[發明專利]足尺寸測定裝置、足尺寸測定方法及存儲介質

在審

• 申請號: 202210549198.3
• 申請日: 2022-05-20
• 公開（公告）號: CN115462594A
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發明（設計）人: 本吉史彌;筒井雅之;仲谷舞;賈斯汀·保羅·加拉維爾
• 申請（專利權）人: 株式會社愛世克私
• 主分類號: A43D1/02
• 分類號: A43D1/02;G06T7/00;G06T7/62
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 賀財俊;黃健

1.一種足尺寸測定裝置，其特征在于，包括：

測定部，根據受檢者的單足圖像，選擇性地測定作為規定單足尺寸的特征量而成為測定對象的多個測定要素中的一部分；

信息生成部，基于所述多個測定要素中由所述測定部所選擇性地測定的一部分測定要素，生成足尺寸信息；以及

輸出部，輸出所述足尺寸信息。

2.根據權利要求1所述的足尺寸測定裝置，其特征在于，

在所述多個測定要素中由所述測定部所選擇性地測定的要素數量為多個的情形下，所述信息生成部生成與所測定的多個測定要素的組合相應的內容作為所述足尺寸信息。

3.根據權利要求1或2所述的足尺寸測定裝置，其特征在于，

所述測定部選擇性地測定包括受檢者的單足的足寬及足長在內的多個測定要素中的一部分，

所述信息生成部在僅測定到足寬及足長中的一者的情形下，使在所述足尺寸信息中包括測定結束的要素的信息，在測定到足寬及足長這兩者的情形下，除了測定結束的要素的信息以外，使在所述足尺寸信息中還包括與相對于足長的足寬的寬度相關的評估信息。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的足尺寸測定裝置，其特征在于，

所述測定部能夠選擇性地對所述多個測定要素中測定結束的要素進行重新測定，

所述信息生成部在由所述測定部重新測定到一部分測定要素的情形下，基于包括重新測定到的測定要素的一個或多個測定要素，重新生成所述足尺寸信息。

5.一種足尺寸測定方法，其特征在于，包括：

通過基于受檢者的單足圖像的圖像處理，選擇性地測定作為規定單足尺寸的特征量而成為測定對象的多個測定要素中的一部分的過程；

基于所述多個測定要素中通過所述測定的過程所選擇性地測定的一部分測定要素，并通過規定的運算處理生成足尺寸信息的過程；以及

通過規定的輸出部件輸出所述足尺寸信息的輸出過程。

6.一種存儲介質，其存儲足尺寸測定程序，其特征在于，所述足尺寸測定程序使計算機執行如下功能：

測定功能，基于受檢者的單足圖像，選擇性地測定作為規定單足尺寸的特征量而成為測定對象的多個測定要素中的一部分測定要素；

信息生成功能，基于所述多個測定要素中由所述測定功能所選擇性地測定到的一部分測定要素，生成足尺寸信息；以及

輸出功能，輸出所述足尺寸信息。