[發(fā)明專利]基于中心投影的坐標(biāo)補償方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210559743.7 | 申請日: | 2022-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN114897851A | 公開(公告)日: | 2022-08-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李曉飛;劉旭;蔡明;葉春瑤;王悅舜 | 申請(專利權(quán))人: | 成都飛機工業(yè)(集團)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/70 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 楊子亮 |
| 地址: | 610092 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 中心 投影 坐標(biāo) 補償 方法 裝置 設(shè)備 介質(zhì) | ||
1.一種基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述方法包括:
根據(jù)目標(biāo)圖像,獲取目標(biāo)零件的特征點在第一坐標(biāo)系中的第一坐標(biāo),其中,所述目標(biāo)圖像中包括零件托盤以及放置在所述零件托盤上的目標(biāo)零件,所述目標(biāo)圖像通過與所述零件托盤存在目標(biāo)工作距離的二維相機對所述零件托盤拍攝獲得;所述第一坐標(biāo)系基于所述零件托盤建立;
根據(jù)所述第一坐標(biāo)系以及所述特征點,建立補償坐標(biāo)系;
根據(jù)所述第一坐標(biāo),獲取所述特征點在所述補償坐標(biāo)系中的第二坐標(biāo);
根據(jù)所述目標(biāo)零件的實際尺寸參數(shù)以及所述目標(biāo)工作距離對所述第二坐標(biāo)進行誤差補償,以得到補償坐標(biāo)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述根據(jù)目標(biāo)圖像,獲取目標(biāo)零件的特征點在第一坐標(biāo)系中的第一坐標(biāo)的步驟,包括:
對所述目標(biāo)圖像進行圖形處理,以得到所述特征點的像素坐標(biāo);
根據(jù)所述二維相機的畸變參數(shù)以及標(biāo)定參數(shù)對所述像素坐標(biāo)進行轉(zhuǎn)換得到所述特征點在相機坐標(biāo)系下的相機坐標(biāo);
確定相機坐標(biāo)系和第一坐標(biāo)系之間的第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系;
根據(jù)所述相機坐標(biāo)以及所述第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系得到所述第一坐標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述二維相機的光軸與所述零件托盤的夾角在預(yù)設(shè)角度范圍內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述目標(biāo)零件為圓柱形零件,所述特征點為圓柱形零件表面的圓心。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一坐標(biāo)系以及所述特征點,建立補償坐標(biāo)系的步驟,包括:
針對所述零件托盤上每一所述目標(biāo)零件建立對應(yīng)的補償坐標(biāo)系,其中,所述補償坐標(biāo)系的原點與所述第一坐標(biāo)系的原點重合,以原點與所述目標(biāo)零件的底部圓心的連線為X軸,以所述二維相機的光軸為Z軸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一坐標(biāo),獲取所述特征點在所述補償坐標(biāo)系中的第二坐標(biāo)的步驟包括:
計算每一所述補償坐標(biāo)系與所述第一坐標(biāo)系的第二坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系;
根據(jù)每一所述第二坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系獲取每一所述目標(biāo)零件的特征點在對應(yīng)補償坐標(biāo)系下的第二坐標(biāo)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,所述根據(jù)所述目標(biāo)零件的實際尺寸參數(shù)以及所述二維相機與所述零件托盤的距離對所述第二坐標(biāo)進行誤差補償,以得到補償坐標(biāo)步驟,包括:
記所述第二坐標(biāo)為(X1,Y1,Z1),所述補償坐標(biāo)為(X2,Y2,Z2),所述補償坐標(biāo)的X值通過下列公式計算:
式中,h為所述目標(biāo)零件的高度,r為所述目標(biāo)零件的半徑,l為所述目標(biāo)工作距離,
其中,所述補償坐標(biāo)的Y值等于所述第二坐標(biāo)的Y值等于0,所述補償坐標(biāo)的Z值等于所述第二坐標(biāo)的Z值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于中心投影的坐標(biāo)補償方法,其特征在于,在所述根據(jù)所述目標(biāo)零件的實際尺寸參數(shù)以及所述二維相機與所述零件托盤的距離對所述第二坐標(biāo)進行誤差補償,以得到補償坐標(biāo)的步驟之后,所述方法還包括:
建立執(zhí)行機構(gòu)坐標(biāo)系;
獲取所述執(zhí)行機構(gòu)坐標(biāo)系與所述相機坐標(biāo)系的第三坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系;
根據(jù)所述第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系、第二坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系以及所述第三坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系對所述補償坐標(biāo)進行轉(zhuǎn)換,得到誤差補償后所述目標(biāo)零件的特征點在所述執(zhí)行機構(gòu)坐標(biāo)系下的第三坐標(biāo);
根據(jù)所述第三坐標(biāo)對所述目標(biāo)零件進行抓取。
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