[發(fā)明專利]基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210536924.8 | 申請日: | 2022-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN114965448A | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉振邦;牛利;馬英明;包宇;王偉;韓冬雪;周凱;張碩 | 申請(專利權(quán))人: | 廣州大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/76 | 分類號: | G01N21/76;G01N23/2251;G01N23/2206 |
| 代理公司: | 廣州高炬知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44376 | 代理人: | 孫明科 |
| 地址: | 510006 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 掃描 探針 技術(shù) 電化學(xué) 發(fā)光 聯(lián)用 分辨 補(bǔ)償 方法 | ||
本發(fā)明公開了基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法,對SECM?ECL圖像矩陣根據(jù)各電位進(jìn)行整理,添加時(shí)間維度,組成SECM?ECL三維數(shù)組,對該數(shù)組中感興趣區(qū)域進(jìn)行整理,取交集以獲取最大感興趣區(qū)域,以區(qū)分整體感興趣區(qū)域與整體非感興趣區(qū)域,采用插值算法對各感興趣區(qū)域進(jìn)行預(yù)先放大以提高邊緣,并保證所有輸入圖像具有相同輸入尺寸,將處理后的SECM?ECL輸出組作為深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸入。該基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法,通過感興趣區(qū)域非感興趣區(qū)域?qū)崿F(xiàn)基于時(shí)間及通道的互相細(xì)節(jié)增強(qiáng),通過超分辨對整體檢測數(shù)據(jù)基于樣本的超分辨具有足夠好的時(shí)間、空間分辨率與信噪比。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及超分辨補(bǔ)償技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法。
背景技術(shù)
對于SECM實(shí)驗(yàn)而言,最常見的檢測模式是正負(fù)反饋模式。反饋工作模式主要用于確定探針相對于被測基底的高度,分為正反饋模式和負(fù)反饋模式,主要是按照探針接近被測基底時(shí)電流增大還是減小來區(qū)分的。
而現(xiàn)有技術(shù)中,當(dāng)探針進(jìn)入溶液環(huán)境中,周圍溶液會(huì)對工作探針運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生一定的阻尼作用,如果掃描速度與采樣頻率過高時(shí),溶液會(huì)對圖像的真實(shí)度產(chǎn)生干擾,普遍的做法是盡量降低掃描速度,增加掃描點(diǎn)見的停留時(shí)間,提高步近精度,但與此同時(shí)也延長了實(shí)驗(yàn)運(yùn)行時(shí)間,因此需要發(fā)明出一種基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法來解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
(一)解決的技術(shù)問題
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供一種基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法,通過感興趣區(qū)域非感興趣區(qū)域?qū)崿F(xiàn)基于時(shí)間及通道的互相細(xì)節(jié)增強(qiáng),通過超分辨對整體檢測數(shù)據(jù)基于樣本的超分辨具有足夠好的時(shí)間、空間分辨率與信噪比,通過時(shí)間上多電位采集圖像進(jìn)行反應(yīng)區(qū)域預(yù)測,對非感興趣區(qū)域的背景進(jìn)行融合,以生成預(yù)測圖像進(jìn)而提高時(shí)間分辨率,為掃描探針技術(shù)在生物的長時(shí)間檢測提供可能。
(二)技術(shù)方案
為實(shí)現(xiàn)上述提高時(shí)間分辨率,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
一種基于掃描探針技術(shù)與電化學(xué)發(fā)光聯(lián)用的超分辨補(bǔ)償方法,包括以下步驟:
S1、對SECM-ECL圖像矩陣根據(jù)各電位進(jìn)行整理,添加時(shí)間維度,組成SECM-ECL三維數(shù)組[(X、Y、電流、電位、時(shí)間]。
具體通過添加不同的檢測溶液,在不同電位進(jìn)行不同目標(biāo)的檢測,各電位(包括電化學(xué)激發(fā)電位)在不同通道對基底進(jìn)行檢測。
S2、對SECM-ECL三維數(shù)組中感興趣區(qū)域進(jìn)行整理,取交集以獲取最大感興趣區(qū)域,以區(qū)分整體感興趣區(qū)域與整體非感興趣區(qū)域。
具體將各電位看作不同顏色通道,采樣率為每張掃描成像時(shí)間,前部分成像間隔大,后半部分成像間隔短,前部掃描區(qū)域大(感興趣與非感興趣)后部分成像區(qū)域小且多集中于感興趣區(qū)域。
S3、采用插值算法對各感興趣區(qū)域進(jìn)行預(yù)先放大以提高邊緣,并保證所有輸入圖像具有相同輸入尺寸,具體為基于模擬插值,或基于理論模型及深度學(xué)習(xí)從樣本中獲取誤差函數(shù)。
S4、將步驟S3處理后的SECM-ECL輸出組作為深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸入,通過構(gòu)建具有時(shí)間的卷積深度網(wǎng)絡(luò)(類似常見的卷積網(wǎng)絡(luò)與循環(huán)網(wǎng)絡(luò)結(jié)合),以逐過程、逐通道提取特征。
具體是以不同的卷積子進(jìn)行逆卷積以實(shí)現(xiàn)對圖像的超分辨,通過基于樣本的方式獲取干擾誤差函數(shù)。
S5、以峰值信噪比作為評價(jià)指標(biāo)獲取各通道干擾誤差函數(shù)(卷積函數(shù)),通過上采樣對各幀各通道實(shí)現(xiàn)超分辨。
具體是通過機(jī)器學(xué)習(xí)逐通道、逐時(shí)間進(jìn)行整體特征提取,對非感興趣區(qū)域進(jìn)行整體分辨率及信噪比進(jìn)行綜合提升。
S6、基于所有非感興趣區(qū)域進(jìn)行融合,構(gòu)建虛擬檢測背景。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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