[發明專利]基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法

在審

• 申請號: 202210559190.5
• 申請日: 2022-05-22
• 公開（公告）號: CN114895289A
• 公開（公告）日: 2022-08-12
• 發明（設計）人: 王慶;王方勇;杜栓平;尚金濤;陳孝森;陳越超
• 申請（專利權）人: 中國船舶重工集團公司第七一五研究所
• 主分類號: G01S7/52
• 分類號: G01S7/52;G01S7/537
• 代理公司: 杭州賽科專利代理事務所(普通合伙) 33230
• 代理人: 宋飛燕

1.一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：對于被動聲納目標，所述方法構造頻域聚焦矩陣對頻域基陣數據進行加權處理，得到導向功率譜密度矩陣；基于導向最小方差準則構建自適應波束形成最優權系數，獲得自適應加權的波束域頻域數據；遍歷所有波束，提取多維差異性特征，并基于多維差異性特征得到聯合檢測結果。

2.根據權利要求1所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：構造頻域聚焦矩陣包括以下步驟：

步驟1.1：計算陣列導引向量a_n(f_k,θ)；

步驟1.2：利用陣列導引向量對各通道頻域陣數據進行相位補償，得到補償后的陣列輸出矩陣Y(f_k,θ)。

3.根據權利要求2所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：所述步驟1.1中，其中，a_n(f_k,θ)為第n個陣元在處理頻率f_k、掃描方位θ處的方向向量，n＝1,2,…,N，N為線陣總陣元數，d為陣元間距，c為聲速，f_k∈[fL,fH]，fL、fH為處理頻帶上下限，j為虛數；

所述步驟1.2中，Y(f_k,θ)＝T^Η(f_k,θ)X(f_k)，

其中，為對應于f_k頻點、θ方向所對應的陣列流行向量組成的對角陣，X(f_k)為頻域陣數據，(i)^Η為復矩陣共軛轉置。

4.根據權利要求3所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：所述導向功率譜密度矩陣為其中，R(f_k)為f_k頻點的協方差矩陣，M為頻域陣數據快拍數，m為1至M的正整數，K為處理總頻點數。

5.根據權利要求4所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：基于導向最小方差準則構建自適應波束形成最優權系數其中，為導向功率譜密度矩陣的逆，I為單位陣。

6.根據權利要求5所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：波束輸出為Y(f_k,θ)＝w^Η(θ)X(f_k)。

7.根據權利要求1所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：所述多維差異性特征包括高低頻能量差異性特征、標準化的窄帶線譜特征向量與空間能量分布特征，多維特征聯合檢測結果為多維差異性特征的乘積，B_F(θ)＝α_eLH(θ)?α_Fline(θ)?α_Beam(θ)。

8.根據權利要求7所述的一種基于壓制式干擾與目標多維差異性特征的聯合檢測方法，其特征在于：基于波束域頻域信號Y(f_k,θ)，遍歷所有波束，提取高低頻能量差異性特征，α_eLH(θ)＝E_L(θ)/E_H(θ)，其中，低頻能量高頻能量f_o為劃分低頻與高頻的分界線。