[發明專利]一種雙圓盤外觀檢測方法及裝置在審
| 申請號: | 202210554367.2 | 申請日: | 2022-05-19 |
| 公開(公告)號: | CN115060725A | 公開(公告)日: | 2022-09-16 |
| 發明(設計)人: | 夏賢兵;葉金水;李波;李明 | 申請(專利權)人: | 昆山締微致精密電子有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/84;G01N35/10;B07C5/00 |
| 代理公司: | 蘇州常清專利代理事務所(普通合伙) 32552 | 代理人: | 劉天平 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圓盤 外觀 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種雙圓盤外觀檢測方法,其特征在于,所述方法應用于一種雙圓盤外觀檢測裝置,所述裝置包括雙圓盤控制模塊和圖像采集模塊,所述方法包括:
基于所述圖像采集模塊,采集第一塑膠產品的圖像集合;
對所述圖像集合進行特征點提取,獲得第一特征點提取結果;
根據所述第一特征點提取結果,確定檢測面位置信息、檢測面數量信息和檢測特征集合;
獲得第一檢測方案生成模型;
將所述檢測面位置信息、所述檢測面數量信息和所述檢測特征集合輸入第一檢測方案生成模型中,生成第一檢測方案,所述第一檢測方案包括多組所述雙圓盤控制模塊的控制參數;
基于所述第一檢測方案,所述雙圓盤控制模塊接收到所述控制參數后,對所述第一塑膠產品進行外觀檢測,獲得第一檢測結果;
基于所述第一檢測方案,確定檢測步驟信息,按照所述檢測步驟信息,對所述第一檢測結果中檢測異常產品進行逐步分流。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲得所述第一檢測方案生成模型,所述方法包括:
獲得第一企業的塑膠產品類型信息;
基于所述塑膠產品類型信息采集對應歷史塑膠產品檢測方案信息和對應塑膠產品基礎屬性信息;
基于所述塑膠產品基礎屬性信息和所述歷史塑膠產品檢測方案信息進行檢測方案生成模型訓練,構成檢測方案生成模型庫;
獲得所述第一塑膠產品的類型信息,基于所述第一塑膠產品的類型信息從所述檢測方案生成模型庫中調用所述第一檢測方案生成模型,獲得所述第一檢測方案生成模型。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述第一塑膠產品進行外觀檢測,獲得第一檢測結果,所述方法包括:
基于所述圖像采集模塊對所述第一塑膠產品進行實時圖像采集,獲得第一圖像集合;
獲得圖像異常卷積特征,基于所述圖像異常卷積特征對所述第一圖像集合進行圖像識別,獲得第一圖像識別特征值;
根據所述第一圖像識別特征值,判斷是否需要二次識別;
若需要,則獲得該圖像采集位點的補充圖像信息,基于補充圖像信息進行二次圖像識別,獲得第二圖像識別特征值;
若不需要,則基于所述第一圖像識別特征值,獲得所述第一檢測結果。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述獲得第二圖像識別特征值,之后,所述方法包括:
基于所述第二圖像識別特征值,判斷是否需要進行圖像融合;
若需要,則在當前檢測步驟不進行分流,并繼續進行后續步驟檢測;
獲得所有步驟的圖像采集結果后,進行圖像融合,獲得第一融合圖像信息;
對所述第一融合圖像信息進行多尺度異常卷積特征識別后,獲得第三圖像識別特征值;
基于所述第三圖像識別特征值,獲得所述第一檢測結果。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照所述檢測步驟信息,對所述第一檢測結果中檢測異常產品進行逐步分流,所述方法包括:
獲得異常產品分流檢測步驟和異常產品數目信息;
基于所述異常產品數目信息獲得異常數目均值;
基于所述異常產品數目信息和所述異常數目均值,對各檢測步驟進行權重分配,獲得第一權重分配結果;
基于所述第一權重分配結果,對所述異常產品分流檢測步驟進行檢測時長的調整,獲得第一調整時間參數;
基于所述第一調整時間參數對所述第一檢測方案進行優化。
6.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法包括:
獲得所述第一塑膠產品的設計復雜度信息和出品精度信息;
基于所述設計復雜度信息和所述出品精度信息,設置預期準確率信息;
基于所述第一檢測結果進行檢測準確率復核,獲得檢測準確率信息;
對所述檢測準確率信息和所述預期準確率信息進行偏差度分析,獲得第一偏差分析系數。
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