[發明專利]一種二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法和裝置

在審

• 申請號: 202210540375.1
• 申請日: 2022-05-17
• 公開（公告）號: CN114997091A
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 馮禮鴻;沈向東;沈成宇;曹楷;劉建永;侯敏;曹輝
• 申請（專利權）人: 上海瑞浦青創新能源有限公司
• 主分類號: G06F30/367
• 分類號: G06F30/367;G06F111/10
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 趙琴

1.一種二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，至少包括以下步驟：

獲取HPPC測試數據，并根據所述HPPC測試數據得到標定點的數據集；

對所述HPPC測試數據進行自動擬合處理得到二階RC等效電路模型在標定點的參數初始值；

根據所述標定點的數據集和所述標定點的區間參數初始值得到所述二階RC等效電路模型的RC參數。

2.根據權利要求1所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，根據所述HPPC測試數據得到標定點的數據集包括：

根據脈沖電流變化確定所述HPPC測試數據中各標定點的斷點；

根據各標定點的斷點對應的電壓數據得到對應的數據集。

3.根據權利要求2所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，根據脈沖電流變化確定所述HPPC測試數據在SOC全范圍內各標定點的斷點；

所述標定點包括脈沖點和擱置點；對應的，脈沖點的斷點為脈沖起點和脈沖終點，擱置點的斷點為擱置起點和擱置終點。

4.根據權利要求3所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，根據脈沖電流變化確定所述HPPC測試數據中各標定點的斷點的方式為：

若第k-1時刻的電流值滿足-N＜I_k-1＜N，而k+1時刻電流值滿足M＜I_k-1＜H，其中，M遠大于N，則k時刻為脈沖起點，k+Δt1時刻為脈沖終點；k+Δt1+1時刻為擱置起點，k+Δt1+Δt2時刻為擱置終點，其中Δt1為脈沖時間，Δt2為擱置時間。

5.根據權利要求1所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，對所述HPPC測試數據進行自動擬合處理得到二階RC等效電路模型在標定點的參數初始值包括：

確定二階RC等效電路模型；

對所述二階RC等效電路模型進行轉換處理得到擬合模型；

對所述HPPC測試數據進行自動擬合處理得到擬合模型在標定點的區間參數初始值。

6.根據權利要求5所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，所述自動擬合處理采用LM算法的非線性最小二乘法。

7.根據權利要求6所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，對所述HPPC測試數據進行自動擬合處理得到擬合模型在標定點的區間參數初始值的過程包括：

將SOC全區間劃分為n個SOC區間；

從標定點的數據集中提取每個SOC區間內的一段脈沖電壓數據得到標定點在各SOC區間的區脈沖電壓數據；

對每個SOC區間的區脈沖電壓數據進行處理得到區間參數初始值。

8.根據權利要求1所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法，其特征在于，根據所述標定點的數據集和所述標定點的區間參數初始值得到所述二階RC等效電路電路模型的RC參數的過程包括：

根據所述標定點的區間參數初始值和所述標定點的數據集中對應區間的區脈沖電壓數據得到標定點在各區間的脈沖電壓擬合結果；

對標定點所有區間的脈沖電壓擬合結果進行擬合處理得到擬合模型的參數值；

根據所述擬合模型的參數值得到二階RC等效電路模型的RC參數。

9.一種二階RC等效電路模型參數的自動擬合裝置，其特征在于，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的程序，所述處理器執行所述程序時，實現權利要求1-8任一項所述的二階RC等效電路模型參數的自動擬合方法的步驟。