[發明專利]一種液晶顯示面板的光學性能檢測方法

有效

• 申請號: 202210539457.4
• 申請日: 2022-05-17
• 公開（公告）號: CN114923672B
• 公開（公告）日: 2023-10-17
• 發明（設計）人: 海博
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 張惠

本發明提供了一種液晶顯示面板的光學性能檢測方法，用于檢測目標液晶顯示面板的光學性能，包括：量測第一背光板的頻譜和第一液晶模組的頻譜，第一液晶模組包括第一背光板和目標液晶顯示面板；根據第一背光板的頻譜和第一液晶模組的頻譜，計算得到目標液晶顯示面板的穿透頻譜；獲取第二背光板的頻譜；根據目標液晶顯示面板的穿透頻譜和第二背光板的頻譜，計算得到第二液晶模組的三刺激值，第二液晶模組包括第二背光板和目標液晶顯示面板；根據三刺激值得到目標液晶顯示面板對應的光學參數，以檢測目標液晶顯示面板的光學性能。本發明簡化了檢測程序，縮短了檢測時間，減小了測量誤差，提高了液晶顯示面板的開發效率。

技術領域

本申請涉及顯示領域，尤其涉及一種液晶顯示面板的光學性能檢測方法。

背景技術

對于液晶顯示裝置，液晶盒和背光板通常由不同的廠家制備，而液晶盒的光學性能則是通過對液晶模組(液晶盒+背光板)進行測量得到。

液晶盒的生產廠家無法事先獲取背光板，因此通常采用自家生產的背光板和液晶盒組裝成臨時液晶模組，對液晶盒的光學性能進行檢測，這樣檢測的結果與實際結果存在較大的差異。為了獲取準確的測量結果，就需要將液晶盒運輸至背光板的生產廠家進行組裝，然后再返回液晶盒的生產廠家進行測量，這樣費時費力，導致液晶盒的開發效率低。

發明內容

本發明提供一種液晶顯示面板的光學性能檢測方法，簡化了液晶顯示面板的光學性能檢測程序，減小了測量誤差，提高了液晶顯示面板的開發效率。

為解決以上問題，本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種液晶顯示面板的光學性能檢測方法，用于檢測目標液晶顯示面板的光學性能，所述光學性能檢測方法包括：

量測第一背光板的頻譜和第一液晶模組的頻譜，所述第一液晶模組包括所述第一背光板和所述目標液晶顯示面板；

根據所述第一背光板的頻譜和所述第一液晶模組的頻譜，計算得到所述目標液晶顯示面板的穿透頻譜；

獲取第二背光板的頻譜；

根據所述目標液晶顯示面板的穿透頻譜和所述第二背光板的頻譜，計算得到第二液晶模組的三刺激值，所述第二液晶模組包括所述第二背光板和所述目標液晶顯示面板；

根據所述三刺激值得到所述目標液晶顯示面板對應的光學參數，以檢測所述目標液晶顯示面板的光學性能。

可選地，在本發明的一些實施例中，所述量測第一背光板的頻譜和第一液晶模組的頻譜的步驟，包括：

量測所述第一背光板的頻譜；

量測所述第一液晶模組顯示目標顏色時對應的頻譜。

可選地，在本發明的一些實施例中，所述根據所述第一背光板的頻譜和所述第一液晶模組的頻譜，計算得到所述目標液晶顯示面板的穿透頻譜的步驟，包括：

用所述第一液晶模組顯示目標顏色時對應的頻譜，除以所述第一背光板的頻譜，得到所述目標液晶顯示面板顯示目標顏色時對應的穿透頻譜。

可選地，在本發明的一些實施例中，所述目標顏色包括紅色、綠色和藍色，所述用所述第一液晶模組顯示目標顏色時對應的頻譜除以所述第一背光板的頻譜，得到所述目標液晶顯示面板的穿透頻譜的步驟，包括：

用所述液晶模組顯示紅色時對應的頻譜除以所述第一背光板的頻譜，得到所述目標液晶顯示面板穿透紅色光線時對應的紅色穿透頻譜；

用所述液晶模組顯示綠色時對應的頻譜除以所述第一背光板的頻譜，得到所述目標液晶顯示面板穿透綠色光線時對應的綠色穿透頻譜；

用所述液晶模組顯示藍色時對應的頻譜除以所述第一背光板的頻譜，得到所述目標液晶顯示面板穿透藍色光線時對應的藍色穿透頻譜；