[發明專利]高分影像水面率分析方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210536482.7
• 申請日: 2022-05-17
• 公開（公告）號: CN114943931A
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發明（設計）人: 顏軍;劉璐銘;殷麗雪;蔣曉華;李光;馮思偉;鄧開元;李先怡
• 申請（專利權）人: 珠海歐比特電子有限公司;珠海歐比特衛星大數據有限公司
• 主分類號: G06V20/52
• 分類號: G06V20/52;G06V10/24;G06V10/60;G06V10/764;G06V10/34;G06V10/774;G06V10/80
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 張龍哺

1.一種高分影像水面率分析方法，其特征在于，包括：

響應于分析請求，獲取目標監測區域的高分遙感影像，對所述高分遙感影像執行預處理得到所述高分遙感影像的反射率數據，所述預處理通過預設參數對所述高分遙感影像進行校正；

通過所述反射率數據對所述高分影像進行提取，得到第一水體分布結果；

通過數據集對所述目標監測區域進行提取，得到基于所述數據集標準的提取結果，根據所述第一水體分布結果和所述提取結果確定影像陰影；

根據第一水體分布結果與所述影像陰影確定第二水體分布結果；

通過所述第二水體分布結果確定所述目標監測區域的影像水面率。

2.根據權利要求1所述的高分影像水面率分析方法，其特征在于，所述對所述高分遙感影像執行預處理得到所述高分遙感影像的反射率數據包括：

對高分遙感影像通過定標系數進行輻射校正，生成輻亮度數據；

對所述輻亮度數據進行大氣校正，得到所述反射率數據。

3.根據權利要求2所述的高分影像水面率分析方法，其特征在于，所述方法還包括：

通過多光譜影像和全色影像的RPC參數及DEM數據對所述反射率數據進行正射校正；

將已進行正射校正的所述多光譜影像和所述全色影像進行影像融合；

將遙感影像進行鑲嵌拼接勻色，按照預設分區進行裁剪。

4.根據權利要求1所述的高分影像水面率分析方法，其特征在于，所述通過所述反射率數據對所述高分影像進行提取，得到第一水體分布結果包括：

計算UWI城市水體指數，UWI計算公式為

其中，G、R、NIR分別為所述遙感影像的綠波段、紅波段和近紅波段；

根據設定閾值對UWI城市水體指數的影像進行二值化，將超過所述設定閾值的作為水體，將水體和非水體區域進行第一賦值處理，得到所述第一水體分布結果，所述第一賦值處理包括將水體和非水體進行分別賦值。

5.根據權利要求1所述的高分影像水面率分析方法，其特征在于，所述通過數據集對所述目標監測區域進行提取，得到基于所述數據集標準的提取結果，根據所述第一水體分布結果和所述提取結果確定影像陰影，包括：

裁剪包括有述目標監測區域的FROM-GLC10數據；

將FROM-GLC10數據進行重分類，并通過3*3的卷積核腐蝕重分類結果，進而對重分類結果進行重采樣，得到重采樣影像；

將重采樣影像與所述第一水體分布結果求交，生成初始陰影，通過3*3的卷積核對所述初始陰影進行腐蝕，并通過設置刪除小碎斑閾值，以消除所述初始陰影的小碎斑，得到精細的所述影像陰影。

6.根據權利要求1所述的高分影像水面率分析方法，其特征在于，所述通過所述第二水體分布結果確定所述目標監測區域的影像水面率，包括：

將得到的所述第一水體結果進行腐蝕去除毛刺，并刪除小碎斑，進而執行矢量化并與所述遙感影像疊加套和，刪除和修改錯誤矢量，對漏提區域進行補充，得到第二水體分布結果，所述第二水體分布結果用于表征精確水域范圍；

計算所述精確水域范圍和所述遙感影像區域總面積，按照所述精確水域范圍與所述遙感影像區域總面積的比值確定所述目標監測區域的影像水面率。

7.一種高分影像水面率分析裝置，其特征在于，包括：

預處理模塊，用于響應于分析請求，獲取目標監測區域的高分遙感影像，對所述高分遙感影像執行預處理得到所述高分遙感影像的反射率數據，所述預處理通過預設參數對所述高分遙感影像進行校正；

提取模塊，用于通過所述反射率數據對所述高分影像進行提取，得到第一水體分布結果；

影像陰影模塊，用于通過數據集對所述目標監測區域進行提取，得到基于所述數據集標準的提取結果，根據所述第一水體分布結果和所述提取結果確定影像陰影；

精確水域模塊，用于根據第一水體分布結果與所述影像陰影確定第二水體分布結果；

影像水面率模塊，用于通過所述第二水體分布結果確定所述目標監測區域的影像水面率。