jù)各個(gè)所述三階張量TR計(jì)算所述阻變材料的各個(gè)相變過(guò)程的等效電阻,從而得到所述阻變材料的各個(gè)相變過(guò)程的電阻值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制造方法,其中,
建立N×M×P的三階張量Tstate,并將所述阻變材料的各處物相狀態(tài)一一映射到所述三階張量Tstate的步驟包括:
測(cè)量所述阻變材料的長(zhǎng)度、寬度和高度,分別記為L(zhǎng)、W、H,預(yù)設(shè)空間精度a,則所述N=round(L/a),所述M=round(W/a),所述P=round(H/a),其中,所述a為長(zhǎng)度量綱,a0且
測(cè)量所述阻變材料相變過(guò)程中出現(xiàn)的所有物相,從初態(tài)至末態(tài)依次記為P0,P1,…,則所述三階張量Tstate的張量元的取值分別為0,1,2,…,n,且所述三階張量Tstate的各個(gè)張量元的取值與所述阻變材料的所有物相按順序一一對(duì)應(yīng),所述三階張量Tstate的張量元的指標(biāo)代表該張量元所對(duì)應(yīng)的材料位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制造方法,其中,
調(diào)控所述阻變材料各處的物相狀態(tài),且在每次調(diào)控時(shí)迭代所述三階張量Tstate,在N×M×P次調(diào)控使材料各處均處于終態(tài)物相時(shí),得到共N×M×P個(gè)更新的三階張量Tstate的步驟包括:
在所有非空元的張量元中,隨機(jī)地選中一個(gè)張量元,若被選中的張量元的取值n,則將其取值加1,得到一個(gè)更新的三階張量Tstate,若被選中的張量元的取值為n,則重新隨機(jī)地選中一個(gè)張量元,并做上述判定,直到選中一個(gè)取值為非n的張量元;當(dāng)所有張量元的取值為n時(shí),結(jié)束調(diào)控;且
本步驟中,每次調(diào)控分別獲得一個(gè)更新的三階張量Tstate,N×M×P個(gè)所述三階張量Tstate分別用于描述所述阻變材料從初態(tài)到終態(tài)所經(jīng)歷的一系列狀態(tài);各個(gè)張量元被選中的概率相等,或者各個(gè)張量元被選中的概率與其描述的阻變材料的物相的電阻率成反比。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制造方法,其中,
基于預(yù)設(shè)的映射關(guān)系針對(duì)各個(gè)所述三階張量Tstate的張量元重新賦值的步驟包括:
獲取邊長(zhǎng)為a的立方體形狀的阻變材料處于各個(gè)物相時(shí)的電阻值,記為所述阻變材料的單一晶粒的各個(gè)物相的電阻值;
根據(jù)所述阻變材料的單一晶粒的各個(gè)物相的電阻值針對(duì)各個(gè)所述三階張量Tstate的張量元重新賦值,從而得到所述三階張量TR中張量元的取值。
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