[發(fā)明專利]一種MFS儲存結(jié)構(gòu)及其制備方法與應(yīng)用在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210538285.9 | 申請日: | 2022-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN115020425A | 公開(公告)日: | 2022-09-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高武;李星星;張昕;劉禮祥;張志偉 | 申請(專利權(quán))人: | 五邑大學(xué) |
| 主分類號: | H01L27/11585 | 分類號: | H01L27/11585;H01L29/78;H01L21/34 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 肖云 |
| 地址: | 529000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 mfs 儲存 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種MFS儲存結(jié)構(gòu),其特征在于:
包括依次層疊設(shè)置的襯底、ZnO低溫緩沖層、ZnO薄膜、Zn1-xMxO薄膜和Zn1-yMyO鐵電薄膜;
其中,M選自Mg、V、Sb、Y或Gd中的至少一種;
其中,0<x≤0.4,0.3≤y≤0.6。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu),其特征在于:0.3≤y≤0.37。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu),其特征在于:所述Zn1-xMxO薄膜厚度為30~60nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu),其特征在于:所述Zn1-yMyO鐵電薄膜厚度為100~400nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu),其特征在于:所述襯底包括藍(lán)寶石、云母和石英襯底中的至少一種。
6.一種制備如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu)的方法,其特征在于:包括以下步驟:
在襯底上依次生長ZnO低溫緩沖層、ZnO薄膜、Zn1-xMxO薄膜和Zn1-yMyO鐵電薄膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于:所述生長所用工藝選自MBE、PLD和MOCVD中的至少一種。
8.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu)在場效應(yīng)晶體管中的應(yīng)用。
9.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的一種MFS儲存結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體儲存器中的應(yīng)用。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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