[發(fā)明專利]全介質(zhì)偏振分束片及其制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210556048.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114706231A | 公開(公告)日: | 2022-07-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 錢大憨;凡流露;劉志鵬;李明;阿特耶·阿里·阿巴克;張放心;張昕昱;劉文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G02B27/28 | 分類號(hào): | G02B27/28;G02B5/18;G03F7/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 吳夢(mèng)圓 |
| 地址: | 230026 安*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 介質(zhì) 偏振 分束片 及其 制作方法 | ||
本發(fā)明公開了一種全介質(zhì)偏振分束片,包括:襯底;光柵層,形成在襯底的一側(cè),并包括通過對(duì)多層非金屬的介質(zhì)層采用納米壓印工藝形成的多條相互平行的線柵,適用于對(duì)入射光進(jìn)行偏振分光,以反射入射光的TE波,并透射入射光的TM波;其中,每條線柵的多層介質(zhì)層在厚度方向按照高、低折射率交替形式周期性堆疊形成,入射光的波長(zhǎng)在多層介質(zhì)層的濾光波長(zhǎng)范圍內(nèi)。本發(fā)明還提供一種上述的全介質(zhì)偏振分束片的制作方法。本發(fā)明提供的全介質(zhì)偏振分束片,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光的偏振分束。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的至少一種實(shí)施例涉及一種偏振分束片,尤其涉及一種全介質(zhì)偏振分束片及其制作方法。
背景技術(shù)
納米光柵是在襯底材料上形成納米尺度的周期性圖案,納米光柵作為一種重要的偏振器件,廣泛的應(yīng)用于光學(xué)產(chǎn)品中,如液晶顯示,光通信等領(lǐng)域。常見的納米光柵主要有介質(zhì)光柵和金屬光柵兩種。金屬光柵可以將入射光按不同偏振模式通過透射和反射分開,并且透射光偏振態(tài)消光比可達(dá)40dB以上,因此金屬納米光柵是一種性能優(yōu)越的偏振片。但金屬納米光柵作為偏振片使用時(shí)有兩個(gè)缺點(diǎn),一是金屬柵條具有導(dǎo)電性,不利于光電器件集成,不方便在偏振片上直接加電極引入電信號(hào);二是金屬柵條在使用中不穩(wěn)定,容易被損壞。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種全介質(zhì)偏振分束片及其制作方法,以實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光的偏振分束的功能,并克服金屬光柵在使用過程中存在的缺陷。
本發(fā)明提供一種全介質(zhì)偏振分束片,包括:襯底;光柵層,形成在襯底的一側(cè),包括通過對(duì)多層非金屬的介質(zhì)層采用納米壓印工藝形成的多條相互平行的線柵,適用于對(duì)入射光進(jìn)行偏振分光,以反射入射光的TE波,并透射入射光的TM波;其中,每條線柵的多層介質(zhì)層在厚度方向按照高、低折射率交替形式周期性堆疊形成,入射光的波長(zhǎng)在多層介質(zhì)層的濾光波長(zhǎng)范圍內(nèi)。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,光柵層的線柵的周期∧遠(yuǎn)小于入射光的波長(zhǎng)。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,多層介質(zhì)層堆疊的周期數(shù)介于2至20之間。
本發(fā)明還提供一種上述的全介質(zhì)偏振分束片的制作方法,包括:在襯底上沉積多層介質(zhì)層;在多層介質(zhì)層上沉積掩膜層;在掩膜層上旋涂壓印膠層;將壓印模板覆蓋在壓印膠層上,將壓印模板的光柵圖形轉(zhuǎn)移到壓印膠層上,并去除壓印模板;利用氧氣灰化處理和濕法腐蝕法刻蝕掩膜層;利用反應(yīng)等離子刻蝕法刻蝕多層介質(zhì)層,制作得到全介質(zhì)的光柵層。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,在真空條件下利用化學(xué)氣相沉積法在襯底上沉積多層介質(zhì)層;其中,多層介質(zhì)層在厚度方向按照高、低折射率交替形式周期性堆疊形成。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,在襯底上形成包括2種或3種按照高、低折射率交替形式周期性堆疊的介質(zhì)材料的多層介質(zhì)層。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,利用等離子體化學(xué)氣相沉積法在多層介質(zhì)層上沉積掩膜層,掩膜層為非晶碳薄膜,厚度為50~100nm。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,利用氧氣灰化處理和濕法腐蝕法刻蝕掩膜層包括:利用氧氣灰化處理和濕法腐蝕液去除未被壓印膠覆蓋的掩膜層,保留被壓印膠覆蓋的掩膜層。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,利用反應(yīng)等離子刻蝕法刻蝕多層介質(zhì)層包括:去除未被掩膜層覆蓋的多層介質(zhì)層,保留被掩膜層覆蓋的多層介質(zhì)層。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,刻蝕多層介質(zhì)層完成后,去除掩膜層;去除掩膜層包括利用等離子體灰化處理法去除非晶碳薄膜。
根據(jù)本發(fā)明上述的實(shí)施例提供的全介質(zhì)偏振分束片,采用高、低折射率交替形式周期性堆疊的多層介質(zhì)層,利用納米壓印方法制作出全介質(zhì)的光柵層,實(shí)現(xiàn)對(duì)滿足多層介質(zhì)膜的濾光波長(zhǎng)范圍的入射光的偏振分束的功能。
根據(jù)本發(fā)明上述的實(shí)施例提供的全介質(zhì)偏振分束片,不含有金屬柵條,在使用中不易損壞,而且方便在偏振片表面再加工電極。
附圖說(shuō)明
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