[發明專利]干式套管的檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質在審
| 申請號: | 202210530712.9 | 申請日: | 2022-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN115015383A | 公開(公告)日: | 2022-09-06 |
| 發明(設計)人: | 張晉寅;韋曉星;劉青松;鄧然 | 申請(專利權)人: | 中國南方電網有限責任公司超高壓輸電公司檢修試驗中心 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04;G01N29/14;G01N23/046 |
| 代理公司: | 華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 魏宇星 |
| 地址: | 510700 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 套管 檢測 方法 裝置 計算機 設備 存儲 介質 | ||
1.一種干式套管的檢測方法,其特征在于,所述方法包括:
對多個待檢測干式套管試樣進行超聲掃描測試,確定第一掃描結果;所述第一掃描結果用于表示所述多個待檢測干式套管試樣中每個試樣是否存在損傷;
根據所述第一掃描結果,確定目標試樣和所述目標試樣的損傷區域;所述目標試樣為所述多個待檢測干式套管試樣中存在損傷的試樣;
對所述損傷區域的斷層處進行X射線掃描測試,得到第二掃描結果;所述第二掃描結果用于表示所述目標試樣的損傷情況。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
對所述目標試樣進行分級保載試驗,并在每個分級保載試驗階段對所述目標試樣進行聲發射測試,得到第一試驗結果;
根據所述第二掃描結果和所述第一試驗結果,確定所述目標試樣的損傷等級。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一試驗結果是利用累積能量隨時間變化趨勢的曲線表示的;所述曲線的斜率與所述損傷等級正相關。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述第二掃描結果為二維灰度圖像;所述根據所述第二掃描結果和所述第一試驗結果,確定所述目標試樣的損傷等級,包括:
將所述第二掃描結果進行三維重建處理,得到所述第二掃描結果的三維圖像;
根據所述第二掃描結果的三維圖像中呈現的裂紋情況和所述第一試驗結果,確定所述損傷等級;所述裂紋情況與所述損傷等級正相關。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述累積能量隨時間變化趨勢的曲線是利用分段低次插值多項式對累積能量和時間進行線性擬合得到的。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述將所述第二掃描結果進行三維重建處理,得到所述第二掃描結果的三維圖像,包括:
對所述二維灰度圖像進行預處理,得到處理后的所述二維灰度圖像;
對所述處理后的二維灰度圖像進行所述三維重建處理,得到所述三維圖像。
7.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述分級保載試驗的負荷梯度是根據最大破壞負荷得到的,所述最大破壞負荷是通過對所述多個待檢測干式套管試樣中非目標試樣中的任意一個試樣進行拉伸測試得到的。
8.一種干式套管的檢測裝置,其特征在于,所述裝置包括:
第一測試模塊,用于對多個待檢測干式套管試樣進行超聲掃描測試,確定第一掃描結果;所述第一掃描結果用于表示所述多個待檢測干式套管試樣中的每個試樣是否存在損傷;
處理模塊,用于根據所述第一掃描結果,確定目標試樣和所述目標試樣的損傷區域;所述目標試樣為所述多個待檢測干式套管試樣中存在損傷的試樣;
第二測試模塊,用于對所述損傷區域的斷層處進行X射線掃描測試,得到第二掃描結果;所述第二掃描結果用于表示所述目標干式套管的損傷情況。
9.一種計算機設備,包括存儲器和處理器,所述存儲器存儲有計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。
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